代理SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品

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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品 d|NNIf  
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， P*T)/A%4  
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 BVNh>^W5B  
1)    Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 anwn!Eqk"  
应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 |B`tRq  
2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. (_08?cN  
1.多层厚度（1Å 到 250 microns） tQ}gBE63  
2.折射率n ,`7GI*Vq  
3.吸收系数k /&dt!.WY^  
4.双折射率 si;]C~X*  
5.能隙（Eg） 68!fcK  
6.表面粗糙度和损伤 zL
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7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） \~H"!vj
  
8.薄膜温度特性 :gVjBF2  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 vPsX!m[#  
技术参数 ?hu 9c  
1. 厚度测试范围: 1Å to 250 microns E{ ,O}  
2. 重复性：      ± 0°（△）   }Tef;8
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3. 折射率精度：  ± 2*10-5 7A|jnm  
4. 光谱范围:     380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） ~EM];i  
5. 入射角:       0°（70°可选） -ur]k]R  
6. 测试速度：    小于 15 s ~<U3KB  
7. 光斑直径：    小于 50 nm h5gXYmk  
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 W*m[t&;  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： >dl!Ep  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 K]oPh:E  
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com w8i!Qi#y5D  
SCI 网址：http://www.sci-soft.com Z%R%D*f@y