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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 ]y0Y(  
    ] 4dl6T  
    任务/系统描述 faQmkO  
    m\`>N_4*9  
     YExgUE|  
    FDz`U:8  
    亮点 R/hI XO  
    D<SC `  
     Tlw'05\{J  
    Du+W7]yCl  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 dkC[SG`  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 p~$cwbQ!  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 h:?^0b!@  
    oACAC+CP  
    说明：光源 %!<Y  
    :o'x?]  
    X;I9\Cp]!  
    9d drtJ]  
    说明：透镜系统 p%Z:SZZ  
    %j7b0pb  
    q)k:pQ   
     tk"+ u_uw  
    说明：样品结构 1t  R^  
    I^y<W%Et  
    :$WO"HfMSn  
    f>N DtG.6  
    说明：探测器 }Pcm'o_wT  
    }t H$:Z  
    ~non_pJ  
    5C Dk5B_  
    结果：3D光线追迹 \ 2\{c1df  
    2*: q$c  
     n#(pT3&  
    k#].nQG  
    结果：场追迹矩形光栅 P%3pM*.  
    G|wtl(}3  
    g>lZs  
     5'zXCHt  
    结果：场追迹锯齿形光栅 EW `hL~{  
    \9?[|m z  
    R;< q<i_l  
     
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