摘要 L;Z0`mdz A][f Llpr 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此，有必要将测量到的高度剖面（例如微
结构的高度剖面）导入建模
软件，以评估真实元件的性能。因此，在本文档中，我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
mZz="ZLa: ?L&|Uw+ 简介 YH&bD16c3 
Xce0~\_ A 步骤 1
>9e(.6&2XZ - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
!`41q=r 步骤 2
,J U@ |` - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
_BdE<
!r 步骤 3
o6
E!IX+ - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米，因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
X4l@woh%
步骤 4
&e-U5'(6v_ - 检查导入数据阵列的高度值，并通过Manipulation菜单进行调整（例如，应用常数乘法）。
\.YS%"Vz 步骤 5
$Iv2j">3) - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
,1OyN]f3 步骤 6
w }Uhd , - 将导入的数据阵列加载到采样界面
b306&ZVEk HK|ynBAo 步骤 7 .
WOu EW w= - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
ib{-A& Q ' _z<V 步骤 8
[ i#zP - 如果需要，增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
^WBu MCe ;q N+^;,2 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 y E [#ze "BX! /|6;Z}2 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中，我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
4jD2FFG-
G 5w aKI?4F 文件信息 b#7{{@H C4TE-OM8 
