供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 ':,p6  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 PPNZ(j  
主要性能指标及技术指标 /?:]f  
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主信号通道： 79MB_Is]s  
信号输入方式：单端交流输入 ((Wq  
输入量程：0.5mV-500mV fehM{)x2:  
信号频率范围:1KHz±5% p"J\+R  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) %
5?0+~  
性误差: ≤0.1% zMN4cBL9m  
零点时源： ≤0.2%/h 26c1Yl,DMn  
参考信号通道： ` _]tN  

t8b,@J`R  
信号输入方式：单端交流输入 ,vUMy&AV  
输入幅度：20-700mV %g%#=a;]q  
频率范围:≥320。 Yy8%vDdJO  

图片:膜厚控制仪111111.jpg