切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 82阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 nB_?ckj,  
    k)i3   
    显微系统分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 k 9_`(nx  
    pD8+ 4;A  
    9d>-MX'  
    H/"-Z;0{  
    1. 案例 l?\jB\,  
    PoHg,n]  
    2pZXZ  
    D+#E -8  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 \/93Dz  
    %7QV&[4!  
    1. 系统构建模块 gLb`pCo/  
    kT|dUw9G  
    #"}JdBn  
    a`wc\T^  
    2. 组件连接器 <NHH^M\N  
    @hl.lq  
    #F:p-nOq  
    Oylf<&knF\  
    几何光学仿真 Cw~q4A6'  
    ay4 %  
    光线追迹 W4 t;{b  
    ?#Ge.D~u  
    1. 结果:光线追迹 Ah1]Y}sy  
    <'}YyU=  
    dR K?~1  
    4M^= nae  
    快速物理光学仿真 Eu0akqZ  
    @MoKWfc  
    以场追迹 IWk4&yHUAu  
    (|F*vP'  
    1. NA=1.4时的光栅成像 e*sfPHt  
    1&\0:vA^Y  
    Upx G@b  
    C:GK,?!Jn'  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 cv8L-Z>x.=  
       %J#YM'g  
    2L!u1  
    .28<tEf  
    3. NA=0.5时的光栅成像 ;:iY)}  
       6=kEyJT'  
    __uA}f Zp  
     
    分享到