Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         6'qu[~}Q  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 = `oGH  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 6;#Rd|  
特点： B dKD%CJ[  
高分辨率（400*300） m!_*Q  
消色差功能 x0$#8  
测量可重复性高 R>dd#`r"  
对振动不敏感 `u#N  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 o6A1;e  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） QV9z81[  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

q-TDg0   型号	gMUCVKGf   采样数	E 9v<VoNP`   感光尺寸（mm&sup2;）	zt/N)5\V   精度/动态范围	x5 ?>y{6D   光谱范围	D=:O^<   采样速率
NH0uK   SID4	5;q{9wvqO   120×160	Rxk0^d:sNi   3.6×4.8	g~]?6;uu   10nm RMS/100μm	> ,;<Bz|X   350-1100nm	H/N4tWk"   60fps
^]ig*oS\`   SID4UV-HR	pT'jX^BU   250×250	-mY,nMDb   8.0×8.0	@tg4rl   10nm RMS/200μm	`$i/f(t6`   190-400nm	sX,S]:X   30fps
_FtsO<p)"   SID4 NIR	>m#bj^F\   120×160	*5d6Q    3.6×4.8	ky=h7#wdv-   15nm RMS/100μm	eH^~r{{R   1500-1600nm	M}x]\#MMY   60fps
VQ l(5\6O   SID4-HR	olca Z   300×400	rWNywxnT   8.9×11.8	SmVL?wf   10nm RMS/500μm	XN}^:j_2   400-1100nm	ki'CW4x   10fps
4rrR;V"}   SID4 DWIR	]3]=RuQK2   72×96	Zgt(zh_l   10.08×13.44	%3@-. =   75nm RMS	{pk]p~   3-5μm&8-14μm	e"&QQ-q   50fps
E_T!|Q.   SID4 BIO	1 "UHe*2   300×400	5[Uv%A?H#_   8.9×11.8	yoG*c%3V?   500μm	B V=~!tsl   350-1100nm	'b:e8m   10Hz