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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 i\=z'  
    OuOk=  
                               Y{k>*: Ax_  
    =ze FK_S!  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 zU f>db  
    gEr4zae  
    建模任务     c Ndw9?Z  
    a -xW8  
    dSOlD/c  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 QP6z?j.  
    24T@N~\g  
     ^Yj"RM$;N  
    K-J|/eB  
    图层矩阵解算器 ="uKWt6n'  
    _\ .  
     R* s* +I  
    'oz hz2s  
    e#>tM  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 J0^{,eY<  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 hc-lzYS  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 (Ij0AeJ#  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ]>tq|R78  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     =2^Vgc  
    5^)?mA  
    更多的信息： jja{*PZ6H  
    ds- yif6   
    总结-组件 K*_-5e  
    ?VFM ]hO  
    Da"yZ\4  
     - #3{{  
    Q]< (bD.7  
    两条光谱线的可视化 12idM*  
    C&=x3Cz  
     Vy]A,Rn7  
    精细vs.涂层反射率 Xo2^N2I  
    bfFmTI$,  
    S8\+XJ  
    |<sf:#YzY&  
    精细度vs.涂层反射率 wD`[5~C{  
    ,{?wKXJ}L!  
    +H7y/#e+3  
    内部谐振增强     _3|6ZO  
    Ba<ngG !  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 kEO1TS  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 z VdKYs i^  
    g;8M<`qvf  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 cn$5:%IK  
    V|TA:&:7  
    VirtualLab Fusion技术 AWO0NWTB  
    9hy'DcSy,  
     &`\ep9  
     
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