摘要 =yJV8%pa J-klpr# 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
v}!^RW'X zqXDD; w3 简介 x>J(3I5_b
*xx)j:Sc2 _3g!_ 步骤 1
Ak}`zIo - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
[ 'B u 步骤 2
7^#O{QYol - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
,x3<a}J 步骤 3
(II#9n) - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
egWfKL&iy 步骤 4
4z OFu/l6R - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
']^]z".H 步骤 5
v(uNqX.BC - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
I34
1s0 步骤 6
),%@X - 将导入的数据阵列加载到采样界面
! bwy/A XZTH[#MqeI 步骤 7 .
\2Q#' - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
}4,[oD g\49[U}[~F 步骤 8
+t]Ge
>S - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
X7?14W (@*%moo 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 zf\$T,t) 9zLeyw\ <)L[V 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
3r?T|>| 3?+t%_[ 文件信息 *m'&<pg]X XHJ/211