-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-10-22
- 在线时间1881小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 8?Z4-6!{V, CU7F5@+ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 BA=,7 y&;j $v8l0JA * 建模任务 JH7Ad (: 8UkKU_Uso StI1){Wf 元件倾斜引起的干涉条纹 Z@gnsPN^r mA7m LJ VG~Yeo 元件移位引起的干涉条纹 {_U
Kttp {iG@U=>
|