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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 T\ }v$A03  
    zvb} p  
    任务/系统描述 ssyd8LC#  
    SM#S/|.]  
    b'oGt,  
    oYh<k  
    亮点 3AQ>>)T~  
    oTD-+MZn  
    2 ssj(Qo  
    5+/b$mHZX  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 'uf\.F  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 1.95 ^8  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 =i^<a7M~  
    7}cDGdr  
    说明:光源 [&pW&>p3  
    g;!@DVF$  
    ~l*?D7[o  
    ~'NpM#A  
    说明:透镜系统 r -q3+c^+  
    6(J4IzZ  
    (YYj3#|  
    #3Ej0"A@-B  
    说明:样品结构 7.e7Fi{  
    8hKP  
    BF@5&>E  
    VwOG?5W/  
    说明:探测器 Q-8'?S  
    t.E4Tqzc>  
    w&|R5Q  
    9XoQO9*Q  
    结果:3D光线追迹 S'!q}|7X 3  
    &`yOIX-H_  
    8@ %mnyQ  
    45+%K@@x  
    结果:场追迹矩形光栅 V'"I9R'1  
    EzIs@}  
    Ob8B  
    JS/M~8+Et  
    结果:场追迹锯齿形光栅 :/v,r=Y9p  
    Ki/'Ic1  
    !0ce kSesr  
     
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