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光学测量＞显微 gw ^X -
m1#,B<6 任务/系统描述 U|jip1\ Fo;.
 +\ GuZ 5` ] <y3;T\~ 亮点 0 8W^
Yw6d-5=:
 s $?u'}G3 aU yJi 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 *USzzLq 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 N
6t `45 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ,AuejMd q+1SU 6x'm 说明：光源 (U_ dPf _OY<Hb3%M  Aw,#oG {N dMDSyd <( 说明：透镜系统 Rap =& E>L_$J -A-  9oA-Swc[
FX&)~) 说明：样品结构 ]D\p<4uepM $[HpY)MSRw  g 6!#n gVpp9VB 说明：探测器 N,?D<NjXl MtXd}/  Mb\[` 4z q,fk@GI'2 结果：3D光线追迹 :qxd
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 #e5*Dr 8 ghV xcK 结果：场追迹矩形光栅 } <
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结果：场追迹锯齿形光栅 5%%A2FrB.S  D OGg=`XK1 #7dM %
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