供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 KFHn)+*"  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 %-?HC
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主要性能指标及技术指标 hKb-l`KO  
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主信号通道： msS5"Qr  
信号输入方式：单端交流输入 g"|QI=&_J  
输入量程：0.5mV-500mV KumbG>O  
信号频率范围:1KHz±5% :0ZFbIy  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) l)`bm/k]V  
性误差: ≤0.1% ZRO   
零点时源： ≤0.2%/h W0eb9g`s  
参考信号通道： ),5^bl/  
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信号输入方式：单端交流输入 Sf[ZGY)  
输入幅度：20-700mV LBT
{I)-K  
频率范围:≥320。 xuQ$67F`;z  

图片:膜厚控制仪111111.jpg