干涉量测技术应用与设备产品说明会_北京_免费

发布:infotek_tw 2005-08-12 16:34 阅读:10390
详情请点击http://www.infotek.com.cn/2004_even/20050822/20050822.html (s:ihpI  
主办单位 讯技光电科技(上海)有限公司 Uavr>-  
日期 2005年9月13日 13:00-17:00 共计4小时 7(ni_|$|  
地点 上海 E5^P*6c(  
+XaRwcLC.  
课程大纲 P}YtT3. K  
13:00~16:00 浅谈干涉条纹分析量测软件-Intelliwave及应用案例介绍(Raymond) Y]zy=8q  
16:00~16:10 中场休息 o'oA.'ul  
16:10~17:00 干涉仪介绍(光峰科技 刘信炷经理) :K:oH}4oh  
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讲师介绍 -?jI{].:8  
Raymond Castonguay 在1996年成立了Engineering Synthesis Design Inc这家公司 , 提供干涉量测方面的产品, 主要着重在光学、纤维光学和自动化产业。他拥有 15 年光学产业经验并拥有五个在散光技术上的专利奖项。Raymond Castonguay是 IntelliWave干涉测量分析软件的首要开发者,IntelliWave这套软件可与多种不同类型的干涉仪器搭配 . 他曾经服务于Breault Research Organization 担任研发项目经理 10年, 主要研究领域含括干涉量测、机器自动化和散光量测产品。Raymond Castonguay在亚利桑那大学光学科学中心取得航空工程学士学位,他受过的训练包括光学整合、电子学、机器自动化和软件控制。 (d> M/x?W  
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H@+1I?l  
刘信烓 kIC $ai6.  
光峰科技资深经理(2001-2003) 7P+qPcRaP  
光群雷射资深经理(1996-2001) J^!2F}:  
美国 CIMCOR 公司VP (1991-1996) ,M4G_U[  
美国纽约理工学院光电中心资深研究所员 (1985-1991) SG5GJCkc  
美国纽约卅立大学石溪分校?机硕博士(1979, 1985)  U(d K  
交通大学电子物理系学士 (1976) n! Dr:$  
主要研究: {D6p?TL+  
1. 光学干涉仪: Fizeau, Shearing I_/E0qSJI  
2. 非光学表面对象三度空间量测 fwkklg^  
Aof)WKo  
讯技光电电话021-54071828
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