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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 <\eHK[_*  
    W=41jw  
    任务/系统描述  x9XQ  
    W4Rs9NA}  
     9$8B)x  
    ]n1@!qa48  
    亮点 ;V`e%9 .  
    'qwFVP  
     |_/q0#"  
    Zy _A3m{  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 RX}6H<5R  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 hE0 p> R8  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 YA9Xe+g  
    fvK):eCo  
    说明：光源 Tm~a& p  
    z[Xs=S!]I  
    "- @{ )  
    n,}\;Bp  
    说明：透镜系统 T<Y^V  
    C-' n4AY^  
    e2CjZ"C  
     VSP6osX{  
    说明：样品结构 :5IbOpVM  
    U|VF zpJ  
    mu`h6?v  
    *m6~x-x  
    说明：探测器 <|9s {z  
    oe`t ? (U  
    \9T CP;{  
    D_er(  
    结果：3D光线追迹 xR `4<  
    'z7,)Q&8  
     - `F#MN  
    |pxM8g1w  
    结果：场追迹矩形光栅 xD+n2:I{  
    F33&A<(,  
    sT:$:=  
     ``KimeA~  
    结果：场追迹锯齿形光栅 N9@@n:JT  
    dnt: U!TW@  
    F_0vh;Jo  
     
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