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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ).Ei:/*j  
    hR]AUH  
                               J:c]z9&!  
    \AT]$`8@_  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 MDo4{7  
    !/},k"p6  
    建模任务     %ys-y?r  
    qC%[J:RwF  
    M_4:~&N$  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 njk1x  
    p=U/l#xO  
     A|D]e)/6+B  
    iSZiJ4AUq  
    图层矩阵解算器 -C7IUat<  
    FZEK-]h.  
     ?rD`'B  
    6#JdQ[IP6  
    R`RLq1WA  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 B f_oIc  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 nA\9UD<G.  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 f.o,VVYi  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 -%U 15W;  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Vo\RtM/6{  
    5nGDt~a  
    更多的信息： =.]>,N`C  
    ?`nF"u>  
    总结-组件 g36\%L  
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    _PPW9US{  
     M =!RJ%6f  
    ~)zoIM\  
    两条光谱线的可视化 ? Q`Sx  
    t ._PS3  
     )m-l&UK  
    精细vs.涂层反射率 ;9{x""  
    86^xq#+Uw  
    Rv)!p~V8  
    l#FW#`f  
    精细度vs.涂层反射率 7I6bZ;}d  
    [Z5Lgg&  
    +G!N@O  
    内部谐振增强     !*0\Yi,6  
    Y=oj0(Q*  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Sv7_-#SW<(  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 .oJs"=h:m  
    %0PdN@I  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ::y+|V/  
    *aXZONym  
    VirtualLab Fusion技术 n.{+\M6k  
    ? [?{X~uq  
     >@yHa'*9S  
     
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