摘要 U:[CcN/~3 X;#Ni}af 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
NdXC8 U!JmSP 简介 LCq1F(q H6`zzH0" Y@T$O<* 步骤 1
+[$Td%6 - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
?Jgqb3+!o 步骤 2
j_0l'S aj - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
%*IH~/Ld;] 步骤 3
&SPr#OkW - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
1Oak8 \G 步骤 4
wgq=9\+& - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
wjT#D|soI 步骤 5
[ lK`~MlQ - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
WHfl|e 步骤 6
Y/pK - 将导入的数据阵列加载到采样界面
$~?)E;S
Fx)><+- 步骤 7 .
EZhk(LE - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
n3 Rf:j^R !<b+7A 步骤 8
]"j%:fr - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
d(|4 +^> MiF(
&# 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 s:z *e<'|Kq k
,r*xt 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
57;(
P L},o;p: 文件信息 fWDTP|DV ft iAty0n