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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 }f({03$  
    tv;3~Y0i  
                               4/d#)6  
    s"Kp+tTWj  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 \SMH",u  
    %Z}dY~:  
    建模任务     xt`znNN  
    zZE?G:isR  
    c=| a\\  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 1hMk\ -3S  
    r@n%  
     7unu-P<C  
    e`_3= kI  
    图层矩阵解算器 O&X-)g=  
    9ge$)q@3  
     ev+N KUi=  
    Wh4lz~D\@  
    fc\hQXYv  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Bq2}nDP  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 dm.3.xXq  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 :Mt/6}  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 |]B]0J#_  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     =]Ek12.  
    d&U;rMEv  
    更多的信息： "\V:W%23W{  
    oiR` \uY  
    总结-组件 jEI!t^#  
    lL83LhE}<  
     x'  
     ry U0x  
    pYa<u,>pN  
    两条光谱线的可视化 ,f1+jC  
    "n05y}  
     E]7G4  
    精细vs.涂层反射率  $hN!DHz  
    ;j52a8uE'}  
    W>, b1_k c  
    :)MZgW  
    精细度vs.涂层反射率 *'`-plS7  
    Ep'C FNbtW  
    O0Z'vbFG  
    内部谐振增强     'i@Y #F%D  
    g1}RA@9  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 /evh.S  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 p<J/J.E  
    Z> &PM06  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 "+AeqrYYm5  
    #:{u1sq;  
    VirtualLab Fusion技术 8.A; I<  
    ~7Jc;y&  
     MZ+"Arzb  
     
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