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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 > Z++^YVE  
    'Q`C[*c  
                          
    x@ 6\Ob  
    IQoH@l&Xk  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 eE,;K1  
    Zsk?QS FE  
    建模任务
    CK Mv7  
    pVz pN8!  
    54wM8'+  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 )"-fHW+fy  
    z'e1"Y.  
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    图层矩阵解算器 X{'wWWZC  
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    =N;$0 Y(g  
    xiJz`KD&  
    c&A]pLn+x  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 I1~G$)w#  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 EaCZx  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 &*ZC0V3  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 .f+9 A>  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    Hp*gv/0  
    Z]p8IH%~92  
    更多的信息: aulaX/'-_  
    i&1U4q  
    总结-组件 s8yCC #H"  
    tnNZ`]qY  
    ^^'[%ok  
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    -D;lS 6  
    两条光谱线的可视化 BM.-X7)  
    n)Hk8)^8  
    Ef-a4Pi  
    精细vs.涂层反射率 ?{n>EvLY  
    at=D&oy4"+  
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    (}6wAfGo  
    精细度vs.涂层反射率 i@Vs4E[b  
    V!H(;Tuuo  
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    内部谐振增强
    ujow?$&  
    )2#vhMpdN  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ( -xR7A  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 \N4d_ fPj  
    BjwMb&a;  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 DqRLx85d1  
    mQFa/7FX  
    VirtualLab Fusion技术 |}%(6<  
    d RHlx QUn  
    HqB|SWyK  
     
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