摘要 O^oWG&Y;v Pi]19boM. 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此，有必要将测量到的高度剖面（例如微
结构的高度剖面）导入建模
软件，以评估真实元件的性能。因此，在本文档中，我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
!\7!3$w'8, : Zlwp6 简介 "wNJ 
7Zlw^'q$:L 步骤 1
7 @D@ucL - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
Mu+0<> 步骤 2
'.:z&gSqx0 - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
vEJWFoeEFm 步骤 3
ZrsBm_Rx - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米，因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
JpXlBEio% 步骤 4
Yt;MV ) - 检查导入数据阵列的高度值，并通过Manipulation菜单进行调整（例如，应用常数乘法）。
'<"s \, 步骤 5
C{U?0!^ - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
}H ^+A77v 步骤 6
# 1OOU - 将导入的数据阵列加载到采样界面
vSEuk}pk U~:-roQ(\ 步骤 7 .
hb}+A=A=+ - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
37s0e;aF 'uBu6G 步骤 8
.%xn&3 - 如果需要，增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
45@^L's ]n6# VTz* 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 8Vr%n2M 3LOdj T
J A^USBv+9` 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中，我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
oKuI0-*mR s~^5kgPA 文件信息 +S o4r A*9 QIG$z ?
