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    [技术]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    光券
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 09-19
    摘要 8:cbr/F<  
     *zfgO pK  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 6( HF)z  
    6iC>CY3CG  
    建模任务 Ebg8qDE  
    GAGS-G#  
    +2uSMr  
    元件倾斜引起的干涉条纹 E-LkP;  
    !iXRt")  
    3f;=#|l  
    元件移位引起的干涉条纹 [B0 BHJ~  
    Z%T Ajm  
     
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