Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         '494^1"io  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 8uetv  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 lMXLd91  
特点： e= _7Q.cn  
高分辨率（400*300） JB!KOzw  
消色差功能 M0RVEhX  
测量可重复性高 v;R+{K87  
对振动不敏感 p{rzP,Pb&  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 8d\/  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） x*F_XE1#M  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

+0n,>eDjg^   型号	'\B!1B>T   采样数	bRc~e@   感光尺寸（mm²）	>zcp(M98   精度/动态范围	yvKKE   光谱范围	CLY>M`%?+p   采样速率
ltG|#(   SID4	@)Sd3xw[   120×160	zB)wYKwZ   3.6×4.8	}kb6;4>c   10nm RMS/100μm	JztSP?   350-1100nm	)m$i``*<   60fps
v@]\ P<E   SID4UV-HR	iJ~e8l0CA   250×250	uF\f>E)/N%   8.0×8.0	;!/g`*?   10nm RMS/200μm	{DGnh1   190-400nm	WEugm603   30fps
9TOq A4   SID4 NIR	-VRKQNT   120×160	WEB enGQ   3.6×4.8	V'] 1j   15nm RMS/100μm	cP(is!   1500-1600nm	4>I;^LHn   60fps
^>!~%Vv7!   SID4-HR	eWAgYe2   300×400	bjGQ04da   8.9×11.8	nL-kBW Ed>   10nm RMS/500μm	W&Gt^5   400-1100nm	dRnO5 7+{   10fps
\jThbCb   SID4 DWIR	BvV!?DY4   72×96	!3Me 6&$O   10.08×13.44	TP&&' 4?D1   75nm RMS	`?xE-S ;Pn   3-5μm&8-14μm	O_/|Wx   50fps
cu$i8$?t   SID4 BIO	`z!? !"=   300×400	9q f=P3   8.9×11.8	LuW^Ga"E   500μm	lC(g&(\{   350-1100nm	K yFR;.F-   10Hz