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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 t 4tXLI;'  
    /b~|(g31"  
                               ]2'{W]m  
    2_#V w&v  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 cb9q0sdf  
    _+x&[^gjP  
    建模任务     A]CO Ysc  
    ]Qb85;0)  
    -~ 5|_G2Y"  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 qra5&Fvb  
    Ex3V[v+D(  
     kpt 0spp  
    SSG}'W!z  
    图层矩阵解算器 c=A)_ZFg  
    *O@uF4+!1  
     dr8`;$;G*  
    KgMW  
    ]>\!}\R<  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ;*_U)th  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Uq}-<q  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 K\]I@UTwq  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 "lJ [H=\  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Kv26rY8Q  
    M,nLPHgK  
    更多的信息： Z )f\^  
    fb||q-E  
    总结-组件 !O~5<tA[#1  
    N#? Ohz  
    4)=\5wJDg1  
     :6Oh?y@  
    =2yg:D  
    两条光谱线的可视化 56R)631]p  
    }R -azN;  
      j,c8_;X!  
    精细vs.涂层反射率 dJ0qg_ U&  
    Yh}F  
    Z>#MTxU(  
    CH/*MA  
    精细度vs.涂层反射率 &\0V*5tI  
    \x_fP;ma=_  
    D3+UV+&R/  
    内部谐振增强     ve|`I=?2  
    yIdM2#`u  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ihr l!A5  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ix=H=U]Q{  
     Py)'%e  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 N<54_(|X  
    =_/,C  
    VirtualLab Fusion技术 4&c7^ 4w~  
    FOU^Wcop%  
     =5-|H;da  
     
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