现代光学测试技术 第1版

《现代光学测试技术》既注重基础理论和实用性，又注意选择了领域内有重要应用价值的光学测试新技术，其中不少的内容是作者多年来的研究成果，因而使内容既拓展了知识面，又呼应了现代光学测试技术的发展趋势，保持了教材的先进性。《现代光学测试技术》可作为相关专业的研究生教材，也可供相关工程技术人员作为设计光学测试系统的参考资料。 Yjz'lWg  
U|odm58s  
j}YZl@dYV  
,-u | l  
定价：￥58.00 6suB!XF;  
优惠价格：￥46.40 可以免费送货，货到付款！ R`=IYnoOA  
GEP YSp  
D[{p~x^  
目录 |7WzTz  
前言 u&l2s&i  
第一章现代光学测试技术综述 ;@K,>$ur-  
第一节研究领域及技术特征 {y0
*cC  
第二节现代光学测试技术的现状与应用 #I9|>XE1  
第三节光学测试方法的选取原则 EVmQ"PKL'  
第四节现代光学测试技术的发展趋势 #FF5xe
 
参考文献 :0ND0A{K:  
第二章光具座上的综合检测 :j$K.3n  
第一节测量中的对准技术与调焦技术 FVLXq0<Cj  
第二节光学测试装置的基本部件及其组合 :7Mo0,Bw,  
第三节焦距和顶焦距的测量 g92M\5 x9  
参考文献 M0o=bYI  
第三章光学材料测试 Rf2/[  
第一节光学玻璃材料概述 `g%]z@'+?  
第二节光学玻璃折射率测量 _%l+v
  
第三节光学玻璃光学均匀性测量 E=gD{1,?  
第四节光学玻璃应力双折射测量 Sw#Ez-X  
参考文献 Wf_aEW&n  
第四章基本的光干涉测量技术 YU76(S9 0#  
第一节干涉条纹的分析判读及波面质量评价 xTD6?X'4  
第二节几种典型的干涉仪 YkPz ~;  
第三节波面错位干涉测量 S$%/9^\jF  
第四节干涉图分析与波面拟合 u]E%R&  
第五节波像差及其测量 G%ycAm  
参考文献 =pWpHbB.  
第五章光电相位测量技术 `]]gD EPG{  
第一节相位的静态测试技术 P,h@F+OZN  
第二节相位的动态测试技术 3]'=s>UO>^  
参考文献 ?>q=Nf^Q.  
第六章平面元件测试技术 8!>uC&bE8  
第一节平面元件基本量测量 2bX!-h  
第二节平面光学元件面形偏差检测 &m8B%9w  
第三节平面光学元件光学平行度测量 D]y6*Ha  
参考文献 _KmpC>J+  
第七章球面元件测试技术 ml=1R>#'  
第一节球面曲率半径测量 A#1aO  
第二节球面光学元件面形偏差检测 {z@vSQ=)=P  
参考文献 !QVd'e  
第八章非球面测试技术 ^1,]?F^  
第一节非球面的基本知识 dG7sY O@U  
第二节非球面面形测试方法 4)2*|w  
参考文献 *-+~H1tP  
第九章干涉测长技术 !::k\}DS  
第一节高精度量块测量技术 {KwLcSn  
第二节激光干涉测长 nS?HH6H  
参考文献 |BH, H  
第十章莫尔条纹技术 rA*,)I_v@  
第一节莫尔条纹形成原理 l0D.7>aj  
第二节莫尔条纹测量技术
F]yclXf('  
参考文献 4)Pt
]#Ti  
第十一章光学系统评价 .[cT3l/t  
第一节光学系统成像质量评价方法概述 2SG|]
=  
第二节分辨率测试 G&C)`};  
第三节成像质量评价的星点检验法 *B:{g>0  
第四节光学传递函数 qx0o,oZN!  
第五节干涉测量
N0 ?O*a  
参考文献