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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 E&y)`>Nq{  
    wS#Uw_[  
                               un-%p#  
    )lS04|s  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 v^t7)nx^  
    3.BUWMD  
    建模任务     'r%(,=L  
     .nrbd#i-  
    0NZ'(qf~9  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 iO?^y(phC  
    ,&S0/j  
     S qb>a j  
    n9={D  
    图层矩阵解算器 KhB775  
    Q. O4R_H  
     ov,s]g83  
    5!qf{4j  
    !'F1Ht  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 2672oFD  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 XL.f `N.O  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 W7 Iy_>  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 xp95KxHHo  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     .qZz 'Eq[  
    FP=- jf/  
    更多的信息： xlwf @XW  
    ZZo<0kDk  
    总结-组件 u$[8Zmgzz  
    'hBnV xd&  
    SF-"3M  
     2!B|w8ar  
    ez[x8M>  
    两条光谱线的可视化 w[gt9]}N  
    q 9xA.*  
     [[AO6.Z  
    精细vs.涂层反射率 H(76sE  
    W#P\hx  
    8YlZ({f  
    jwE=  
    精细度vs.涂层反射率 H2: Zda#  
    U-1UWq  
    ;#v3C;  
    内部谐振增强     16 `M=R  
    {X(nn.GpC  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 9Q s5e  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 *,lDo9  
    vMou`[\WlJ  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 =oL:|$Pj  
    GyQFR?  
    VirtualLab Fusion技术 W9w(a:~hY  
    Ah7"qv'L\  
     ky[Cx!81C  
     
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