Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         $Tur"_`I;  
*(scSC>  
@iP6N  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 5,c`  
xqtjtH9X  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 IB6]Wj  
特点： |K_B{v.  
高分辨率（400*300） /r%+hS  
消色差功能 \O:xw-eG   
测量可重复性高 )g --=w3  
对振动不敏感 >eTlew<5  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 !qpu /  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） 1%@~J\qF  
)mPlB.  
参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

Ww(_EW   型号	lewDR"0Kx   采样数	=z3jFaZ   感光尺寸（mm²）	_)l %-*Z7p   精度/动态范围	6-=_i)kzq   光谱范围	EC~t'v   采样速率
l17ZNDzLU   SID4	qc6IH9i`   120×160	V3oAZ34)   3.6×4.8	\$C4H   10nm RMS/100μm	oSl>%}   350-1100nm	eFio,   60fps
+mA=%?l   SID4UV-HR	5G<CDgl^!   250×250	rxK0<pWJhx   8.0×8.0	K 8J2eV\   10nm RMS/200μm	88>Uu!M=f   190-400nm	&XsLp&Do2   30fps
QVW6S Y   SID4 NIR	j1F+,    120×160	%jxuH+L    3.6×4.8	+*J4q5;E[?   15nm RMS/100μm	"AouiZkh   1500-1600nm	M: "ci;*$   60fps
%d0S-.   SID4-HR	w4'K2 7   300×400	V@S/!h+   8.9×11.8	k^pu1g=6I   10nm RMS/500μm	f4S@lyYF   400-1100nm	{_Qxe1^g   10fps
hPxI& :N   SID4 DWIR	*$(CiyF!   72×96	1[l>D1F?   10.08×13.44	-YV4  O   75nm RMS	=BS'oBn^6   3-5μm&8-14μm	<S$21NtM87   50fps
winJ@IYW   SID4 BIO	zt2-w/[Q   300×400	A{2$hKqHi   8.9×11.8	RuNH (>Eb   500μm	r$FM8$cJ   350-1100nm	t4@g;U?o   10Hz