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摘要 d3rjj4N"z Jf2JGTcm
3\Xk)a_ gH(#<f@ZI 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ~s&r.6DW ^ulgZ2BQ| 建模任务 Pxf>=kY @Pc7$ qD %
!:\0}w$- ef*Z;HI0 由于组件倾斜引起的干涉条纹 vGsAM*vw6 | t:UpP
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