摘要 0IK']C \BDNF<_ 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
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y 简介 q0<g#jK
j:#[voo7 K67x.P Z 步骤 1
wU3Q - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
7iJlW&W 步骤 2
8c#*T%Vf - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
G2rvi=8= 步骤 3
[T|~Kh%# - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
Hd:ZE::Q'# 步骤 4
LX8vVj8K - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
%$08*bAtB7 步骤 5
l\eq/yg_ - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
R]dB Uu 步骤 6
vDemY"wz - 将导入的数据阵列加载到采样界面
I'!KWpYJT @`3)?J[w 步骤 7 .
`]Xbw^Y'x - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
SWu=n1J.?H 4-o$OI> 步骤 8
Sb<=ROCg@ - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
opBvx>S h)w<{/p( 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 82$^pg> |Q{ l]D 0-@waK 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
#M:W?&. c;Li~FLR 文件信息 ve$P=ZuM ? in&/ZrB