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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 E%B:6  
    }^ g6Y3\  
    任务/系统描述 8ZnHp~  
    i!|OFU6  
     y4j J&  
    m1d*Lt>F@  
    亮点 a#U2y"  
    +7`7cOqXg  
     RotWMGNK  
     T:~c{S4&  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 v;%>F)I  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ji8)/  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 &l&B[s6[  
    <k41j=d  
    说明：光源 h(<2{%j  
    lhp.zl  
    w=|"{-ijo  
    ;5ANw"Dq  
    说明：透镜系统 pGwBhZnb>  
    1@$n )r`  
    +NM`y=@@  
     P+9%(S)L3  
    说明：样品结构 `vMrlKq  
    4s <|8   
     D|8Pe{`  
    i_[nW  
    说明：探测器 dTATJ)NH  
    Xb/W[rcs  
    vrGx<0$  
    -45xa$vv  
    结果：3D光线追迹 n'i~1pM,?  
    7uI~Xo ?N  
     :!cNkJa  
    ^U5g7Emf  
    结果：场追迹矩形光栅 ?'jRUfl   
    @hz~9AII9  
    [f8mh88 r  
     ]:K[{3iM  
    结果：场追迹锯齿形光栅 +|iJQF  
    K:<0!C!  
    v}>5!*  
     
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