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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 Aub]IO~  
    UPc<gB  
    任务/系统描述 Yk'9U-.mc  
    Rw6; Z  
     #l4)HV  
     t^xTFn  
    亮点 tG8jFou  
    y kW [B  
     pG34Qw  
    ew;ur?  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 }w/;){gu  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 [6)UhS8  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ly4s"4v  
    :U d  
    说明：光源 JXixYwm  
    E,wVe[0)f  
    l" q1?kaVg  
    j,t#B"hOnp  
    说明：透镜系统 UWZa|I~:J  
    <W`#gn0b6  
    &X|<@'933  
     J0 k  
    说明：样品结构 7R3fqU.Rq  
    nLwiCf e  
    ui "3ak+F  
    zP:cE  
    说明：探测器 '=E3[0W  
    K*IxUz(  
    kWlAY%   
    |+:h|UIUQ  
    结果：3D光线追迹 Xt{*N-v\  
    $s4Wkq  
     ;uqx@sx ;  
    Uz608u  
    结果：场追迹矩形光栅 mv atUe  
    x$wd O  
    6AvHavA^Y  
     ~1*A  
    结果：场追迹锯齿形光栅 B/J>9||g  
    &3v&i*DG,I  
    -/ x W  
     
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