Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         gzn:]Y^  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 O39   
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 s
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特点： LAo$AiTUR{  
高分辨率（400*300） R`E:`t4G  
消色差功能 8<mloM-4  
测量可重复性高 }e/vKWfT  
对振动不敏感 7)5G 1  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 K-)!d$$   
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） :$k1I-^R  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

A[^#8evaK   型号	wK7w[Xt   采样数	XHj%U   感光尺寸（mm²）	s>I]_W)Pt   精度/动态范围	0C> _aj   光谱范围	U5wh( vi   采样速率
[j5+PV   SID4	}4!}vkVx   120×160	xvl {o   3.6×4.8	u" V,/1++\   10nm RMS/100μm	/;+\6(+X   350-1100nm	l0`bseN<   60fps
6E K<9M   SID4UV-HR	`|>]P"9yp   250×250	WZn;u3,R   8.0×8.0	8y<.yfgG   10nm RMS/200μm	]xMZo){[|   190-400nm	) mf|3/o   30fps
2 G2+oS ?   SID4 NIR	2wB*c9~   120×160	nRB3VsL   3.6×4.8	89^g$ ac   15nm RMS/100μm	Qs za,09   1500-1600nm	?!U.o1   60fps
O50<h O]l   SID4-HR	k<Gmb~Tg1   300×400	%q3`k#?<   8.9×11.8	6`Y:f[VB   10nm RMS/500μm	zJW2F_   400-1100nm	.U=x2txb   10fps
"5<!    SID4 DWIR	r>ed/<_>m;   72×96	bAH<h    10.08×13.44	0C%IdV%CU   75nm RMS	5NUaXQ   3-5μm&8-14μm	y3b"'-%   50fps
*(1<J2j   SID4 BIO	J/K~8sc   300×400	qQ^CSn98J   8.9×11.8	!;(Wm6~*ad   500μm	rf|Nu3AJ   350-1100nm	^gx~{9`RR   10Hz