切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 235阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    5797
    光币
    23137
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-12-26
    摘要 FELW?Q?k  
    HuxvIg  
     a6d|Ps.\!  
    daf-B-  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 xi.QHKBZaH  
     c=IjR3F  
    建模任务 i,$n4  
    [i]%PVGW  
     ze#ncnMo  
    ]8XIw`:f  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 No w2ad&  
    ^}hSsE  
     <kWNx.eci  
     bzX/Zts  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 rK cr1VFy  
    \ id(P3M  
     S2 YxA  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表