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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 R@;kY S  
    UF?qL1w  
                          
    emTqbO  
    }e1f kjWk  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 L9@nx7D  
    yAaMYF@  
    建模任务
    _/hWzj=q  
    )!3sB{ H  
    'v?Z~"w=  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 3d[fP#NY7  
    : x W.(^(d  
    .|!Kv+yD  
    GP1b/n3F1  
    图层矩阵解算器 h(ZZ7(ue  
    yH irm|o  
    L)kwMk  
    I t",WFE.  
    | X! d*4  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 : W^ k3/t  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 qEE V&  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 dxsPX =\:  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Dz8)u:vRS  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ~~z} yCl  
    Db@$'  
    更多的信息: ApR>b%  
    .O@T#0&=_  
    总结-组件 4 1q|R[js!  
    lx(kbSxF  
    C`Zz\DNG@  
    (/JiOg^cw  
    )17CG*K1  
    两条光谱线的可视化 c3lU  
    yC pU1 73V  
    s9X?tWuL  
    精细vs.涂层反射率 FbhF45H  
    |U)M.\h  
    t[VA|1gG  
    =)!sWY:  
    精细度vs.涂层反射率 4J{6Wt";  
    *d b,N'rK  
    G*^4+^Vz?  
    内部谐振增强
    >8PGyc*9  
    V^apDV\AV  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 k^K>*mcJ  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 XcL jUz?  
    5o2w)<d!  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 b@`h]]~:  
    [7 _1GSS1  
    VirtualLab Fusion技术 JS$ojL^  
    v[57LB  
    "n'kv!?\  
     
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