粗糙度测量仪P3

发布:universalpei 2014-05-20 14:35 阅读:1550
产品简介: )09>#!*  
P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,符合国际标准ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品,不收材料形状及颜色的限制。 UZvF5Hoe+O  
产品特性: N(c`h  
1.    测量具有非破坏性:采用白光共聚焦技术,可获得纳米级分辨率 S*PcK>  
2.    测量范围大:15mm×15mm,无需进行图像拼接 5! -+5TJI  
3.    可测样品的最大坡度:87oC "}*5'e.*  
4.    测量范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 [L(qrAQ2|z  
5.    不受环境光的影响 %'o'Kh''=  
6.    不受样品反射率与形状的影响 ~xPU#m<  
7.    操作简单:样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 &;3iHY;  
主要技术参数 fj"1TtPq#  
1,扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm) W2>VgMR [  
2, 扫描步长:1×1,2×2,5×5(μm) _"l2UDx  
3, Z方向测量范围:300μm l;7T.2J'Z  
4, Z方向测量分辨率:8nm Y[sBVz'j5  
5, Z方向测量精度:60nm vd{ban9  
6,横向光学分辨率:2.6μm !1m7^3l7j  
产品应用: 10}< n_I  
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发 ]Xm+-{5?!R  
8f`r!/j  
联系人:刘蕊             联系方式:010-53203403       s$g3__|Y  
       13933947304 ^ruz-N^Y!  
15652958313 &s^t~>Gpr  
网址:www.mnt-china.cn     微纳(香港)科技有限公司
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