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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 .noY[P 8i  
    @hOY&  
                               =Ajw(I[56  
    K5d>{c  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 OgyHX>}bH  
    JG'&anbm  
    建模任务     -.vNb!=  
    4+0:(=>[%  
    Qhn>aeW,  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 4f,%@s)zn  
    MCfDR#a  
     A Rjox`  
    )$FwB6^  
    图层矩阵解算器 (K> 4^E8  
    E`3[62C  
     fAeq(tI=  
    9t0NO-a  
    *IC9))PGJ  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 }Q>??~mVl  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 =ThacZHb8  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 :B4X/  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ()@+QE$  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     cz*Z/5XH  
    >K;C?gHo  
    更多的信息： #c2JWDH1F  
    as@I0e((  
    总结-组件 j&=!F3[  
    k%ckV`y  
    ]4oF!S%F  
     |Ns[{/  
    ;z^C\=om  
    两条光谱线的可视化 KZTT2KsYl  
    >PiEu->P,  
     :mz6*0qW  
    精细vs.涂层反射率 sBu- \P#  
    'd=B{7k@  
    5ayH5=(t  
    @{UtS2L  
    精细度vs.涂层反射率 rM(2RI4O`0  
    I)X33X,  
    3 +$~l5LY  
    内部谐振增强     :+\B|*T2.L  
    #a"gW,/K  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 aUX.4#|%  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 4o*wLCo7^  
    xD<:'-ri>  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 N[AX]gOJ  
    keWqL]  
    VirtualLab Fusion技术 a-7T   
    '}NQ`\k  
     yGtGhP8  
     
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