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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 Xo[={2_  
    CRy;>UI  
                               cx?XJ)  
    wOH$S=Ba5,  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 h-B&m:gD_U  
    ><o dBM-  
    建模任务     n(-1vN  
    OhT?W[4  
    _8$arjx=  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 LfD7 0r\  
    Gv,_;?7lD  
     9F8"(  
    JGH;&UYP  
    图层矩阵解算器 zcCX;N  
    \(9hg.E  
     mSSDV0Pfn  
    CR$\$-  
    %<@."uWF*  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 SH# -3&$[  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 hS) X`M  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Z1j3F  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 9pN},F91n:  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     D$|@: mW  
    -3 .Sr|t  
    更多的信息： /]~Oa#SQ:  
    -LAYj:4  
    总结-组件 )H&rr(  
    qx3@]9  
    }E626d}uA  
     Zo}O,;(F5  
    eh=.Q<N  
    两条光谱线的可视化 s!* m^zx  
    ay}} v7)GM  
     E/MD]ox  
    精细vs.涂层反射率 ?kfLOJQ:I  
    sem:"  
    j2A Z.s  
    ttlFb]zZh  
    精细度vs.涂层反射率 +C4UM9  
    #*QnO\.  
    X 4\  
    内部谐振增强     JQCQpn/  
    yu ~Rk  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 hV,)u3  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 9V5}%4k%+  
    |X:"AH"S  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 |G^w2"D_Z  
    ?7 Kl)p3  
    VirtualLab Fusion技术 '!8'Xo@Go3  
    6\jhDP@`9  
     7[=MgnmuC  
     
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