Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         vuOixAkw  
!D_Qat  
Do3g^RD#  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 TxN'[G  
~; emUU  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 RbY=OOQ  
特点： 8w:A""  
高分辨率（400*300） exnFy-  
消色差功能 EEU)eltI
 
测量可重复性高 P{'T9U|O-  
对振动不敏感 ~ PO)>;  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 *G<K@k  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） ~BSIp .  
~.FZF  
参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

y" (-O%Pe   型号	@-7h}2P Q   采样数	&at^~o   感光尺寸（mm²）	%LH~Im=   精度/动态范围	ZW6ZO[`6   光谱范围	:#?Z)oQpT   采样速率
VdVUYp   SID4	W!R}eLf@   120×160	J`&*r;""V   3.6×4.8	e~NEyS~3   10nm RMS/100μm	O,&nCxB]   350-1100nm	|Sne\N>%   60fps
Z|8oD*,   SID4UV-HR	aCq ) hR   250×250	<3[,bTIk   8.0×8.0	?!h jI;_&   10nm RMS/200μm	K>"]*#aBv   190-400nm	WSt&?+Y   30fps
u~WE}VC   SID4 NIR	hzT,0<nw   120×160	Znv3h   3.6×4.8	r+4<Lon~   15nm RMS/100μm	G(g.~|=EZ   1500-1600nm	8"fZ>XQ   60fps
QoGvjf3z   SID4-HR	s/;iZiWK   300×400	jp~C''Sj   8.9×11.8	r#%e$   10nm RMS/500μm	p~n62(   400-1100nm	Kzj9!'0R   10fps
)L)jv Cw,e   SID4 DWIR	{Qe7/ln!   72×96	-3z$~ {   10.08×13.44	pj~Ao+   75nm RMS	cc*xHv^   3-5μm&8-14μm	J%Cn   50fps
`t@Rh~B   SID4 BIO	F %Xj'=   300×400	R\^n2gK   8.9×11.8	p\"WX   500μm	Sk~( t   350-1100nm	$.7Ov|   10Hz