摘要 H7?Vy bg~ p?{Xu4( 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
7G:s2432 "$~':) V" 简介 :I"2V
h(<,fg1 .\\DKh% 步骤 1
!lREaSM - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
FGPB: 步骤 2
ynmWW^dg - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
6}Vf\j~ 步骤 3
kj|6iG - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
IrR7"`.i 步骤 4
Yw22z #K - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
s6ZuM/Q 步骤 5
tf=6\p - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
jTf@l?| 步骤 6
=4vy@7/ - 将导入的数据阵列加载到采样界面
Rh3eLt~|( @+;$jRwq 步骤 7 .
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