供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 I~n4}}9M  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 }jCO@v;  
主要性能指标及技术指标 t/Io.d   
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主信号通道： (_e[CqFu  
信号输入方式：单端交流输入 >JE+j=  
输入量程：0.5mV-500mV 9lYfII}4(  
信号频率范围:1KHz±5% H^n@9U;[K
 
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) h^=;
\ng1l  
性误差: ≤0.1% .S54:vs  
零点时源： ≤0.2%/h Hj{.{V  
参考信号通道： 0(-4"u>?  
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信号输入方式：单端交流输入 [oU\l+t  
输入幅度：20-700mV NuR7pjNMZ  
频率范围:≥320。 ~ q-Z-MA  

图片:膜厚控制仪111111.jpg