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摘要 jBS'g{y-! (p^S~Ax
A3j"/eKi2 k2pT1QZnt 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 3<+z46`? c+H)ed> 建模任务 1}`2\3, 7O"hiDQ
Y4`QK+~fH 2av*o~|J*: 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ~C0Pu.{o f*v1J<1#
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