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摘要 <3d;1o _`H.h6h
)h#]iGVN} dXmV@ Noo Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 K*~]fy lWW+5 建模任务 t)` p@]j `>s7M.|X
*myG"@P4hW 具有高反射(HR)涂层的标准具 j`O7=- !lAD
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sONBQ9 _5mc(' 图层矩阵解算器 Z1M>-[j) +noZ<KFW
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O PocYFhWQ` 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ~3gru>qI& 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 &-M]xo^ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 \i!Son.< 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 EFAGP${F 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 Y2C9(Zk
U &rp!%]+xAM 更多的信息: tAjx\7IX {Hl[C]25X 总结-组件 oBA`|yW{U b;#\~(a
yPV'pT)
nU(DYHc+l V }>n 两条光谱线的可视化 Bn?:w\%Ue m
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XF|WCZUnY% 精细vs.涂层反射率 G/vC~6x 9AHSs,.t
&-%X:~|:X 4,G w#@ 精细度vs.涂层反射率 Tv5g`/e=Ej Tr& }$kird
X<]qU3k5 内部谐振增强 M"{uX oE?QnH3R 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 EVt?C+ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ymWgf6r<
e}0:"R%E 注意: 传输值取自艾里图案的中心 )4R:)-"f auHFir8f VirtualLab Fusion技术 /qU>5; dRI^@n
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