供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 X cr  =  
"Z Htr<+  
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 8Jf.ECQT  
主要性能指标及技术指标 [B@'kwD\l  
<q*oV  
主信号通道： De7Ts  
信号输入方式：单端交流输入 F+R?a+e  
输入量程：0.5mV-500mV _Zk{!  
信号频率范围:1KHz±5% 2M#M"LHo  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) glDcUCF3  
性误差: ≤0.1% lC:k7<0Ji  
零点时源： ≤0.2%/h Lbe\@S  
参考信号通道： &'cL%.  
X%z }VA  
信号输入方式：单端交流输入 ojYbR<jn9  
输入幅度：20-700mV mxor1P#|  
频率范围:≥320。 !cKz7?w  

图片:膜厚控制仪111111.jpg