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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 uNnwz%w  
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                               zQ {g~x  
    <Ebkb3_  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ?ZSG4La\  
    !EM21Sc  
    建模任务     `QR2!W70o3  
    w2~(/RgO  
    i~z:Fe{  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ,ewg3mYHC&  
    *|Re,cY  
     n/s!S &  
    <uL?7P  
    图层矩阵解算器 UL[4sv6\9  
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     7F`QN18>(  
    _\"P<+!  
    B>o\;)l3O  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 nl5K1!1  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 )1j~(C)E8  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 iTD}gC  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ,-c(D-&  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     c0<Y017sG  
    SlZL%C;  
    更多的信息： ;lX:EU  
    V{Idj\~Jh  
    总结-组件 Q|gun}  
    %8$JL=c  
    R^](X*  
     ~A8lvuw3  
    uA!T@>vl  
    两条光谱线的可视化 A>>@&c:(  
    Eg-b5Z);  
     "MC&!AMv  
    精细vs.涂层反射率 'QT(TF>  
    qvYYKu  
    :v{ $]wg  
    Ffj:xZ9rk  
    精细度vs.涂层反射率 j\dkv_L  
    rxa"ji!)  
    /GM-#q a  
    内部谐振增强     <?qmB }Y  
    D{'Na5(  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 L{^DZg|E  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 -#gb {vj  
    @dCu]0oNI  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 \U !<-  
    q3NS?t!  
    VirtualLab Fusion技术 ^ ?tAt3dMI  
    -&,NM  
     .[ 1A  
     
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