供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 S 9|^VU  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 Ml6}47n  
主要性能指标及技术指标 ;?C`Jagx  
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主信号通道： (-xVW#39  
信号输入方式：单端交流输入 d2fiPI7lg  
输入量程：0.5mV-500mV u)vS,dzu  
信号频率范围:1KHz±5% 08/Tk+  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) T?CQgVR  
性误差: ≤0.1% o1thGttVDg  
零点时源： ≤0.2%/h BmaY&?  
参考信号通道：  PZj}]d `  
;H9 W:_ahE  
信号输入方式：单端交流输入 = u&dU'@q  
输入幅度：20-700mV 4lI&y<F  
频率范围:≥320。 2V*;=cv~z  

图片:膜厚控制仪111111.jpg