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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 eYg0 NEq{  
    5e'**tbKH  
                               JkNRXC:  
    f*[Uq0?  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 BQ~\p\  
    S.fb[gI]  
    建模任务     *^%ohCU i  
    VB+y9$Y'  
    Dd,]Y}P  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 e5sQl1  
     %B#8  
     kPp7;U2A  
    E-#}.}i5  
    图层矩阵解算器 ,xC@@>f  
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     i~*#z&4A+  
    DM !B@  
    Nu%MXu+  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ,NU`aG-  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 VSm{]Z!x  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 (Mt-2+"+  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 /3 ;t &]  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     xNxSgvco ,  
    eq36mIo  
    更多的信息： ;[j)g,7{  
    &o)eRcwH`  
    总结-组件 xR5zm %\  
    ~$ "P\iJ  
    h!]=)7x;  
     +@yTcz  
    ,fD#)_\g2  
    两条光谱线的可视化 (, uW-  
    n]WVT@  
     ,tHV H7[  
    精细vs.涂层反射率 s\ YHT.O?  
    iXuSFman  
    vHx[:vuq:  
    ]hi5 nA  
    精细度vs.涂层反射率 0\yA6`}!  
    A>J,Bi  
    (wZ/I(4  
    内部谐振增强     [-JU(:Rh  
    $2pkh%  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 b*"%E, ?  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 : ]~G9]R`  
    .L}k-8  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 V82N8-l  
    wy4 }CG  
    VirtualLab Fusion技术 qgw)SuwW  
    3g5 n>8-  
     VPXUy=W  
     
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