EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

发布:sbisna 2009-08-29 10:15 阅读:2992
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, +|C@B`h  
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, %YVPm*J ~  
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其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 8UB2 du@?  
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1)    Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 _DR@P(0>_  
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应用实例,目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 x(?Rm,  
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2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. gX"  
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1.多层厚度(1Å 到 250 microns)  $H*8H`  
2.折射率n 6+=_p$crMx  
3.吸收系数k >4g!ic~O  
4.双折射率 %XR(K@V  
5.能隙(Eg) kB+$Kt<]L  
6.表面粗糙度和损伤 S6bW r0XR  
7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) hUpour |b  
8.薄膜温度特性 fAh|43Y*a  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 Le83[E*i  
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应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 "yymnIQ3u  
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: Vc0j)3  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 } :?*n:g5  
邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com `*[Kmb\  
网址:http://www.emdeccn.com PE.UNo>o  
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