Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         A3{0q>CC  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 {9 PR()_  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 N_DT7  
特点： <J{'o`{  
高分辨率（400*300） (@sp/:`6  
消色差功能 5VE2@Fn}  
测量可重复性高 5#2F1NX  
对振动不敏感 6Bt=^~d  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 |$+5@+Zz  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） xWX*tJ4  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

,/,9j{|"j   型号	buMqF-j   采样数	_GoVx=t    感光尺寸（mm²）	.tXtcf/   精度/动态范围	kQv*eZ~   光谱范围	\\4Eh2 Y   采样速率
C>QIrZu    SID4	&KC!*}<tx   120×160	NPjv)TN}3   3.6×4.8	t+TYb#Tc   10nm RMS/100μm	my.`k'   350-1100nm	slW3qRT\k   60fps
>G"X J<IO   SID4UV-HR	qE7R4>5xjO   250×250	q/&y*)&'O   8.0×8.0	\f Lvw   10nm RMS/200μm	Q<"[C 1Lj   190-400nm	B]iP't\~   30fps
p@Q5b}xCG_   SID4 NIR	G*}F5.>8(   120×160	1s7^uA$}6   3.6×4.8	IB5BO7J   15nm RMS/100μm	9.+/~$Ht   1500-1600nm	?.bnIwQe   60fps
[`_io>*g   SID4-HR	n(;:*<Rh   300×400	+a +`Z>   8.9×11.8	y2yKm1<Ru<   10nm RMS/500μm	H{G{H=K_   400-1100nm	_}Ps(_5D   10fps
lE#m]D   SID4 DWIR	,"?A2n-qO   72×96	nB Lj [   10.08×13.44	Q9?t[ir   75nm RMS	4dh+   3-5μm&8-14μm	w!3>N"em   50fps
~,gXaw   SID4 BIO	0tz:Wd*<   300×400	g"8 .}1)~r   8.9×11.8	{pa dD p   500μm	fnu"*5bE   350-1100nm	f@V3\Z/6E   10Hz