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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 X$u l=iBs  
    y=\&z&3$  
                               mp sX4  
    ]5 ]wyDj  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 K'8?%&IQ  
    q'H6oD`  
    建模任务     |wb_im  
    N4VZl[7?  
    w-)JCdS6Tb  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 lgVT~v{U`n  
    *$VeR(QN  
     R=Lkf  
    ?$A)lWk(  
    图层矩阵解算器 M-Vz$D/aed  
    ;6 d-+(@  
     x%$6l  
    ^=-25%&^  
    7mi=Xa:U  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 _]'kw [  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 D.7cWR`Wp  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 I31Nu{  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 }3Ke  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     U%1M?vT/  
    SLkgIb~'X  
    更多的信息： f9_Pn'"I  
    #]i^L;u1A  
    总结-组件 !7]^QdBLY  
    $M-"az]  
    mBrZ{hqS  
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    E<B/5g!  
    两条光谱线的可视化 ,{iMF (Nj  
    $@{ d\@U  
     B[w.8e5  
    精细vs.涂层反射率 p|0SA=?k"  
    1M_6X7PH  
    %|/\Qu  
    vqUYr  
    精细度vs.涂层反射率 OS L~a_  
    gQhYM7NP{5  
    2WKIO|'  
    内部谐振增强     2}P{7flDY  
    th"Aatmp  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 5A %TpJ  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 HCktgL:E=  
    rWM5&M  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 /NPx9cLW^  
     W>x.*K  
    VirtualLab Fusion技术 's"aPqF?  
    E'+z.~+  
     4|j Pr J  
     
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