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摘要 D<lQoO+ @#'yPV1 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 VZAuUw+M cu)@P 0I 建模任务 .dy#n`eP F0X5dv [P (rY 元件倾斜引起的干涉条纹 L.R"~3 vsOdp:Yp9! \H},ouU 元件移位引起的干涉条纹 sDW"j\ z7D*z8,i
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