《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
KA-/k@1& 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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$S=~YzO l/png: 第1章 简介
0oj{e9h 1.1 半导体器件
!H1tBg]5 1.2 半导体工艺技术
Vl 19Md 总结
w*u{;v# 参考史献
Z2rzb{oS} 第1部分 半导体物理
T4~`e_ 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
7*>S;$ 2.1 半导体捌料
v"~Do+*+ 2.2 基本晶体
结构 JpxbB)/ 2.3 基本晶体生长技术
W[>iJJwz 2.4 共价健
*K,hrpYR 2.5 能带
Z<ajET`) 2.6 本征载流子浓度
IObx^N_K 2.7 施主与受主
)W1(tEq59 总结
JS/M~8+Et 参考文献
:/v,r=Y9p 习题
Ki/'Ic1 第3章 载流子输运现象
)W`SC mr] 3.1 载流子漂移
?AnjD8i 3.2 载流子扩散
wMz-U- z 3.3 产生与复合过程
p`:*mf 3.4 连续性方程斌
-*|:v67C& 3.5 热电子发射过程
3T|Y} 3.6 隧穿过程
JvfQib 3.7 强电场效应
yOWOU`y? 总结
Zn@W7c,_I 参考文献
!.3R~0b 习题
T3Frc ]6,4 第2部分 半导体器件
T0`"kjE 第4章 p-n结
]am~aJ|L
4.1 基本工艺步骤
pd4cg?K 4.2 热平衡状态
F<Hqo>G 4.3 耗尽区
d/B'[Ur 4.4 耗尽层势垒电容
?C
&x/2lt 4.5 电流-电压特性
i s L{9^ 4.6 电荷储存与暂态响应
S~0JoCeo 4.7 结击穿
s) Cpi 4.8 异质结
kDzj%sm! 总结
=2
&hQd
参考文献
?wd|G4.Vo 习题
}iilzE4oH# 第5章 双极型晶体管及相关器件
7L=T]W 5.1 晶体管的工作原理
P</s)"@ 5.2 双极型晶体管的静态特性
8F zHNG 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
r8uqcKfU 5.4 异质结双极型晶体管
G HD^%)T5^ 5.5 可控砟器件及相关功率器件
%won=TG8 总结
[J0*+C9P* 参考文献
6hkkNXqkf 习题
-IBO5;2_ 第6章 M0SFET及相关器件
+w"_$Tj@; 6.1 MOS二极管
j2|XDOf 6.2 MOSFET基本原理
c 9rVgLqn! 6.3 MOSFET按比例缩小
-uWKY6
:5 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
[}>#YPZ 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
:GQUM 6 6.6 MOS存储器结构
S|"Fgoj r 6.7 功率M05FET
NSw<t9Yi 总结
#gh
p/YoTq 参号文献
* R%.a^R 习题
I[#U`9Dt 第7章 MEsFET及相关器件
4s9c#nVlu 7.1 金属-半导体接触
KNy`Lj)VPY 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
~&1KrUu& 7.3 调制摻杂场效应晶体管
,I]7g4~ 总结
hwiKOP 参考文献
I(pb-oY3!I 习题
L 5+J
^ 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
lDo(@nM 8.1 基奉微波技术
(nLKQV 1 8.2 隧道二极管
i 'qMi~{ 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
b SQRLxF ……
Cz_AJ-WR 第9章 光电器件
*|mz_cKu 第3部分 半导体工艺
9Uk(0A 第10章 晶体长生外延
sltk@ 第11章
薄膜淀积
huz86CO 第12章 图形曝光与刻蚀
XdpF&B&K7Q 第13章 杂质掺杂
o,CBA ;{P 第14章 集成器件
dY8(nQG 附表
qNpu}\L 索引
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