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    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 <"AP&J'H  
    EdE,K1gD  
     r.[!n)*  
    Jp xJZJ  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 uOs 8|pj,  
     sk$MJSE ~  
    建模任务 d;9 X1`"  
    E*.D_F  
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    由于组件倾斜引起的干涉条纹 1N1MD@C?P  
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    +I5@Gys  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 -j`tBv)  
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