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摘要 uNnwz%w h*hV
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{g~x <Ebkb3_ Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ?ZSG4La\ !EM21Sc 建模任务 `QR2!W70o3 w2~(/RgO
i~z:Fe{ 具有高反射(HR)涂层的标准具 ,ewg3mYHC& *|Re,cY
n/s!S & <uL?7P 图层矩阵解算器 UL[4sv6\9 bm1ngI1oI
7F`QN18>( _\"P<+! B>o\;) l3O 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 nl5K1!1 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 )1j~(C)E8 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 i TD}gC 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ,-c(D-& 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 c0<Y017sG SlZL%C; 更多的信息: ;lX:EU V{Idj\~Jh 总结-组件 Q|gun} %8$JL=c
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~A8lvuw3 uA!T@>vl 两条光谱线的可视化 A>>@&c:( Eg-b5Z);
"MC&!AMv 精细vs.涂层反射率 ' QT(TF> qvYYKu
:v{$]wg Ffj:xZ9rk 精细度vs.涂层反射率 j\dkv_L rxa"ji!)
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a 内部谐振增强 <?qmB}Y D{'Na5( 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 L{^DZg|E 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 -#gb {vj
@dCu]0oNI 注意: 传输值取自艾里图案的中心 \U !<- q3NS?t! VirtualLab Fusion技术 ^ ?tAt3dMI -&,NM
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