切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 128阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5302
    光币
    20742
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量>显微 (|_1ku3!  
    58"Cn ||tF  
    任务/系统描述 G992{B  
    Pa%;[hbn  
    qJ=4HlLno  
    _T6l*D  
    亮点 q -%;~LF  
    /3F4t V  
    %./vh=5)  
    gTE/g'3  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 byl#8=?  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 #9Z\jW6b  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 xc.(-g[  
    jm1f,=R  
    说明:光源 (0jT#&#  
    "oZ-W?IKE  
    vtyk\e)   
    `y5?lS*  
    说明:透镜系统 XUT,)dL  
    TfaL5evio  
    uGIA4CUm  
    ZUJ !  
    说明:样品结构 gs)wQgJ[  
    {&,9Zy]"S  
    iR;Sd >)  
    &kKopJH  
    说明:探测器 5z8CUDt 0  
    S '>(4a  
    8?ldD  
    tbHU(#~  
    结果:3D光线追迹 2GNtO!B.  
    !+tz<9BBY  
    >e y.7YG  
    Z -3i -(  
    结果:场追迹矩形光栅 C$o#zu q -  
    (uV ~1  
    M{gtu'.  
    1&A@Zo5|  
    结果:场追迹锯齿形光栅 ".jY3<bQg  
    mM.-MIp  
    x/*ndH  
     
    分享到