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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 +CXq41g"c  
    =.) :tGDp  
    任务/系统描述 1CJAFi>%D  
    sheCwhV  
    dl`{:ZR S  
    N] pw7S%  
    亮点 Sw?EF8}[  
    :2XX~|  
    ta'wX   
    ivt ~ S  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 S0LaQ<9.  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m& D#5C  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ~~m(CJ4S  
    ,Vof<,x0  
    说明:光源 +=nWB=iCb  
    ,,Ivey!kL  
    D^U?!S&4~  
    u% =2g'+)_  
    说明:透镜系统 Qv]rj]%  
    KYl!Iw67d  
    ~8-xj6^  
    glBS|b$\:  
    说明:样品结构 [F{P0({%?  
    ,s:viXk  
    O3#eQs  
    F%O+w;J4  
    说明:探测器 gr# |ZK.`  
    j6L(U~%  
    f9)0OHa  
    lvLz){  
    结果:3D光线追迹 wLvM<p7OX  
    4[Wwm  
    oR3t vw.  
    lB8g D  
    结果:场追迹矩形光栅 i|28:FJA  
    mMO]l(a&  
    ,rNud]NM8  
    Oq)7XL4  
    结果:场追迹锯齿形光栅 ),^pi?  
    .kgt? r  
    QiJ  
     
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