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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    光券
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 V+P8P7y37B  
     ~+7ad$   
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 h4J{jh.  
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    1. 案例 (YaOh^T:|  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 ~)WfJ  
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    1. 系统构建模块 2&zn^\%"  
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    2. 组件连接器 t;Fbt("]:  
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    几何光学仿真 ~YR <SV\{  
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    以光线追迹 gOBj0P8s|}  
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    1. 结果：光线追迹 <k!mdj)  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 b#/V;  
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    !ch[I#&J-  
    3. NA=0.5时的光栅成像 T_YMM'`  
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