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光学测量>显微镜 D~7L~Q] xI QW_W5|_  wUcp_)aE| B%/N{i*Z 亮点 H:.l:P J
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 Vl%jpjqP o1)8?h 在显微镜系统中，完整的矢量分析光栅 sL\W6 ej 数秒内快速的高性能分析复杂系统 uZ8^" W 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 I hPX/P 研究偏振效应 )m.U"giG++ N_| '`] D 说明：光源 zE1=*zO` 角向偏振光 ?`U=Ps
W^N|+$g>H
 ^=7XA894 c`xgz#]v  !\/J| ~XZ J~k'b2(p3 径向偏振光 q-TDg0 zHk7!|%Y  E 9v<VoNP` zt/N)5\V 说明：透镜系统 I"bz6t\~| ^2-t|E=  `F4gal^ ^ !nt [J$.z^ 说明：样品结构 g0>Q* x #7|73&u(  feG#*m2g
R;`C;Rbf 说明：探测器 Q+a "Z ^Z| S Co; Ek
 6"<q{K jCp`woV 结果：3D光线追迹 S0mzDLgE .vWwYG QI*< MF,1
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