供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 X4&{/;$  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 X(1nAeQ  
主要性能指标及技术指标  o)cd!,h  
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主信号通道： /]T#@>('  
信号输入方式：单端交流输入 ?b:J6(-  
输入量程：0.5mV-500mV ()K%Rn  
信号频率范围:1KHz±5% 1#Dpj.cO#  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) R*E/E  
性误差: ≤0.1% 4>{q("r,  
零点时源： ≤0.2%/h ;or(:Yoc-  
参考信号通道： ?)7uwJsH  
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信号输入方式：单端交流输入 18Pc4~>0  
输入幅度：20-700mV vyERt^z  
频率范围:≥320。 i=reJ(y-