切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 572阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6531
    光币
    26804
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 4Pr@<S"U  
    jg=}l1M"  
                          
    u$y5?n|  
    Mt(;7q@1c  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 3 bl l9Ey  
    )zvjsx*e=J  
    建模任务
    `'/1Ij+  
    uE,j$d  
    ?bl9e&/!  
    具有高反射(HR)涂层的标准具  uE3xzF  
    qJEtB;J'  
    8jU6N*p/  
    ZTK)N  
    图层矩阵解算器 r[RO"Ej"  
    ^uWj#  
    #i[V {J8.p  
    ,HfdiGs}j  
    0`"DYJ}d  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 M0"}>`1lJ  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Xm[Cgt_?  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 q%8Ck)xz  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 # l-/!j  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    17B`  
    ;2iDa  
    更多的信息: f&`yiy_  
    pDG>9P#mO  
    总结-组件 Ky6 d{|H  
    t-$Hti7Lk  
    h v/+  
    .0#{ ?R,  
    _&/2-3]\B  
    两条光谱线的可视化 'n!kqP  
    Ln&CB!u  
    yo"!C?82=  
    精细vs.涂层反射率 o.KE=zp&z  
    |NXe{q7{  
    :A]CD (  
    4W36VtQ@E  
    精细度vs.涂层反射率 ue"e><c6:  
    ?/^x)Nm  
    L QA6iZBP  
    内部谐振增强
    ed4`n!3  
    HWi: CDgm  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 .vhEm6wJUM  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 t Ai?Bjo  
    BZAF;j  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 G;v3kGn  
    Q@? {|7:  
    VirtualLab Fusion技术 q OX=M  
    RS /*Dp^  
    n% ={!WD  
     
    分享到