-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-06
- 在线时间1887小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 <Tf;p8# )v~]lk,o
LS'=>s" 'QF>e Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 "[yiNJ"kt ;kBies>V 建模任务 gN~y6c:N \<**SSN
S!_?# ^t 具有高反射(HR)涂层的标准具 K5&C}Ey1 VKz<7K\/
lvi:I+VgA /MH@>C
_ 图层矩阵解算器 ?` i/ DT4RodE$
u(702S4 Bq_P?Q+\ ~b0qrjF;O 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 S8m&Rj3O& 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 KTt$Pt/. 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 z D<9A6AB 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 *(B[J 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 uFZB8+ X>7]g670@ 更多的信息: 9'g{<(R] 7"p s#)O 总结-组件 <z2mNq E2'e}RQ
tY'QQN||
pVS2dwBqE y51D-vj 两条光谱线的可视化 yMl'1W DAHf&/JK
'hw@l>1\9 精细vs.涂层反射率 H^;S}<pxW @n*D>g
3Lki7QW` &xroms"S= 精细度vs.涂层反射率 Mk/!,N<h# ?0<INS~
o~_>p/7; 内部谐振增强 )+4}Ix/q Juqn
X 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 2%C5P0;QX 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 oV>AFs6
&iy(oM 注意: 传输值取自艾里图案的中心 r5fkt>HZ (Zg'pSs) VirtualLab Fusion技术 xWz;5=7a] h?3l
Cmx2/N
|