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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 }w0>mA0=H  
    Q!%4Iq%jr  
    任务/系统描述 {g:I5 A#  
    ;<JyA3i^V,  
     | Vtd !9  
    "QWF&-kAI  
    亮点 dc .oK4G}  
    RGw=!0V  
     GvL)SVv?  
    'Y ZYRFWXM  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 F ;o ^.  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 &B</^:  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 BrdHTk= Vy  
    bOt6q/f  
    说明：光源 8| 6:  
    +izB(E8&{J  
    T+OQa+E@P  
    ]}3AP!:  
    说明：透镜系统 p97}HT}  
    2{v$GFc/  
    HAHv^  
     >IL[eiiPG  
    说明：样品结构 9t.u9C=!F  
    5Av bKT  
    ? 1OZEzA!  
    HC4vet  
    说明：探测器 1}moT#  
    3;wAm/Z:Q  
    +:hZ,G?>  
    7~2b4"&  
    结果：3D光线追迹 j4ARGkK5B  
    )T-C/ 3  
     2yu\f u  
    :x36^{7  
    结果：场追迹矩形光栅 Xknp*(9  
    dM%#DN8 l  
    '[E|3K5d  
     7oPLO(0L  
    结果：场追迹锯齿形光栅 u&q RK>wLa  
    f^P:eBgpx  
    LciSQ R!  
     
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