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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-03-24
    摘要 D5({&.X[-  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 |'JN<?   
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    1. 案例 -P-8D6   
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 ,)!%^ ~v  
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    1. 系统构建模块 R]Z#VnL@qz  
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    2. 组件连接器 vXwMo4F*  
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    几何光学仿真 B0p;Zh  
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    以光线追迹 }.U(Gxu$  
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    1. 结果：光线追迹 w S?Kc^2O  
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          C`3 XOth  
    快速物理光学仿真 &'i>d&  
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    以场追迹 $!!y v'K  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 !>!jLZ0  
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    $G}k'[4C  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 "\rO}(gC;`  
       59:kL<;S-  
    uh#E^~5S  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 I7SFGO  
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