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摘要 ~f2H@# i NzoDmE*
@!^c@ 2t\a/QE)E Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 A\lnH5A +Tde#T&[ 建模任务 L.lmbxn ;PI=jp
4p&qH igG 具有高反射(HR)涂层的标准具 }S3m
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(BP| 图层矩阵解算器 k&ujr:)5Y5 X1!m]s(I
N%/Qc hu l%.3hId- cnC&=6=a< 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 GIsXv 2 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 m C_v!nL. 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 5 |{0|mP 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 =El.uBz{ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 q
.nsGbl A1Mr 更多的信息: `4}zB#3 W}+Q!T= 总结-组件 gvYa&N yC4JYF]JN
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