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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 I T*fjUY&  
    !1ie:z>s  
    任务/系统描述 jD&}}:Dj  
    ,U|u-.~ZU  
     "uV0Oj9:  
    EGQ1l i'B  
    亮点 9`nP(~  
    \GjXsR*b5  
     kw*Cr/'*  
    -~rr<D\  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 sqq/b9 uL/  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 B`RW-14g  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 6E*Zj1KX  
    1A,4 Aw<  
    说明：光源 -9tXv+v?  
    F1Zk9%L%9$  
    0C9QAJa  
    9hz7drhR;\  
    说明：透镜系统 0ER6cTo-t  
    uK"$=v6|  
    Ep v3/ `I  
     T }8r;<P6  
    说明：样品结构 1*c0\:BQ;z  
    % @^VrhS  
    37ri b  
    `9G$p|6  
    说明：探测器 OTy 4"%  
    K>DnD0  
    CwCo"%E8}  
    z9uEOX&2\  
    结果：3D光线追迹 hg86#jq%  
    \8C*O{w  
     o/i5e=9[y  
    ^q4:zZZ  
    结果：场追迹矩形光栅 4n.i<K8K[  
    I5|S8d<  
    %_i0go,^  
     |)>GeE  
    结果：场追迹锯齿形光栅 R&-W_v+  
    .DV#-tUh  
    BZ'y}Zu*  
     
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