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摘要 EcytNYn 'Zex/:QS qOQ8a:]? hfc~HKLC Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 i;qij[W. z 5mL4Zq" 建模任务 rOYYZ)Qw C*RPSk g%ys| 具有高反射(HR)涂层的标准具 2*gB ~Jn4 5}5oj37x 6h&t%T h~._R6y 图层矩阵解算器 h'vBWtMa 3)e{{]6 211T}a [T[]U :1"k`AG 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Bz%wV- 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 k%sxA 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 ApggTzh@ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ,j(E>g3 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 Ck
m:;q 9R-2\D] 更多的信息: g{>0Pa1?C oRg,oy 总结-组件 %SCt_9u &b%2Jx[+ MU '- ;V f{3 p*1B*R 两条光谱线的可视化 d}|z+D {+5Ud#\y 3-Xd9ou 精细vs.涂层反射率 "So"oT1 /74h+.amg 7dE.\#6r ?Ycl!0m 精细度vs.涂层反射率 S
{+Z.P f+)LVT8p (KPD`l8. 内部谐振增强 =CdrhP_ JIYzk]Tj 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 |-cXb.M[ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 gg#lI| tef>Py 注意: 传输值取自艾里图案的中心 X68.*VHh0 )>"Ky VirtualLab Fusion技术 r%$\Na'' LZ&I<ID`- ]HXHz(?;F
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