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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 kR-5RaW  
    :U;ZBs3  
                          
    m; LeaD}0  
    LNU9M>  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 5k}UXRB?  
    STB=#z  
    建模任务
    Z-j%``I?h  
    hpym!G  
    SIRZ_lt$r  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 CLD*\)QD\  
    C31SXQ  
    A]vQ1*pnk  
    oZ~M`yOz.  
    图层矩阵解算器 (#. )~poZ  
    $wVY)p9Q  
    _hLM\L  
    ni]gS0/  
    .Isg1qrC  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ZA ii"F  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 L+QEFQ:r5  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 Da8qR+*x  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 )5X7|*LP  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ? B^*YCo7(  
    aX1|&erI  
    更多的信息: rC<m6  
    rq6(^I  
    总结-组件 (N43?iv(  
    v1zJr6ra9  
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    ZWVcCa 3  
    两条光谱线的可视化 bd<zn*H Z*  
    n|L.d BAs]  
    f.'o4HSj  
    精细vs.涂层反射率 2Sb~tTGz79  
    Q_1EAxt  
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    t/S~CIA  
    精细度vs.涂层反射率 \aT._'=M+  
    12E@9s$Z  
    ^ tm,gh  
    内部谐振增强
    4k$BqM1  
    Tj*zlb4  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。  Jb {m  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 OH*[  
    o,Ew7~u  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 m&|?mTo>m  
    0  x"3  
    VirtualLab Fusion技术 x_(B7ob  
    WE`Y!  
    E9226  
     
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