光学轮廓仪
美国NANOVEA公司的三维非接触式表面形貌仪 三维光学轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理(性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪)对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量,测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌,台阶高度,给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案 这款产品凭借其当今世界最前端的技术,迅速占领国内外市场, 产品特性: 1 采用白光轴向色像差技术,可获得纳米级的分辨率 2 测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高 3 测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…); 4 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 |