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摘要 'r~8 FIH@2zA
bn $)f6% TZe+<~4*i% Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 pg+b[7 sTiYf 建模任务 W/sY#" ^[#=L4
Ddb-@YD&+0 具有高反射(HR)涂层的标准具 /w0sj`;" +vf:z?I8
[~COYjp }7%9}2}Iw 图层矩阵解算器 >E,Q f_rp<R>Uu
Hoj8okP " rsSW3_ p+$+MeBz 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 0 <g{ V 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 \Dfm(R 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 guU=NQZ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 t ^m~ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 Y17hOKc` 40u7fojg2 更多的信息: _C20 +PMO +>!V]S 总结-组件
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wqP2Gw7jh6 zZ:xEc 两条光谱线的可视化 pl|h>4af i3P9sdTD
D*QYKW=) 精细vs.涂层反射率 E~qQai=] 1DqX:WM6
eeW`JG-E "TNVD"RLY 精细度vs.涂层反射率 hCAZ{+`z W&YU^&`Yr
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@2+ 内部谐振增强 _%B/!)v pM9yOY 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 |NJ}F@t/5 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 P\AqpQv
et` 0Je 注意: 传输值取自艾里图案的中心 !p',Za i $C-)d] VirtualLab Fusion技术 f!x[ln< +P)ys#=
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