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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 R\VM6>SN'S  
    Z#Q)a;RA  
                               IJnh@?BC  
    ~4MUac^w  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 'OERW|BO  
    ~sk{O%OI  
    建模任务     \@%sX24D  
    S zqY@  
    >%PPp.R  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Z,x9 {  
    Po+tk5}''5  
     z'9Mg]&>  
    0nX.%2p#Je  
    图层矩阵解算器 F| ib=_)3  
    ]t'bd <O  
     zSU06Y  
    n-%8RV  
    \q |n0>  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 9S _N*wC.  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 y%9Q]7&=  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 `U~Y{f_!H  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 c[a1 Md&  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     tOu:j [  
    E#cW3\)  
    更多的信息： dE[_]2];P  
    T-'B-g  
    总结-组件 GNv5yWQ@  
    cdH Ug#  
    `6t3D&.u0  
     p| #gn<z}  
    [;]@PKW?w  
    两条光谱线的可视化 ;~Em,M"o  
    |B0.*te6  
     8/4Gr8 o  
    精细vs.涂层反射率 rX8EXraO  
    H=7z d|W  
     ;7F|g  
    4]\t6,Cz8  
    精细度vs.涂层反射率 YBX7WZCR  
    r7I,%}k  
    $B iG7,[#  
    内部谐振增强     ;[_w&"[6a  
    :EUV#5V.  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 YS_9M Pi  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Kk^tQwj/QE  
    mndUQN_Gb  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 mQ9%[U,  
    D4"](RXH  
    VirtualLab Fusion技术 g>[|/z P  
    LRhq%7p7  
     bW`@9 =E  
     
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