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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 PY0j 9$i?  
    ,=mS,r7  
                               'Qo*y%{@5  
    {u9}bx'<  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 }#E[vRf  
    GDy9qUV  
    建模任务     \B 7tX  
    Y)a^(!<H<  
    {91nL'-'  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 1>&]R=  
     0{ [,E.  
     lu6(C  
    F*K_+ ?m  
    图层矩阵解算器 Jdp3nzM^^@  
    Z*2Vpnqh\  
     &(mR> mT  
    aoa)BNs  
    !#" zTj  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 T${Q.zHY[!  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 @oad,=R&  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 H]jhAf<h  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 E=w1=,/y  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     <V6VMYXY4  
    kn"(A .R  
    更多的信息： g|Fn7]G  
    FjI`uP  
    总结-组件 (NnH:J`  
    C C^'@~)?  
    A$xF$l  
     m7>JJX3=<  
    y Ej^=pw  
    两条光谱线的可视化 AjgF6[B  
    L`EBfz\n  
     Gm.]sE?.  
    精细vs.涂层反射率 fe#\TNeQJ[  
    x7x\Y(@  
    AlW66YAuQ  
    U2~kJ  
    精细度vs.涂层反射率 5RpjN: 3  
    =6|&Jt  
    VgC2+APg  
    内部谐振增强     ,$+V  
    klR|6u]%  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 f! .<$ih  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 r!a3\ep  
    yD6[\'%  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 r s?R:+  
    y[_Q-   
    VirtualLab Fusion技术 '1)$'   
     \qK&q  
     'W,jMju  
     
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