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光学测量>显微镜 R07Kure Cf`s:A5<J  =6b^j]1 ^[ }^+ 亮点 /,'D4s:Gg
#%U5,[<a8
 sQrP,:=r# n?*Fr sZ 在显微镜系统中，完整的矢量分析光栅 WJ$D]7 数秒内快速的高性能分析复杂系统 d\}r.pD 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 cq `v8 研究偏振效应 V`Z-m-V~1 gF;i3OJg 说明：光源 MtC \kTW 角向偏振光 Bk&ry)`gD
EnXNTat})
 rvZXK<@#+ ${^WM}N
 Oosxu AC( i-) OY, 径向偏振光 hjywYd]8 >K$9 (  8KRm>-H) 0R&$P 6 说明：透镜系统 ftB-gItV h.@5vhD  nZe2bai E7-il;`cKn 说明：样品结构 I/D (gY06< iE$qq ~%  n>?o=_|uR
%EA|2O.D 说明：探测器 s86Ij>VLf t<5 $85Y~
 BwwOa O@L -ju&"L B 结果：3D光线追迹 rf_(pp) fQcJ yX cl
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T. \=R 结果：场追迹 c :(Xk zj 角向偏振光 /<7'[x< ' jAX&7G`  xwK{}==U
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