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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 x~}RL-Y2o  
     Pe/cwKCI  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 im_W0tGvF  
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    1. 案例 Gu&?Gn oc  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 7vV3"uns  
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    1. 系统构建模块 JPgV7+{b[  
    {3C~cK{  
     g^1M]1.f  
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    2. 组件连接器 ~xu<xy@E  
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          C]-Z+9Vvv  
    几何光学仿真 0W9,uC2:N  
     u A:|#mO  
    以光线追迹 S(Xab_DT)H  
     *:3flJt  
    1. 结果：光线追迹 qr(SAIX"  
    C2,,+* v  
    cI'&gT5  
          5FnWlFc  
    快速物理光学仿真 %? _pSH}$!  
     j|KZ HH%dc  
    以场追迹 Zo22se0)  
     R\MM2_I  
    1. NA=1.4时的光栅成像 ju(&v*KA  
    mT>56\63  
     9~<HTH  
    CfoSow-  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 yEy} PCJ&  
       _{KQQ5k\  
    qp^O\>c  
    (J][(=s;a  
    3. NA=0.5时的光栅成像 w:Tz&$&Y$  
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    FlRbGg^  
     
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