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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 X+kgx!u'y  
    > PK 6CR  
                               (z  9M  
    i"d&U7Q  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 t-Uo  
    <S3s==Cg  
    建模任务     %ty`Oa2  
    \![ p-mW{  
    Gj^*  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 +t%1FkI\  
    3 #"!Hg  
     )kDB*(?  
    -G(#,rXk  
    图层矩阵解算器 1YN w=  
    89Ir}bCr  
     K5!OvqzG  
    H3L uRGe&2  
    yw1-4*$c  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 eZBC@y  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 72ZoN<c  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 K[yP{01  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 AQwai>eL  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ]=ADX}  
    W*B=j[w  
    更多的信息： >t{-_4Yv?  
    9oYE  
    总结-组件 +Fb+dU  
    d hjX[7Bl9  
    2"HG6"Rr  
     ! (Q[[M  
    \/64Xv3L0  
    两条光谱线的可视化 0S96x}]J B  
    sI.p( -K Q  
     [&g"Z"  
    精细vs.涂层反射率 ,^RZ1tLz  
    Dt! <  
    7>=  
    `<{LW>Lb  
    精细度vs.涂层反射率 P=PeWX*L<Z  
    ?) T@qn+  
    e+V8I&%  
    内部谐振增强     zz!jt A  
    K|Eelhm  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 IXG@$O?y/  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 5|cRHM#  
    --EDr>'D5P  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 $6(a6!  
    N<ux4tz  
    VirtualLab Fusion技术 ?GlXxx=eV  
    r.lHlHl  
     A{e>7Z72  
     
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