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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ~f 2H@#  
    i NzoDmE*  
                               @! ^c@  
    2t\a/QE)E  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 A\lnH5A  
    +Tde#T&[  
    建模任务     L.lmbxn  
    ; P I=jp  
    4p&qH igG  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 }S3m wp<Y  
    W'rft@J$  
     |vA3+kG  
    gSK (BP|  
    图层矩阵解算器 k&ujr:)5Y5  
    X1!m ]s(I  
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    l%.3hId-  
    cnC&=6=a<  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 GIsXv 2  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 m C_v!nL.  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 5 |{0|mP  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 =El.uBz{  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     q .nsGbl  
    A1Mr  
    更多的信息： `4}zB#3  
    W}+Q!T=  
    总结-组件  gvYa&N  
    yC4JYF]JN  
    beEdH>  
     c'&3[aa  
    8263  
    两条光谱线的可视化 ${ad[hs  
    Pe!uk4}w  
     o5mt7/5[i  
    精细vs.涂层反射率 [Nr6 qxWg  
    T/MbEqAf  
    :,y V?E6]  
    PDvqA{  
    精细度vs.涂层反射率 {l.) *#O  
    F N;X"it.  
    j\f;zb?F  
    内部谐振增强     *5sr\b4#S  
    _ mhP:O  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 }&d]Uv/4  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 G<9MbMG  
    a"EP`  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ZGSb&!Ke  
    =et=X_3-  
    VirtualLab Fusion技术 nYY@+%` ]z  
    [{ K$sd  
     b)(#/}jMkD  
     
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