《现行
光学元件检测与国际
标准》重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章,主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求;计量概念与误差及精度的必要知识;光学元件检测基础;光学元件的
参数检测和性能检测的现行技术,侧重对特殊元件、光学表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等内容的叙述;介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准(ISO10110)的最新内容和相关的辅助
资料。《现行光学元件检测与国际标准》附录汇总了光学检测中4个常用的资料及相关的参考书籍。
dM1)wkbET 《现行光学元件检测与国际标准》可供从事光学、光学工程(尤其光学制造技术与检验)的科技人员与工艺技术人员参考,也可供大专院校有关专业的师生阅读。
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9j[%Y? jtk2>Ol 现行光学元件检测与国际标准目录
"gD)Uis 序
bS+by'Ea1W 前言
DM*mOT 第1章 概论光学元件的现代发展及其对光学检测的需求
z Lw=* 1.1 现代光学检测的重要性
Gv!*
Qk4 1.1.1 光学元件检测的重要性
D 5q Cn^R 1.1.2 光学元件检测仪器与技术现状
`V@{#+X 1.2 现代光学元件制造发展的特点
@t 1.2.1 以多功能、精密化为特点的大型化甚至巨型化光学工程和仪器牵引着现代光学制造业的发展
hN6j5.x% 1.2.2 以大批量化、产业化为特征的小型和超小型化的光学元件及大型和超大型化的光学元件需求量猛增
'Dq!o[2y 1.2.3 以多样化、高精度为特点的各种光学元件对光学制造与检测提出了全新的要求
vnXa4\Vdy 1.3 现代光学元件检测技术的需求
dE*n!@ 1.3.1 大平面光学元件的检测
? {Lp 1.3.2 大球面光学元件的检测
;(Q4x"?I 1.3.3 小非球面镜的检测
T1pA
<6 1.3.4 柱面镜元件的检测
{|%N 1.3.5 角锥棱镜的检测
*f:^6h 1.3.6 批量生产的小光学元件的检测
Z@=1-l 1.4 光学元件技术要求和检验要求的国际标准(ISO10110)
Gw*n,*pz 1.4.1 ISO10110的产生背景
-y{o@ 1.4.2 基本内容及简要说明
|~bl%g8xP 1.4.3 学习ISO10110的重要性
NamBJ\2E1[ 参考文献
kScq#<Y& lkK+Fm 第2章 计量的基本概念与误差理论知识
Dx =ms^oN5 2.1 计量法律法规知识
=yiRB? 2.1.1 计量法知识
>C~-*M9 2.1.2 国防计量监督管理条例知识
2/qP:3) 2.1.3 法定计量单位简介
FFl[[(`%D 2.1.4 单位使用中的方法及规定
cA1"Nek 2.2 计量学的基本知识
l;:
L0((' 2.2.1 测量与计量
T9\wkb. 2.2.2 计量器具
8*3<Erv 2.2.3 计量器具的误差
OWFLw 2.2.4 测量方法
BEyg63= 2.3 误差理论基本知识
0b9K/a%sQv 2.3.1 真值与误差
SsfnBCVR 2.3.2 误差在测量值中的表现规律
}3F8[Td.~N 2.3.3 随机误差的处理——算术平均值
;sCf2TD,_ 2.3.4
系统误差的处理——发现与减小
<<gk<_7` 2.3.5 粗大误差的处理——判别与剔除
quHq?oXV, 2.3.6 测量列数据处理实例
2J
=K\ L 2.4 精度、误差及测量的可靠性
mOr>*uR 2.4.1 测量精度概念的解析
mL`,v
WL/` 2.4.2 测量可靠性的认识
ulV)X/]1 2.4.3 测量不确定度
.{x-A{l 2.5 数据处理
^AK<]r<?L? 2.5.1 有效数字
Tw"u{%t 2.5.2 有效数字的数值计算规则
Ro$'|}(+A 2.5.3 误差合成的方和根法
=4uL1[0' 2.5.4 微小误差的取舍
%mPIr4$Pg 2.5.5 不同测量之间的数据比较——En评定
wq!Gj]B 参考文献
5*u0VabC< eWSA 第3章 光学元件检测基础
ciVN-;vi 3.1
光源与接收器
Y&KI/]ly,L 3.1.1 光学检测中常用的光源
0Lmq?D 3.1.2 光接收器
js)M
c*]& 3.2 国内外光学
材料主要性能与指标
-jdS8n4 3.2.1 应力双折射
|oPCmsO3R{ 3.2.2 气泡与杂质
% 1ZJi}~ 3.2.3 非均匀性与条纹
4;'o`K~* 3.2.4 材料非均匀性、波差及元件厚度关系的列线图
<QFT>#@T 3.3 光学检测中典型的部件与仪器
%!I7tR#; 3.3.1 平行光管
.dX ^3 3.3.2 自准直目镜和自准直仪
nI.K|hU:P 3.3.3 测微目镜
;`',M6g 3.3.4 内调焦
望远镜的原理和应用
o^FlQy\ 3.4 光束准直的检测技术
~kPHf_B;z 3.4.1 单平行平板作为剪切干涉仪检测光束的准直性
:,%~R2 3.4.2 单楔板作为剪切干涉仪检测光束的准直性
^N#B(F 3.4.3 提高单楔板作为剪切仪检测光束准直性的其他技术
Ws ya:9| 参考文献
tIfA]pE ")m0{ 第4章 光学元件面形偏差的检测
-J*BY2LU3f 4.1 面形偏差的基本概念及检测方法概述
jWk1FQte 4.1.1 面形、波面与干涉图
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