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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 5fVm392+  
    \"W _\&X  
                               Q]oCzSi  
    _/ Uer }  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 CEr*VsvjsU  
    }|!9aojr  
    建模任务     &H<n76G  
    FeAMt  
    ss>p  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 K{#1O=Gi  
    #:6gFfk0<  
     ?g\SF}2  
    H[KTM'n  
    图层矩阵解算器 cKbsf ^R[e  
    voAen&>!  
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    fPLi8`r  
    b`Agb <x"  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Y;[#~3CA  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 T nG=X:+=  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 )@OKL0t  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Cvf^3~ q  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     G)'(%rl  
    4RXF.kJ3=  
    更多的信息： 'HdOW[3o  
    ek3,ss3  
    总结-组件 A(<"oAe|  
    ;x=r.3OQy  
     @rT}V>2I  
     | N/Wu9w$  
    +zup+=0e  
    两条光谱线的可视化 +W-,74A  
    hy?e?^  
     3S_H hvB  
    精细vs.涂层反射率 5QoU&Hv  
    _g#v*7o2@  
    .oR_r1\y  
    D^%DYp  
    精细度vs.涂层反射率 HECZZnM  
    > l@ o\  
    D>~S-]  
    内部谐振增强     !gfz4f&  
    qr~= S  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 O] nZr  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 cqyrao3;  
    !U2Wiks  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 e%O]U:Z  
    )]?"H  
    VirtualLab Fusion技术 vid(^2+  
    ~dO&e=6Hk  
     :)9 ^T<  
     
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