光学薄膜设计软件
Optilayer使用实例：评估设计曲线
KF-n_:Bd+ A$
s4Q0Mf 例:评估一四分之一波片的
光谱特性:
"_9Dau$ :V8 \^ 参数为：QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52)
oas}8 A) c$>Tfa'H 层材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3).
BaqRAO7 ~ Z T (@w Evaluation：新建工作目录：File_Problem，出现问题目录(Problem directory),输入目录名称，单击OK.
Z:5e: M y_QK _R< f 打开Datebase窗口并输入基底和层材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出现Datebase窗口：
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lLl^2[4k5 `N$<]i]s5 单击Substrate或Layer Material可分别输入基底和层材料，基底输入：单击NEW，输入基底名称，
&_G^=Nc,H 
@=:( b"Sg -FdhV%5] 单击OK,再在Re(n)栏输入基底折射率1.52, 再单击OK
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?bW|~<X~ S }mqK|! 然后在Datebase窗口双击GLASS或单击选中GLASS再单击Load。即输入了基底GLASS，可于General Information窗口中查看。
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F ^z&s]^~ yMB*/vs 同理，在Datebase窗口单击Layer Material，再输入层材料MGF2(1.38)和ZNS(2.3)。单击Design，再单击New输入设计名称，单击OK出现Design窗口，输入层数12，中心波长500：
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a;8q7nC { LZ` _1D 单击OK，再Load该设计。Analysis_T&R&Phase，产生Evaluation图：
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h`;w/+/Zr :VGvL"Kro 在图上单击右键，选中Axis出现分析选项窗口
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tUaDwIu# C5"=%v[gQv 可调节X和Y轴，单击Apply即生效。单击Plots ，
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j]~;|V5Z +`'=K ;{U 在Char栏下把T改为R，单击Apply即可将图输出形式由透过改为反射。如图：
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P+K< /i RzgA;ZC' 上图为垂直入射，我们同样可以显示有角度时的图形，Analysis_Options，再单击Plots（或在图形上单击右键再选中Plots）。
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c%tb6@C :rR)rj' 单击Add，输入角度，颜色。单击Apply。如图：
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Pr| B hX JiH^N! 保存：Data_Save Design。
