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摘要 K1 $Z=]a+ TQ>1u
!u=[/> [NuayO3 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 aFbA=6 d:j$!@o 建模任务 3)`}#` T >=B8PK+<
SIg=_oa L1 J"_.=P 由于组件倾斜引起的干涉条纹 y6Rg@L&U h?idRaN_
jgC/ N2~Nc"L 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 AMkjoy3+] #kxg|G[Ol
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