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光学测量>显微 Zkw J.SuU #uQrJh1o8 任务/系统描述 UP\8w#~ ri_P;#lz
f&K}IM8& # )$MS
0[? 亮点 g<M0|eX@~ (:ZPt(1
.=?Sz*3 4+)Zk$E 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 .8-PB*vb 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 0 9tikj1 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 oz Vpfs 7}gA0fP9 说明:光源 2q12yY f AzZi{Q ? ;9K[~ 4\v~HFsv 说明:透镜系统 X88F>1} AlUJ1^o) 8^i[j\Y;6 Mk<m6E$L 说明:样品结构 TV?
^c?{5 ,KT<4 k9cK bf@ 6s'[{Ov 说明:探测器 ~Hs=z$ *8/VSs xOhRTxic 0"hiCGm' 结果:3D光线追迹 6ezcS}:+ OthG7+eF
r|M'TA~: (WJV.GcP1 结果:场追迹矩形光栅 X!o@f$ gEE9/\>%- eVTO#R*'| [;<<4k(nL 结果:场追迹锯齿形光栅 cY{I:MA+h@ ]Uu
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