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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 d"+zDc;  
    ^*C+^l&J!  
                          
    DCb\ =E  
    A~Eu_m  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 . m_y5J  
    >Fm}s,  
    建模任务
    kZ+nL)YQ#  
    E%\iNU!  
    .+7GecYz  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 }N5>^y  
    (veGztt  
    vq *N  
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    图层矩阵解算器 m~~_iz_*  
    N<+ ><>9  
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    |,bsMJh0  
    ]#N2:ych  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 zp r`  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 k oo`JHC  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 U9IP`)z_5t  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 qUSImgg  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    In|:6YDL&  
    $rDeI-)S  
    更多的信息: g^(wZ$NH  
    C>Qgd9  
    总结-组件 c&2ZjM  
    <CJua1l\  
    ,+P!R0PNH  
    I,vy__ sZ  
    )JE;#m0q  
    两条光谱线的可视化 DW@PPvfs  
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    jcQ{,9 H`l  
    精细vs.涂层反射率 !!_K|}QOE  
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    qSj2=dlW  
    精细度vs.涂层反射率  ~%_$e/T  
    ?:Y{c#w>  
    "K`B'/08^  
    内部谐振增强
    O>xGH0H  
    9H ?er_6Yf  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Ixg.^>62  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 AD =@  
    aOfL;I  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 oC>e'_6_b  
    Z5;1ySn{  
    VirtualLab Fusion技术 VYkOJAEBg  
    /HgdTyR)  
    33|>u+  
     
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