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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 fUZCP*7>  
    3sDyB-\&  
                               lI@Z)~  
    ,fo7. h4{  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 XXeDOrb  
    A$L:,b(  
    建模任务     G&4D0f  
    K??jV&Xor  
    _Ih"*~ r/&  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 fB'Jo<C  
    fuWAw^&  
     uA cvUN-@  
    S"`{ JCW$  
    图层矩阵解算器 ~RZN+N  
    ;ULw-&]P  
     Ds{bYK_y  
    <vu~EY0.  
    ++ObsWZ  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 w{]B)>! 1W  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Z Z c^~  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 B~,?Gbl+g  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 3K/]{ dkD  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     l>J%Q^  
    i~*6JB|  
    更多的信息： Cv p#=x0  
    TJB4N$-}A  
    总结-组件 b{X.lz0  
    SzFh  
    `m$,8f%j6_  
     JIc9csr:b  
    yA7O<p+  
    两条光谱线的可视化 >y!O_@>z  
    i.7$~}  
     ^;?w<9Y  
    精细vs.涂层反射率 $}EARW9  
    "cbJ{ G1pk  
    !"aGo1 $$  
    YfNN&G4_  
    精细度vs.涂层反射率 _T=";NSa  
    9_Z_5w;h  
    *$/Go8t4u  
    内部谐振增强     >,rzPc)  
    rxZk!- t)L  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 gLx?0eBBA  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 u{dkUG1ia  
    5r;)Ppo  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ^{NN-  
    WMFn#.aY5  
    VirtualLab Fusion技术 =w:H9uj6F  
    R/6 v#9m7  
     d[E= HN  
     
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