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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 gw^X-  
     m1#,B<6  
    任务/系统描述 U|jip1\  
    Fo;.  
    +\GuZ5`  
    ] <y3;T\~  
    亮点 08W^  
    Yw6d-5=:  
    s$?u'}G3  
    aUyJi  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 *USzzLq  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 N 6t`45  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ,AuejMd  
    q+1SU6x'm  
    说明:光源 (U_dPf  
    _OY<Hb3%M  
    Aw,#oG {N  
    dMDSyd<(  
    说明:透镜系统 Rap =&  
    E>L_$J-A-  
    9oA-Swc[  
    FX&)~)  
    说明:样品结构 ]D\p<4uepM  
    $[HpY)MSRw  
    g 6!#n  
    gVpp9VB  
    说明:探测器 N,?D<NjXl  
    MtXd}/  
    Mb\[` 4z  
    q,fk@GI'2  
    结果:3D光线追迹 :qxd s>Xm  
    kOLS<>.  
    #e5*Dr8  
    ghVxcK  
    结果:场追迹矩形光栅 }< m@82\  
    r57rH^Hc  
    zmp Q=%/H  
    *h Bo,   
    结果:场追迹锯齿形光栅 5%%A2FrB.S  
    D OGg=`XK1  
    #7dM %  
     
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