供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 3&x_%R  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 ~w4aA<2Uq  
主要性能指标及技术指标 lEQn2+  
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主信号通道： Yx XDRb\kW  
信号输入方式：单端交流输入 mP3:Fc_G  
输入量程：0.5mV-500mV MEq ()}7P  
信号频率范围:1KHz±5% ^t9"!K  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) HYW+,ts'  
性误差: ≤0.1% %<I0-o  
零点时源： ≤0.2%/h .\*\bvyCw  
参考信号通道： 9Tjvc!4_b  
2 B5kpmH:  
信号输入方式：单端交流输入 _y5b>+  
输入幅度：20-700mV b>
I -4  
频率范围:≥320。 i"sVk8+o!  

图片:膜厚控制仪111111.jpg