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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 nYFrp)DLK  
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                               <S041KF.{6  
    ]%)<9 ]}  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 w4vV#C4X  
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    建模任务     * <\K-NSL  
    +.Ij%S[Px5  
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    具有高反射(HR)涂层的标准具 XTo7fbW*  
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    图层矩阵解算器 ;~EQS.Qp  
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    y=Kqv^  
    kIVQ2hmv  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 P"8Ix  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 8o$rF7.-  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 yQE'!m  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 a:fP  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     mK[Z#obc=  
    ?: yz/9(  
    更多的信息： <Gi%+I@szl  
    n4/Wd?#`  
    总结-组件 qcS.=Cj?)  
    O\ZC$XF  
    Zd6ik&S   
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    wSN9`"  
    两条光谱线的可视化 x9vSekV  
    @PEFl"  
     c3^!S0U  
    精细vs.涂层反射率 @ph!3<(In,  
    OT%E|) 6'  
    ?T/]w-q>  
    z3jk xWAZ  
    精细度vs.涂层反射率 UqOBr2 UmG  
    u^~7[OkE  
    L~Gr,i  
    内部谐振增强     .eR1\IAm  
    > S>*JP  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 zj1~[$  (  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 1f`De`zXzr  
     Y~WdN<g  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 HIXAA?_eh=  
    ;=Ma+d#  
    VirtualLab Fusion技术 s-$ Wc) l  
    >R+-mP!nj  
     2 DQVl  
     
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