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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 KV0]m^@x  
    1=d6NX)B  
                          
    Wa{`VS  
    9,:l8  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ! t?iXZ  
    Z/Dx,zIR  
    建模任务
    ?iWi  
    ,)Znb=  
    7`DBS^O]dG  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 H[U!%Z  
    fof TP1  
    $Avjnm  
    Dv5D~on{  
    图层矩阵解算器 KUlp"{a`,K  
    E/|To  
    -z)n?(pftm  
    Y[}>CYO  
    .$+#1-  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 "&G/T ?4  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Bg x'9p/  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 *zb Nd:i9  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Whm,F^  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ^:^9l1]  
    5m&9"T.w  
    更多的信息: vqDu(6!2  
    4.[^\N  
    总结-组件 !>..Q)z  
    | *2w5iR  
    $P^q!H4D  
    _E@2ZnD2  
    rWa2pO  
    两条光谱线的可视化 &^}1O:8e  
    D9^h; 8  
    v&DI`xn~  
    精细vs.涂层反射率 `{3<{wgw  
    CQF:Rnb  
    ;g+N&)n  
    "O3tq =Q  
    精细度vs.涂层反射率 Lo{ E:5q  
    +hg3I8q:  
    /R]U}o^/(%  
    内部谐振增强
    %Nlt H/I  
    ^c"jH'#.L  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 $p#Bi-&  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 bzBEX mC  
    Y!-M_v/  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 +Vb.lH[av  
    le|~BG hL  
    VirtualLab Fusion技术 #+ 0M2Sa  
    yVU^M?`#  
    _|kxY '_[8  
     
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