Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         R6+)&:Ab{R  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 ~KBa-i%o  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 oP&/>GmXL  
特点： sdFHr4  
高分辨率（400*300） Joow{75K  
消色差功能 mci> MEb  
测量可重复性高 RY , <*  
对振动不敏感 XB)D".\  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 ar3L|MN  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） 2c `
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

QJ|@Y(KV0   型号	f9.?+.^_   采样数	C8U3+ s   感光尺寸（mm²）	aZFpt/.d   精度/动态范围	d54iZ`   光谱范围	3Z!%td5n   采样速率
uzYB`H<   SID4	<LHhs<M'   120×160	&N~Eu-@b   3.6×4.8	Ez3fL&*   10nm RMS/100μm	cS ~OxAS   350-1100nm	$R9D L^iD   60fps
SyWZOE%p   SID4UV-HR	WR;1   250×250	!nvwRQ   8.0×8.0	+jm,nM9   10nm RMS/200μm	B `(jTL   190-400nm	3SVGx<,2   30fps
XkaREE   SID4 NIR	pSs*Z6c)@   120×160	]G/m,Zv*:   3.6×4.8	C/kf?:j   15nm RMS/100μm	M(%H   1500-1600nm	=rjU=3!&(   60fps
#N|\7(#~u   SID4-HR	Hfcpqa   300×400	RRL{a6(?   8.9×11.8	d:=' Xs   10nm RMS/500μm	rB>ge]$.   400-1100nm	}w0pi   10fps
lx)^ wAO4   SID4 DWIR	vObZ|>.J~O   72×96	MpV<E0CmE   10.08×13.44	LEb$Fd   75nm RMS	YQBLbtn6(   3-5μm&8-14μm	,81%8r   50fps
djd/QA fSC   SID4 BIO	J'44j;5&   300×400	fvu{(Tb   8.9×11.8	=sJ?]U   500μm	;%e&6   350-1100nm	&g`&#IRz   10Hz