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光学测量>显微镜 -+fW/Uo +wGFJLHJ Y3g<%6 -\~HAnh 亮点 #L+ZHs~ 85vyt/.,k Bk@&k}0 ]ASTw(4 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 Q.g44> 数秒内快速的高性能分析复杂系统 Ntlbn&lc;D 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 l0lvca=; 研究偏振效应 +2,EK
Sz-TarTF 说明:光源 +Uxtxl' 角向偏振光 ;N^4R$Q. 6+/BYN!&4 BHpj_LB-P &
Tkl-{I lyw)4;wt\ rO]2we/B,4 径向偏振光 y*T@_on5 Bpp(5 /mwsF]Y "ZP)[ [Rd
说明:透镜系统 HXgf=R/$ A'suZpL uQ3W = 7~H"m/;U& 说明:样品结构 / !aVv zO((FQ $KPf[JvQ TNlS2b1 说明:探测器 t;W'<.m_ >'v{o{k|C D
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