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摘要 BO%aCK& #dj,=^1_14
W<c95QD. EyDH-}Y Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Ivx]DXR| oc>N| ww: 建模任务 Z.%0yS_T KW@][*\uC
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A 具有高反射(HR)涂层的标准具 ">M:6\B VprrklZ
n8.Tag(# Gl6M(<f\5 图层矩阵解算器 th^&wp ]Vm:iF#5P
"nA~/t= gWGh:.*T <- (n48 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 &C |