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摘要 G[q9A$yw +AK:(r
u3Do~RyL[ yL"i
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 F14(;'Az h#{T}[ 建模任务 )
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S?,_<GD)w 具有高反射(HR)涂层的标准具 ZPF7m{S b%nkIPA
vbKQ* E&%jeR 图层矩阵解算器 b}%g}L D 6+8mV8{-8
+a]j[# dYyW]nZ& baIbf@t/ 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 k
]bPI$ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
_>v0R' 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 $WNG07]tU 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 >tEK+Y|N} 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 <9\,QR) L*O>IQh2 更多的信息: NQ!<f\m4n ,xj3w#`zaf 总结-组件 OMd# ^z hrT%XJl
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Y 两条光谱线的可视化 WFj*nS^~l
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L *{QjH 精细vs.涂层反射率 "!a`ygqpT eKJ:?Lxv;
Bhx<g&|j gV.f*E1C 精细度vs.涂层反射率 1uC;$Aj6: #gI&lO*\gr
IM$0#2\ 内部谐振增强 WQ.i$ID/ ^vn\4 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ?C~X@sq 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 :Q=z=`*2w
!Y|8z\Q 注意: 传输值取自艾里图案的中心 d|3o/@k ;24'f-Eri VirtualLab Fusion技术 $vqU|]J` >3+FZ@.iT
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