Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         $ph0ag+  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 0Injyc*bMF  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 8>UKIdp  
特点： M@|w[ydQG  
高分辨率（400*300） HWqLcQ d:P  
消色差功能 izCaB~{/  
测量可重复性高 '_B_&is  
对振动不敏感 L@w0N)P<!{  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 l8z%\p5cR  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） 6Wj@r!u  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

(NX)oP   型号	cV-i*L4X   采样数	Oqpp=7   感光尺寸（mm²）	>DL/..   精度/动态范围	81Z4>F:   光谱范围	U.: sK*   采样速率
Bwjg#1E   SID4	osl=[pm   120×160	0pD W _   3.6×4.8	)8;{nqoC   10nm RMS/100μm	/Zc#j^_   350-1100nm	|U#DUqw   60fps
R1}IeeZO?&   SID4UV-HR	!g8*r"[UJ   250×250	=f>HiF   8.0×8.0	@7-=zt+f   10nm RMS/200μm	$,TGP+vH   190-400nm	q69H^E=   30fps
?cJY B)   SID4 NIR	Q:mZ" i5   120×160	1!!\+ c2*   3.6×4.8	34SA ~5   15nm RMS/100μm	j" )FaIM   1500-1600nm	dLZjB(0eO   60fps
"%VbI P   SID4-HR	c<?[d!vI   300×400	+@0TMK,P   8.9×11.8	d/S+(<g   10nm RMS/500μm	iNQ0p:<k   400-1100nm	W2`.RF^   10fps
{7qA&c=   SID4 DWIR	=L" ^.c@   72×96	SET-8f   10.08×13.44	: j@8L.<U   75nm RMS	-ui<E?v   3-5μm&8-14μm	[(|^O>k8c   50fps
3[r";Wt#   SID4 BIO	ACb/ITu   300×400	7:TO\0]2n   8.9×11.8	FI8k;4|V   500μm	3y ryeS   350-1100nm	zie=2   10Hz