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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 :!*;0~#  
    eRWF7`HH+  
                               y0y;1N'KK  
    t2%bHIG}  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 n<(5B|~y  
    LW8{a&  
    建模任务     DD{@lM\vc  
    1:l&&/Wy  
    di P4]/%1  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ^eT>R,aB  
    ^Y*.Ktp,o  
     1*`JcUn,>  
    6'lT`E|  
    图层矩阵解算器 5'L}LT8p@  
    LYo7?rp  
     F v^80M=z  
    *[/Xhx"  
    c!FjHlAnP  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 [#h!3d|?B  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 H {Wpf9_ K  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Dve5m=  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 xB]v  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     V<I${i$]0  
    03jBN2[!  
    更多的信息： 1OwkLy,P  
    (ZR"O8  
    总结-组件 P VW9iT+c  
    #AnSjl  
    ?4||L8j2^  
     g \h7`-#t  
    49kia!FR  
    两条光谱线的可视化 w)>z3L m  
    G~L#v AY  
     2Ab#uPBn  
    精细vs.涂层反射率 gMMd=  
    !d@`r1t  
    I%WK*AORM  
    5"]2@@b4  
    精细度vs.涂层反射率 r:Tb{cA  
    ]ZATER)jq  
    KPcuGJ  
    内部谐振增强     rNO;yL4)ey  
    c&W.slE6  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 (:muxby%  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 x5Pt\/ow  
    1 ![bu  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 uk/+ i`=  
    V2* |j8|  
    VirtualLab Fusion技术 k.Nu(j"z  
    E%:zE Q  
     oh)l\  
     
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