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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 enWF7`  
    E]1\iV  
                               q^u6f?B  
    a_xQ~:H  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 %~ ;nlDw  
    uFMs ^^#  
    建模任务     Q1K"%  
    D1"1MUSod  
    a\.//?  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 'et(:}i  
    VvzPQk  
     $Gr4sh!cE  
    cvn-*Sj  
    图层矩阵解算器 DIL)7K4  
    BW+qp3k\  
     `>dIF.  
    A!n~8zcmp}  
    ;>cLbjD  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 /IrKpmbq  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 5ENov!$H  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 +k# mvPq  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 pq%t@j(X  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Bb$S^F(Xq  
    o:p{^D@#k  
    更多的信息： Q1]V|S;)X  
    -Mit$mFn  
    总结-组件 j*zB { s K  
    R:SIs\%o  
    kO /~i  
     PEMxoe<+  
    E!r4AjaC  
    两条光谱线的可视化 x(exx )w  
    1uK)1%vK  
     JDIz28Ww  
    精细vs.涂层反射率 {mKpD  
    cL-6M^!a  
    (or =f`  
    :7zI3Ml@7  
    精细度vs.涂层反射率 W66}\&5  
    Y}eZPG.h  
    B3ohHxHu  
    内部谐振增强     *fOS"-C L  
    $`cy'ZaF  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 |DdW<IT`0  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Z&2 &wD  
    #c8"  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Br_3qJNVP  
    %D%e:se  
    VirtualLab Fusion技术 @]}Qh;a~  
    AX!Md:s  
     h8Dtq5t4  
     
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