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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 }+{*, z  
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    5:l*Ib:s7  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ^A 11h6I  
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    建模任务
    KkdG.c'  
    ''(fH$pY  
    vn0cKz@  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 hi {2h04  
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    vJTfo#C|  
    ol?z<53X]  
    图层矩阵解算器 l&6U|q`  
    (:.Q\!aZ1  
    r,u<y_YW  
    t<!+b@l5  
    2fkIdy#n@  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 oh7#cFZZ0  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 io t.E%G  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 {?EEIfg  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 y:g7'+c  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ]RH=s7L  
    8 zQ_xE  
    更多的信息: ,bZ"8Z"lss  
    =2RhPD  
    总结-组件 +A8=R%&b)[  
    L4YVH2`0)  
    h1^9tz{  
    %_B:EMPd  
    '2|1%NSW9  
    两条光谱线的可视化 Z?~gQ $  
    |8&-66pX  
    M1AZ}b c0]  
    精细vs.涂层反射率 6}VUD -}B  
    .9T.3yQ  
    [;(]Jy  
    "n{9- VEmN  
    精细度vs.涂层反射率 YPF&U4CN  
    x @1px&^  
    +(;8@"u  
    内部谐振增强
    k~0#'I9  
    ? .c?Pu  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 5Y(r\Dd  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 0s 860Kn  
    _:wZmZU}  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 3C277nx  
    9 '2=  
    VirtualLab Fusion技术 (bg}an  
    "DVt3E  
    xK$}QZ)  
     
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