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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 9`tSg!YOh  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ^{a_:r"  
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    1. 案例 dy]ZS<Hz8G  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 o>HU4O}  
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    1. 系统构建模块 (_=R<:  
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    2. 组件连接器 uyvjo)T  
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    几何光学仿真 p8j*m~4B  
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    以光线追迹 [1e]_9)p  
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    1. 结果：光线追迹 =w/AJ%6  
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    快速物理光学仿真 R>B6@|}?  
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    以场追迹 i,wZNX  
     ]f>0P3O5&  
    1. NA=1.4时的光栅成像 M(vX.kF  
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     P!I Lji!  
    $b)t`r+  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 T+oOlug  
       6!SW]#sD  
    4v` G/w  
    _*E j3=u  
    3. NA=0.5时的光栅成像 $Z3{D:-)  
       W#2} EX  
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