EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， gxN>q4z  
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， ovdJ[bO  
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 ]1|P|Jp  
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1)    Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 uMJ\  
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 ;f=m+QXU  
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2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. L=l&,ENy  
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1.多层厚度（1Å 到 250 microns）
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2.折射率n _y@].G  
3.吸收系数k 4f([EV[6dK  
4.双折射率 l4>^79**  
5.能隙（Eg） T#))
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6.表面粗糙度和损伤 2;8m0+tl  
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） m
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8.薄膜温度特性 Nc;O)K!FH  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 ;V xRaj?  
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 T3X'73M  
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： pk :P;\  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 mQj=-\p  
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com K#0TD("  
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