摘要 YT: <AJm 7ky( g' 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此，有必要将测量到的高度剖面（例如微
结构的高度剖面）导入建模
软件，以评估真实元件的性能。因此，在本文档中，我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
jjl4A} *0 HHE FX9u 简介 `f c*/D 
&# @1n 步骤 1
PCaa _
2 - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
B r pin 步骤 2
l0Pg`wH, - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
DMs|Q$XB 步骤 3
*Z/B\n b - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米，因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
*VRFs= 步骤 4
F=P |vYL&& - 检查导入数据阵列的高度值，并通过Manipulation菜单进行调整（例如，应用常数乘法）。
4 &|9304<H 步骤 5
b<5:7C9z - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
mLq?-&F 步骤 6
z6{0\#'K - 将导入的数据阵列加载到采样界面
+pe_s& h/_z QR- 步骤 7 .
~^5uOeTZ~ - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
s#qq%
@ K}Z'!+ <U 步骤 8
/+IR^WG#C} - 如果需要，增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
le[5a=e( wk5a &
使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 f%@Y
XGf y|lP.N/ %5z88-\ 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中，我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
np>*O }r* ZcdS?Z2k 文件信息
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