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摘要 KV0]m^@x 1=d6NX)B
Wa{` VS 9,:l8 Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 !
t?iXZ Z/Dx,zIR 建模任务 ?iWi ,)Znb=
7`DBS^O]dG 具有高反射(HR)涂层的标准具 H[U!%Z fof TP1
$Avjnm Dv5D~on{ 图层矩阵解算器 KUlp"{a`,K E/|To
-z)n?(pftm Y[}>CYO .$+#1- 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 "&G/T ?4 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Bg x'9p/ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 *zbNd:i9 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Whm,F^ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 ^:^9l1] 5m&9"T. w 更多的信息: vqDu(6!2 4.[^\N 总结-组件 !>..Q)z |
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_E@2ZnD2 rWa2pO 两条光谱线的可视化 &^}1O:8e D9^h;
8
v&DI`xn~ 精细vs.涂层反射率 `{3<{wgw CQF:Rnb
;g+N&)n "O3tq=Q 精细度vs.涂层反射率 Lo{
E:5q +hg3I8q:
/R]U}o^/(% 内部谐振增强 %Nlt H/I ^c"jH'#.L 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 $p#Bi-& 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 bzBEX mC
Y!-M_v / 注意: 传输值取自艾里图案的中心 +Vb.lH[av le|~BG hL VirtualLab Fusion技术 #+ 0M2Sa yVU^M?`#
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