摘要 &5}YTKe}| C\{A|'l!x 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此，有必要将测量到的高度剖面（例如微
结构的高度剖面）导入建模
软件，以评估真实元件的性能。因此，在本文档中，我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
<v1H1'gv (
yLu= 简介 m{oe|UVcmr 
fAh|43Y*a 步骤 1
\LUW?@gLa - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
D)MFii1J~ 步骤 2
I(UK9H{0$ - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
+< $(ez 步骤 3
;9~YQW@| - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米，因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
@de Z Z 步骤 4
@E z>?#z - 检查导入数据阵列的高度值，并通过Manipulation菜单进行调整（例如，应用常数乘法）。
>QDyG8* 步骤 5
X$<pt,}% - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
aj|3(2;Kp 步骤 6
S))B^). 0- - 将导入的数据阵列加载到采样界面
=pzTB-G UhR^Y{W5 步骤 7 .
ZXLAX9| - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
eP (*. aP (~l_ 步骤 8
&%v*%{|j - 如果需要，增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
-qpvVLR, 2V 8 "jc 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 qo:Zc`t(R vEjf|-Mb9 $Ptl&0MN% 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中，我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
[#wt3<d`) .|"E:qTD 文件信息 W +Piqf* i=5!taxu}E 
