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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 `7QvwXsH]  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 lL:KaQ0E  
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    1. 案例 LN@E\wRw{r  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 d98))G~W  
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    1. 系统构建模块 ]> nPqL  
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    2. 组件连接器 wXr>p)mP  
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    几何光学仿真 =d go!k  
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    以光线追迹 4 t&gW  
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    1. 结果：光线追迹 t2=a(N-/,  
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          TA Ftcs:  
    快速物理光学仿真 jMN)?6$=  
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    以场追迹 KKLR'w,A>  
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    1. NA=1.4时的光栅成像  7]p>XAb  
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    1S+;ZMk  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 tRLE,(S,-  
       5JS ZLC  
    8{R&EijC  
    J6*f Uh  
    3. NA=0.5时的光栅成像 ;c1relR2  
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