Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         Yv"B-oy  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 _gl1Qtv@rf  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 V&lx0Dy  
特点： GP`sOPr  
高分辨率（400*300） ZRFHs>0  
消色差功能 ]Z*B17//  
测量可重复性高 "Sw raq  
对振动不敏感 /!*=*  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 x,GLGGi}_x  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） 7~L_>7;  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

8,&Y\b`..   型号	.(yJ+NU   采样数	akWOE}5#   感光尺寸（mm²）	NT9|``^Z   精度/动态范围	 VWqZ`X   光谱范围	8K&=]:(   采样速率
XS.*CB_m_   SID4	KD--w(4   120×160	zqp>Xw   3.6×4.8	y-"QY[   10nm RMS/100μm	,MG`}*N}   350-1100nm	r5NH*\Q   60fps
t8*NldC   SID4UV-HR	x1}Ono3"T   250×250	v'r)d-T    8.0×8.0	6wZ)GLW[   10nm RMS/200μm	X<g }F[Y   190-400nm	aF>&X-2   30fps
;{v2s;   SID4 NIR	/+m2|Ij(   120×160	0:B%,nUM   3.6×4.8	}eveNPB{5   15nm RMS/100μm	gq="&   1500-1600nm	e-b>   60fps
>qd=lm <,   SID4-HR	B|'}HBkP   300×400	>oC{YYcK   8.9×11.8	xT!<x({   10nm RMS/500μm	V~do6[(   400-1100nm	eDvh3Y<D   10fps
>B;KpO"+m   SID4 DWIR	1X9J[5|ll   72×96	UKPr[   10.08×13.44	n+nZ;GJ5d   75nm RMS	{.J<^V   3-5μm&8-14μm	3jHg9M23[^   50fps
'~1Zr uO   SID4 BIO	*eI{g   300×400	M4% 3a j   8.9×11.8	lr@ w1*   500μm	`g0^W/j   350-1100nm	6{yn;D4   10Hz