《现代
光学测试技术》既注重基础理论和实用性,又注意选择了领域内有重要应用价值的光学测试新技术,其中不少的内容是作者多年来的研究成果,因而使内容既拓展了知识面,又呼应了现代光学测试技术的发展趋势,保持了教材的先进性。《现代光学测试技术》可作为相关专业的研究生教材,也可供相关工程技术人员作为设计光学测试
系统的参考
资料。
H-UMsT=g] 9'4cqR Y+G4: 2+?M(=4 定价:¥58.00
xSLN 优惠价格:¥46.40 可以免费送货,货到付款!
\{~x<<qFd
vO&1F@ +5T0]! 目录
DsFrA] 前言
;CU3CLn 第一章现代光学测试技术综述
ke/o11LP 第一节研究领域及技术特征
!A<?nz
Uv 第二节现代光学测试技术的现状与应用
(nV/-#* 第三节光学测试方法的选取原则
dB1bf2'b# 第四节现代光学测试技术的发展趋势
'vCFT(C- 参考文献
M=!x0V ; 第二章光具座上的综合检测
0c`wJktWK 第一节测量中的对准技术与调焦技术
~i(*.Z)
\ 第二节光学测试装置的基本部件及其组合
dch(HB}[ 第三节
焦距和顶焦距的测量
i-/'F 参考文献
L:%h]- 第三章光学
材料测试
;>Kxl}+R 第一节光学
玻璃材料概述
f:BW{Cij;y 第二节光学玻璃折射率测量
lual'~ 第三节光学玻璃光学均匀性测量
,Ma$:6`f 第四节光学玻璃应力双折射测量
2j_L
jY'7 参考文献
-aec1+o 第四章基本的光干涉测量技术
,D#~%kq~ 第一节干涉条纹的分析判读及波面质量评价
_/PjeEm
$p 第二节几种典型的干涉仪
q|Ga
第三节波面错位干涉测量
7W 4[1 第四节干涉图分析与波面拟合
KWd]?e) 第五节波像差及其测量
,NVQ C= 参考文献
EW YpYMkm 第五章
光电相位测量技术
Pw+cpM8< 第一节相位的静态测试技术
t4 aa5@r 第二节相位的动态测试技术
,{]>U'- 参考文献
="XxS|Mq3 第六章平面元件测试技术
==Y^~ab;K 第一节平面元件基本量测量
rVZkG,Q 第二节平面光学元件面形偏差检测
&}*[-z 第三节平面光学元件光学平行度测量
PY) 74sa 参考文献
7@06x+! 第七章球面元件测试技术
<.:B .k 第一节球面曲率半径测量
jg 2>=} 第二节球面光学元件面形偏差检测
'{C=vW 参考文献
R|5w :+=z 第八章非球面测试技术
"|&SC0* 第一节非球面的基本知识
m}8c.OJ>K` 第二节非球面面形测试方法
/pV^w 参考文献
gl HHr 第九章干涉测长技术
0naegy?, 第一节高精度量块测量技术
C~kw{g+| 第二节
激光干涉测长
Pc1vf] 参考文献
,Y}HP3
第十章莫尔条纹技术
G;`+MgJ) 第一节莫尔条纹形成
原理 DQwbr\xy\ 第二节莫尔条纹测量技术
[{'` | 参考文献
-u8 ma%JW 第十一章
光学系统评价
"-\I?k 第一节光学系统成像质量评价方法概述
QL 第二节分辨率测试
0urQA_JC 第三节成像质量评价的星点检验法
`43E-'g 第四节光学传递函数
k`xPf\^tf 第五节干涉测量
\iO
,y: 参考文献