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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ,?K5/3ss  
    ?gU - a  
                               c;29GHs2  
    FLsJ<C~/~  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 A0.xPru1p  
    Y/mfBkh  
    建模任务     9nO&d(r g  
    wuCZz{c7  
    OPq6)(Q  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 dEf5x_TGm  
    jfvlkE-uK  
     XkW@"pf&Fh  
    vcy(!r  
    图层矩阵解算器 (Ww SisC~  
    o2YHT \P n  
     01aw+o  
    ZS3T1 <z  
    ept:<!4  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 S._h->5f  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 %0815 5M  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 SzG %%CXH_  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 X2~KNw  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ex|)3|J  
    +K=RMqM-8  
    更多的信息： "$"<AKCwS  
    Ym]rG 4  
    总结-组件 &&}c R:U,  
    I2z7}*<u  
    Vhm^<I-d  
     S]&i<V1qX  
    |CS&H2!s  
    两条光谱线的可视化 RzB64  
    b?9'-hK<  
     >X>]QMfh  
    精细vs.涂层反射率 }ZwnG=7T?  
    (Zy=e?E,  
    %z @T /  
    !P6y_Frpe  
    精细度vs.涂层反射率 7` XECIh  
    hB:+_[=Kj.  
    e [F33%  
    内部谐振增强     kl&_O8E+K  
    7vH4}S\ q  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 jd+HIR  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 b` 9Zin  
    gr>FLf   
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 % e70*;  
    >\5ZgC  
    VirtualLab Fusion技术 .R^]<b:`  
    xJvalb   
     G_5NS<JE"S  
     
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