OPTIPROTM系列：高精度反射型测量仪

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功能 WI\jm&H r  
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1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 9Je+|+s]  
2.可测量薄膜的厚度和折射率 ">x"BP  
3.多个响应时间和图像残留分析的选项 W:V.
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应用 `!lQd}W  
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LCD，光学薄膜，配向膜，玻璃，超薄膜等等 )UN_,'H/V  
用于液晶显示和材料的测量系统 +!eh\.u|]  
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 UB3hC`N\  
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 )2: ,E  
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 HA]5:ck  
 LC单元 p%ZAVd*|#V  
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 KSxZ
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O 预倾斜，单元间隔和LC单元的旋转 v9XevLs  
LC单元参数的高精度测量，包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 /f]'_t0\.  
VA模式的LC单元 BT*{&'\/  
预倾斜角 3σ：＜0.01° m)e~HP7M  
单元间隔 3σ：＜0.01μm uQO\vRh0  
※精度与样品条件有关 CC|=$(PgT  
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O IPS的旋转角 0i~?^sT'  
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O LCOS的预倾斜和单元间隔 JGQ)/(  
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O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔 ~%QI#s?|  
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还有，选项功能（Optional Function）、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。 @|d+T"f  
V-T曲线，响应时间，图像残留等等 sjG@4Or  
 光学薄膜 ASULg{  
相位差膜，补偿膜 sPRo=LB  
相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟（R0），光轴，Rth和折射率（nx，ny，nz）。 j71RlS73  
当R0值相对于光轴和级次很大时（大于10000nm），很方便查找特殊值。 ,Y`TP4Ip  
偏振片，圆偏振片 }$@EpM  
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。 67]!xy  
 玻璃，配向层：低相位差材料 e~PAi8B5  
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。 kS
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 超薄薄膜 ,nSapmg  
超薄薄膜功能支持测量厚度，折射率和椭偏参数。 PYr'1D'  
 光学特性评价 j6#Vwcr  
在OPTIPRO软件中有许多分析选项，包括透光率，反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节（400~700nm），方位角（0~70°），入射角（-180°~180°）。 1R"Z+tNB  
利用仿真软件进行更高级的分析 I\Pw`  
利用光学仿真软件“LCD Master”，OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。 |Pq z0n=v  
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。 xbD]EC  
在仿真方面，丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据，在测量方面，通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。 l\HtP7]  
OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据，因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。 H-t"Z}  
利用脚本函数自动测量和优化 ,$bK)|pGV  
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。 "GB493=v  
它可以设置波长，测量位置（X,Y），入射角和方位角。 Y{OnW98  
输出结果可以用于下一个测量。 5v"Sv  
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。 ~RRS{\,  
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的，所以你可以专注于研究和开发。 mO&zE;/[  
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硬件选择 %s ">:  
 信号发生器：外加电压进行采样（最大两个通道） !NTt'4/F{  
 精密空调控制单元：机器温度控制 !xE@r,'oN  
 加热阶段：加热目标样品 |[X-i["y  
 高精度透射/反射率：提升透射率和反射率测量 h~s h!W8  
 自动调节功能：在反射测量中，这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果，避免了人为误差。 }xpo@(e  
主要技术参数 Mi047-% (  
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。 ='Yg^:n  
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问，请与我们联系。 H0-v^H>^  
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讯技光电科技（上海）有限公司 WT jy"p*  
www.infotek.com.cn 1"~$(@oxG