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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 js:C mnI  
    v}7@CP]nV  
                          
    l `fW{lh  
    /]ku$.mr\  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 o"'iX UJ  
    98ca[.ui  
    建模任务
    Eyr5jXt%;  
    d^KBIz8$5l  
    !( kX~S  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 zc6H o  
    5a=nF9/  
    jA4PDHf+  
    L7SEswMti  
    图层矩阵解算器 wn &$C0  
    Y3-]+y%l  
    '"oo;`g7  
    iKg75%;t  
    0Vf)Rw1%I  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 0-*Z<cu%l  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 !+m@AQ:,  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 .D+RLO z  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ]}BB/KQy^  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    FQ+8J7  
    *Y8XP8u/  
    更多的信息: ( FM4 ^#6  
    ,/~[S  
    总结-组件 YV*b~6{d  
    pPoH5CzcK  
    m])Lw@#9W  
    Xa4GqV9M/-  
    s>T`l  
    两条光谱线的可视化 2bWUa~%B  
    3f_i1|>)'  
    a]`itjL^  
    精细vs.涂层反射率 ^rL ,&rk  
    Was'A+GZ  
    zCBplb  
    f:xUPH?+  
    精细度vs.涂层反射率 Z,3 CC \  
    f7Yz>To  
    -<6v:Z  
    内部谐振增强
    !&W|myN^  
    A 6:Q<  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 5!~!j "q  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 F@9Y\. ,  
    o"RJ.w:dn  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 9J?W '8s5  
    Y=9j2 ]t  
    VirtualLab Fusion技术 m`'=)x|  
    9GThyY  
    /M:H9Z8!  
     
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