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光学测量>显微镜 dv cLZK }ijFvIHV  C1==a FD %RX!Pi}5+g 亮点 tISb' ^T
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 Ca["tks &})Zqc3Lqk 在显微镜系统中，完整的矢量分析光栅 ,(B/R8ZF~ 数秒内快速的高性能分析复杂系统 /%F 5u}eW 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 CG
,H 研究偏振效应 -amNz.`[PR 1()pKBHf 说明：光源 p^C$(}Yh 角向偏振光 _D{{C
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^I ;o0  G[+{[W nj#kzD[n> 径向偏振光 ~X-v@a Ny$N5/b!!  b2^O$ l w x,gth*p 说明：透镜系统 @`nU=kY/ c^~R %Bx  ^@$T> SB1 \/!jGy* 说明：样品结构 vv D515i
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-l < [CI 说明：探测器 : n\D qSQsY:]j0
 2SYV2 ~Dj_N$_+9 结果：3D光线追迹 cN7|Zs c\ ~./M5P!\ y<)q;fI7
 %)L|7v< 结果：光线追迹 ~GjM :*
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Sv03="& 结果：场追迹 Z #062NL
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FrD,)Ad8Q 结果：光线追迹 wQ/FJoB 径向偏振光 `xd{0EvF V7i1BR8G
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 bol #[_~ JOJ? .H&su 结果：场追迹 - g]g 径向偏振光 P(&9S` I XK4i dC  G\:^9!nwY~
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