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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 D3emO'`gQ  
    <AB.`["  
                               y|+ltAK  
    V6ioQx=K#  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 xR, ;^R|C  
    8@a|~\3-  
    建模任务     x{|n>3l`b9  
    9N'um%J3%s  
    {l7@<xZ??M  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 8c'0"G@S  
    &sx|sLw)  
     {M?!nS6t  
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    图层矩阵解算器 u? f3&pA  
    OQh36BM  
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    dkQA[/k  
    wzMWuA4vX  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 m~Dq0 T  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 cF[[_  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Eu )7@  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 'g a1SbA]  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     6zLz<p?  
    <>JDA(F"  
    更多的信息： @$79$:q N  
    Ffm Q$>S  
    总结-组件 '}5}wCLA  
    Sg<''pUh  
    #1zWzt|DW  
     Iq\sf-1E  
    uu>[WFh  
    两条光谱线的可视化 I#Tl  
    k- sbZL  
     `4&\ %9   
    精细vs.涂层反射率 {-S0m=  
    _pNUI {De  
    Drlt xI)  
    C({L4O#?o  
    精细度vs.涂层反射率 _V{WXsOx(  
    =I/J !}.  
    DoPm{055J  
    内部谐振增强     F,O+axO ja  
    yHt63z8'  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 hpXu3o7e  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 !T0IMI  
    "eQ96^'J  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 zPV/{)S  
    <UQ:1W8>B  
    VirtualLab Fusion技术 $vy.BY Fm  
    W{;!JI7;z  
     f8?K_K;\   
     
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