OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪

发布:piaodongdewo 2014-07-16 10:10 阅读:1568
Ub_!~tb}?  
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功能 ooW;s<6  
uz%<K(:Ov  
1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 N ">4I)  
2.可测量薄膜的厚度和折射率 m:  
3.多个响应时间和图像残留分析的选项 do$+ Eh  
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应用 & uMx*TTY  
$t{;- DpNB  
LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等 PDi]zp9>H  
用于液晶显示和材料的测量系统 bCbpJZ  
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 W7PL]5y&  
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 .4&pi  
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 YooP HeQ  
 LC单元 g;n6hXq4  
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 7XU$O$C  
O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转 Am @o}EC  
LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 dvX[,*wz  
VA模式的LC单元 tP0\;W  
预倾斜角 3σ:<0.01° cKM#0dq  
单元间隔 3σ:<0.01μm SE7mn6,%\  
※精度与样品条件有关 P]mJ01@'  
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O IPS的旋转角 |T)  $E  
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u"s@eN  
O LCOS的预倾斜和单元间隔 JLn)U4>z w  
GVK c4HGt  
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O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔 x=VLTH/oo  
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还有,选项功能(Optional Function)、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。 h7a/]~  
V-T曲线,响应时间,图像残留等等 F>lM[Lu#  
 光学薄膜 kuI$VC  
相位差膜,补偿膜 gCL?{oVU  
相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟(R0),光轴,Rth和折射率(nx,ny,nz)。 D_)N!,i  
当R0值相对于光轴和级次很大时(大于10000nm),很方便查找特殊值。 7zcmv"`  
偏振片,圆偏振片 l&Cy K#B:\  
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。 %+ : $uk[  
 玻璃,配向层:低相位差材料 9~5LKg7Ac  
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。 {\u6Cjx  
 超薄薄膜 O/b1^ Y   
超薄薄膜功能支持测量厚度,折射率和椭偏参数。 nIEIb.-  
 光学特性评价 K 3.z>.F'h  
在OPTIPRO软件中有许多分析选项,包括透光率,反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节(400~700nm),方位角(0~70°),入射角(-180°~180°)。 <Eu/f`8  
利用仿真软件进行更高级的分析 l0K_29^  
利用光学仿真软件“LCD Master”,OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。 ZuNUha&a  
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。 *bl|[(pP  
在仿真方面,丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据,在测量方面,通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。 ,~G:>q$ad  
OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据,因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。 K +l-A>Ic  
利用脚本函数自动测量和优化 &ev#C%Nu  
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。 :2*0Jh3_  
它可以设置波长,测量位置(X,Y),入射角和方位角。 !%/2^  
输出结果可以用于下一个测量。 #B6$ r/%  
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。 a^eR~efdu@  
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的,所以你可以专注于研究和开发。 Uo0[ZsFD  
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硬件选择 kk$D:UQX  
 信号发生器:外加电压进行采样(最大两个通道) qoAJcr2uN  
 精密空调控制单元:机器温度控制 4K0Fc^-  
 加热阶段:加热目标样品 UWW'[gEP1  
 高精度透射/反射率:提升透射率和反射率测量 -?L3"rxAP  
 自动调节功能:在反射测量中,这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果,避免了人为误差。 R@ MXwP  
主要技术参数 sB=s .`9  
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。 r"W<1H u  
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问,请与我们联系。 YDaGr6y4i  
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讯技光电科技(上海)有限公司 50^CILKo7  
www.infotek.com.cn 7,3 g{8  
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