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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ,+`HQdq  
    -r<#rITH"  
                               ?kTWpXx"=  
    CSTI?A"P  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 >9H@|[C  
    n6MM5h/#r  
    建模任务     uuNR?1fS  
    WC,+Cn e  
    =JS;;PzX[  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 C/=XuKE-t  
    vUA0FoOp  
     ;sPoUn s'  
    m ee$"Y  
    图层矩阵解算器 l@JSK ;  
    &fOdlQ?  
     4)6xU4eBaL  
    0d^Z uTN  
    &a,OfSz  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 V\]" }V)"  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 FV39QG4b4  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 BvD5SBa}"  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 C? 4JXW  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     S6d`ioi-  
    E.`U`L  
    更多的信息： laKuOx}  
    Ih}1%Jq  
    总结-组件 FR[ B v  
    `d]IX^;  
    V/d/L3p  
     )E#2J$TD  
    :O<bA& :d  
    两条光谱线的可视化 l_tw<`Ep  
    DQ#H,\ ^<  
     YevyN\,}V!  
    精细vs.涂层反射率 YgUH'P-  
    cF)/^5Z  
    )d\ j I  
    "9EE1];NT  
    精细度vs.涂层反射率 A>`945|  
    !" #9<~Q,p  
    J5p"7bc  
    内部谐振增强     6qWdd&1  
    CT9   
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 57a2^  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 cJo\#cr  
    =L|tp%!  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 O,bkQY$v  
    ?3ig)J,e[  
    VirtualLab Fusion技术 =<r8fXWZ  
    i,A#&YDl  
     Zn=T#o  
     
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