OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪![]() 功能 1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 2.可测量薄膜的厚度和折射率 3.多个响应时间和图像残留分析的选项 应用 LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等 用于液晶显示和材料的测量系统 这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 LC单元 LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转 LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 VA模式的LC单元 预倾斜角 3σ:<0.01° 单元间隔 3σ:<0.01μm ※精度与样品条件有关 ![]() |