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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 \45F;f_r6  
    ,9Si 3vn  
    任务/系统描述 T7~H|%  
    cPy/}A  
    Mqv[7.|  
    B-UsMO  
    亮点 }\0ei(%H  
    *WaqNMD[%  
    qsWy <yL+  
    YpI|=mv  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 5XoM)  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 Hg5 :>?Lw@  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Z@,[a  
     G& m~W  
    说明:光源 L Q0e@5  
    7!Qu+R  
    i93 6+[  
    [h63*&  
    说明:透镜系统 5Mz:$5Tm  
    Q$(Fm a4a  
    rld8hFj  
    [ylRq7^e  
    说明:样品结构 8PR\a!"  
    nvQTJ4,,  
    =;"=o5g_  
    V]NCFG  
    说明:探测器 QQJf;p7  
    pO92cGJ8  
    Q[{RN ab  
    MX iQWg$  
    结果:3D光线追迹 R$X~d8o>%  
    p(6 sN=  
    _"*}8{|  
    *:"@  
    结果:场追迹矩形光栅 V503  
    ;y_]w6|n  
    yd=b!\}WJ  
    "VDMO^  
    结果:场追迹锯齿形光栅 u'nQC*iJb  
    M|NQoQ8q  
    1yVhO2`7]  
     
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