Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         jb~W(8cj  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 sl5y1W/]]  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 X
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特点： RFsd/K;Zp  
高分辨率（400*300） n;Nr[hI  
消色差功能 4t C-msTf  
测量可重复性高 %i!=.7o.  
对振动不敏感 2#srecIz-!  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 +*I'!)T^B  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） n]G_# ;  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

u~uR:E%'C   型号	d9j+==S <   采样数	pCB^\M%*   感光尺寸（mm&sup2;）	1 #zIAN>   精度/动态范围	$0kuR!U.N   光谱范围	"7> o"FQ   采样速率
}NH\Q$IU   SID4	k$ya.b<X/   120×160	P#0U[`ltK   3.6×4.8	Z+gG.|"k   10nm RMS/100μm	nV[0O8p2Md   350-1100nm	"e3T; M+   60fps
;^[VqFpeS   SID4UV-HR	#5Q?Q~E@   250×250	P"Scs$NOU?   8.0×8.0	&Zzd6[G+   10nm RMS/200μm	&J]|pf3m   190-400nm	Mk3~%`   30fps
QbN7sg~~   SID4 NIR	lmsO 6=I4F   120×160	?(t{VdZSzQ   3.6×4.8	\!*3bR   15nm RMS/100μm	s(0S)l<   1500-1600nm	7EfLd+    60fps
HsF8$C$z   SID4-HR	(plsL    300×400	vp[;rDsIJ$   8.9×11.8	`<?{%ja   10nm RMS/500μm	*X_-8 ^~   400-1100nm	71RG1,   10fps
(Yv)%2   SID4 DWIR	Gz_[|,i   72×96	@nh*H{   10.08×13.44	i[+cNJ|$B0   75nm RMS	fwN'5ep   3-5μm&8-14μm	>qqI6@h]c   50fps
rfz\DvVd   SID4 BIO	1"hd5a   300×400	}k{h^!fV   8.9×11.8	RaT_5PH~g   500μm	,/bSa/x`   350-1100nm	zXEu3h   10Hz