-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-27
- 在线时间1930小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 ce{GpmW 8T'=lTJ
=R#K`H66j 07"dU
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Q5e ,[1 5y!
4ny_ 建模任务 p.q:vI$J V *=To
WYTeu " 具有高反射(HR)涂层的标准具 C~vU oC>QJ(o,8
Ebp^-I9.d 9Ot;R?>( 图层矩阵解算器 @oC8: (US]e
un
SoODss~X u~yJFIo =+q9R`!L] 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 4KE"r F 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 2 q J}5 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 Q7$ILW-S 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 buGW+TrWY 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 FG7}MUu ?eT^gWX 更多的信息: cb l@V 1 Q44Pg$jp 总结-组件 80cBLGG ~oI7TP
@`aR*B
^ Sx0t 4EzmH)4G 两条光谱线的可视化 rX6"w31 JwbC3t):@
s
bd;Kn 精细vs.涂层反射率 qIK"@i[
uq 6%NX|4_
.MuS"R{y <3z]d?u 精细度vs.涂层反射率 bL
(g$Yi !<]%V]5[_
+ex@[grsGT 内部谐振增强 9g+/^j^>?f S2K_>kvG)~ 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 F ^Rt
6Io 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 0\%/:2
Kxz<f>`b/ 注意: 传输值取自艾里图案的中心 JpE4 o2 blph&[`}I VirtualLab Fusion技术 @HJ&"72$< ?hvPPEJf
KDgJ~T
|