OPTIPROTM系列：高精度反射型测量仪

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功能 #-b0U[,.  
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1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 T=6fZ;7  
2.可测量薄膜的厚度和折射率 W`HO Q  
3.多个响应时间和图像残留分析的选项 +X
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应用 4 [2^#t[  
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LCD，光学薄膜，配向膜，玻璃，超薄膜等等 h/u>F$}c  
用于液晶显示和材料的测量系统 `NIc*B4q.  
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 VJ1(|v{D4[  
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 ,MkldCV  
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 ATq)8Rm\  
 LC单元 >iefEv\  
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 .kO!8Q-;%  
O 预倾斜，单元间隔和LC单元的旋转 kkfwICBI  
LC单元参数的高精度测量，包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 Z|&Y1k-h  
VA模式的LC单元 /">A3bq  
预倾斜角 3σ：＜0.01° )Ih'0>=  
单元间隔 3σ：＜0.01μm FwU*]wx|{  
※精度与样品条件有关 72oiO[>N'  
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O IPS的旋转角 HF@K$RPK  
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O LCOS的预倾斜和单元间隔 JN;92|x  
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O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔 }2qmL$  
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还有，选项功能（Optional Function）、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。 4}nsW}jCc  
V-T曲线，响应时间，图像残留等等 B-63IN  
 光学薄膜 ~_vzss3-C  
相位差膜，补偿膜 qta^i819  
相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟（R0），光轴，Rth和折射率（nx，ny，nz）。 Q8:`;W  
当R0值相对于光轴和级次很大时（大于10000nm），很方便查找特殊值。 b?&=gm%oU  
偏振片，圆偏振片 U'IJwGRP  
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。 q7id?F}3&  
 玻璃，配向层：低相位差材料 EA )28]Y.  
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。 ,BuN]9#  
 超薄薄膜 bJ8~/
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超薄薄膜功能支持测量厚度，折射率和椭偏参数。 [kc%+j<g  
 光学特性评价 J7.}2  
在OPTIPRO软件中有许多分析选项，包括透光率，反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节（400~700nm），方位角（0~70°），入射角（-180°~180°）。 MZ_+do
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利用仿真软件进行更高级的分析 F_Q,j]0  
利用光学仿真软件“LCD Master”，OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。 F12tOSfu*  
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。 qK ,mG{  
在仿真方面，丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据，在测量方面，通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。 (`0dO8  
OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据，因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。 7Gb(&'n  
利用脚本函数自动测量和优化 oYWcX9R  
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。 C9oF*{  
它可以设置波长，测量位置（X,Y），入射角和方位角。 Kgi| 7w  
输出结果可以用于下一个测量。 i?^Cc\gH  
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。 U'iL|JRF  
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的，所以你可以专注于研究和开发。 o!Vs{RRu
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硬件选择
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 信号发生器：外加电压进行采样（最大两个通道） -e_+x'uF  
 精密空调控制单元：机器温度控制 x~."P*5  
 加热阶段：加热目标样品 ns.[PJ"8  
 高精度透射/反射率：提升透射率和反射率测量 1k@k2rE  
 自动调节功能：在反射测量中，这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果，避免了人为误差。 )r O`K  
主要技术参数 )N QtjB$  
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。 mfu>j,7l  
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问，请与我们联系。 M%7H-^{  

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