切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 214阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 +KHk`2{y~  
    cQ`+ A|q  
    XO"BEj<x  
    m*\XH DB  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Kz9h{ Tu4  
    h2mU  
    建模任务 r]O8|#P,Z$  
    J7$JW3O  
    ~w}Zv0  
     nCSXvd/  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 e(EXQP2P>  
    \ Q0-yNt  
    t zSg`7H!  
    O<`\9  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 |p @,]c z  
    #{Gojg`5O  
    ~e R6[;  
     
    分享到