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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 b3b 4'l   
    `7jm   
    任务/系统描述 TRz~rW k  
    3(P^PP8  
     Pb?H cg  
    )hk=wu6  
    亮点 IWu^a w  
    o^~6RZ  
     Y~1}B_  
    R7*Jb-;$!  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 sb4)@/Q7j  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ?97MW a   
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 _yjM_ALjo  
    T\c;Ra  
    说明：光源 Qpd-uC_Ni  
    ]6OrL TmP  
    L5T)_iQ5  
    *F:]mgg  
    说明：透镜系统 Wy#`*h,  
    Ga f/0/|  
    Af=%5%  
     j>&n5?  
    说明：样品结构 2a.NWJS  
    ;t%L (J  
    w|WZEu:0|  
    hM\QqZFyp  
    说明：探测器 ;0E"4(S.q1  
    /iif@5lw{  
    p@i U}SUaE  
    VR?7{3  
    结果：3D光线追迹 UEo,:zeN[  
    {N5g52MN  
     Z.6`O1OY}?  
    JmNeqpbB`w  
    结果：场追迹矩形光栅 $Fz/&;KX!  
    \!ESmxSa;  
    ~b\7 qx_a9  
     `m<="No  
    结果：场追迹锯齿形光栅 >&^w\"'  
    {\|? {8f  
    hD<z^j+  
     
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