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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ce{GpmW  
    8T'=lTJ  
                               =R#K` H66j  
    07"dU  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Q5e ,[1  
    5y! 4ny _  
    建模任务     p.q :vI$J  
    V *=To  
    WYTeu "  
    具有高反射(HR)涂层的标准具  C~vU  
    oC>QJ(o,8  
     Ebp^-I9.d  
    9Ot;R?>(  
    图层矩阵解算器 @oC8:  
    (US]e un  
     SoODss~X  
    u~yJFIo  
    =+q9R`!L]  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 4KE"r F  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 2q J}5  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Q7$ILW-S  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 buGW+TrWY  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     FG7}MUu  
    ?eT^gWX  
    更多的信息： cbl@V 1  
    Q44Pg$jp  
    总结-组件 80cBLGG  
    ~oI7TP  
    @`aR*B  
     ^Sx 0t  
    4EzmH)4G  
    两条光谱线的可视化 rX6"w31  
    JwbC3 t):@  
     s bd;Kn  
    精细vs.涂层反射率 qIK"@i[ uq  
    6%NX|4_  
    .MuS"R{y  
    <3z]d?u  
    精细度vs.涂层反射率 bL (g$Yi  
    !<]%V]5[_  
    +ex@[grsGT  
    内部谐振增强     9g+/^j^>?f  
    S2K_>kvG)~  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 F ^Rt 6Io  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 0\%/:2   
    Kxz<f>`b/  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 JpE4 o2  
    blph&[`}I  
    VirtualLab Fusion技术 @HJ&"72$<  
    ?hvPPEJf  
     KDgJ~T  
     
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