供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 bMT1(edm  
2&*r1NXBE  
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 {d`e9^Z:  
主要性能指标及技术指标 T&.ZeB1  
5LVhq[}mP  
主信号通道： 25xpq^Zw  
信号输入方式：单端交流输入 WfbG }%&J  
输入量程：0.5mV-500mV < C54cO  
信号频率范围:1KHz±5% >)g`
;iO  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) F Qtlo+3  
性误差: ≤0.1% j=U [V&T  
零点时源： ≤0.2%/h 9f ,$JjX[  
参考信号通道： <DG=qP6O  
d\FBY&C7b  
信号输入方式：单端交流输入  3*@ sp  
输入幅度：20-700mV /P<K)a4GM  
频率范围:≥320。 [kf$82  

图片:膜厚控制仪111111.jpg