Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         14TA( v]T  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 % AqUVt9}  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 +NGjDa  
特点： Nz`4q%+  
高分辨率（400*300） d,}fp)  
消色差功能 B4
^+&B#  
测量可重复性高 0be1aY;m&  
对振动不敏感 )clSW  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 l[=7<F  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） iB[>uW  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

l4+!H\2   型号	(are2!Oq   采样数	w9I7pIIl   感光尺寸（mm²）	k=,,s(]tx   精度/动态范围	W=T3spV   光谱范围	l6Hu(.Ls;j   采样速率
8$O=HE*   SID4	H=E`4E#k   120×160	yjZ]_.   3.6×4.8	?bc-?<Xk   10nm RMS/100μm	Fw!wSzsk3   350-1100nm	$:M*$r^u   60fps
-"qw5Y_oF?   SID4UV-HR	J+f .r|?   250×250	t0_o.S   8.0×8.0	t3ua5xw   10nm RMS/200μm	fj X~"U   190-400nm	c|<*w[%C   30fps
(4_7ICFI   SID4 NIR	-x~h.s,   120×160	>r%L=22+   3.6×4.8	&V7@ TZ   15nm RMS/100μm	QjH;'OVt   1500-1600nm	70NQ9*AAy   60fps
r\7F}ZW/   SID4-HR	\\F^uM7,   300×400	c"BFkw   8.9×11.8	3V:{_~~   10nm RMS/500μm	~_WsjD0O   400-1100nm	GOJ*>GpS   10fps
[r'P Gx   SID4 DWIR	sg"J00   72×96	x2 p}0N   10.08×13.44	nU]n]gd   75nm RMS	O+I\Q?   3-5μm&8-14μm	CJB    50fps
9"m OjL   SID4 BIO	Z;kRQ   300×400	oTOr,Mn0\6   8.9×11.8	5wM*(H^c[   500μm	ySP1,xq   350-1100nm	aty"6~   10Hz