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摘要 F7*)u-4Yn KN657 |f
%Gyn.9\ Q8h0.(#- Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 )$i,e`T
$.d,>F6 建模任务 ]>Z9K@ uI?Z_
f R@Cg
sw 具有高反射(HR)涂层的标准具 ovM;6o 9DM,,h<`
P;z\vq<h nr
-< mQ 图层矩阵解算器 u<fZ.1
]ilLed
1Hr1Ir<KR 1|xe'w{ _z BfNz9D 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 NNqvjM- 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ak|
VnNa] 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 R?:Q=7K 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 yn]Sc<uK 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 i6n,N)%H &QfEDDJ 更多的信息: 1?|"33\03R R59iuHQ[ 总结-组件 9m2FH~ UxHI6,b
4D<C;>*/b
<W8%eRfU 7* Y*_cH5 两条光谱线的可视化 p~8 O6h@J ^c}3o|1m(
#9[> 精细vs.涂层反射率 ~!5Qb{^ ~>9G\/u j
^(C4Q?[2m @SxZ>|r-|v 精细度vs.涂层反射率 25vjn 1$sW rYdNn0mhk
fUWrR1 内部谐振增强 H{5,
-x zGg)R 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 X=m^+%iD 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 hLZfArq}
:ZB.I(v 注意: 传输值取自艾里图案的中心 %regt{ j[dZ*Jr_ VirtualLab Fusion技术
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