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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量＞显微 !7Eodq-0  
    &S,_Z/BS;  
    任务/系统描述 [?%q,>F  
    Z _Wzm!:  
     *5IB@^<  
    IjGPiC  
    亮点 *Nm$b+  
    +F-EgF+J  
     4-~Z{#-  
    U% q-#^A  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 p^CTHk_|  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 WQ{[q" O  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 G4uG"  
    NV7k@7_{B  
    说明：光源 |BbzRis  
     0:f]&Ng  
    N_I KH)  
    ,DZvBS  
    说明：透镜系统 ~: {05W  
    om`T/@_,  
    ')U~a  
     XEQTTD<  
    说明：样品结构 Jy5sZ }t[  
    baBBn %_V  
    d2V X\  
    sxsb)a  
    说明：探测器 _bGkJ=  
    =e4 r=I  
    ];Z6=9n  
    CJ* D  
    结果：3D光线追迹 @(Y!$><Is  
    @^xtxtjzux  
     ]QhTxrF"  
    yEq7ueJ'  
    结果：场追迹矩形光栅 T9C_=0(hn  
    $#q`Y+;L2  
    *!%lBt{2  
     +{1.kb Zq  
    结果：场追迹锯齿形光栅 &^r>Q`u  
    `&M,B=E  
    27EK +$  
     
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