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光学测量>显微 +CXq41g"c =.):tGDp 任务/系统描述 1CJAFi>%D sheCwhV
dl`{:ZR S N] pw7S% 亮点 Sw? EF8}[ :2XX~|
ta'wX ivt ~S 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 S0LaQ<9. 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m& D#5C 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ~~m(CJ4S ,Vof<,x0 说明:光源 +=nWB=iCb ,,Ivey!kL D^U?!S&4~ u%=2g'+)_ 说明:透镜系统 Qv]rj]% KYl!Iw67d ~8-xj6^ glBS|b$\: 说明:样品结构 [F{P0({%? ,s:viXk O3#eQs F%O+w;J4 说明:探测器 gr# |ZK.` j6L (U~% f9)0OHa lvLz){ 结果:3D光线追迹 wLvM<p7OX 4[Wwm
oR3t vw. lB8gD 结果:场追迹矩形光栅 i|28:FJA mMO]l(a& ,rNud]NM8
Oq)7XL4 结果:场追迹锯齿形光栅 ),^pi? .kgt?r
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