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光学测量>显微 .kyp5CD}4 |3QKxS0 任务/系统描述 4h|sbB"t #]cO]
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]uG9WT6l <"X\~ 亮点 `ZC_F!
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Hj2E -RwG .T#h5[S2x 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 criOJ- 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 MV'q_{J 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 j.=VZ K!=Y4"5% 说明:光源 lpvZ[^G *QH@c3vUe\ MZZEqsD5[ x2%xrlv<J/ 说明:透镜系统 Py_yIwQqg U["'>&B ga%gu9 I!Z=3 $, 说明:样品结构
= ss(~[ z10J8Ms' DP_ ]\V<sT lkl+o&D9 说明:探测器 Qqm'Yom%T ' d' Dlg sVWOh|O[W ObnQ,x( 结果:3D光线追迹 A6eIf w#0/&\b=
~XU%_Hz L6<.>\^Z" 结果:场追迹矩形光栅 n-P<y ,6@s N'c N5_` 7n}$|h5D 结果:场追迹锯齿形光栅 eO%w
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