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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ~s]iy9i  
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    jO1r)hw N>  
    @EnuJe  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 5 ({t4dm  
    5`gQ~   
    建模任务
    .xH5fMj,"  
    OG~6L4"  
     f-E( "o  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 &'}RrW-s  
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    PSZL2iGj9V  
    lMg+R<$~I  
    图层矩阵解算器 Zy(W^~NT  
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    4bw4cqY;  
    EodQ*{l  
    /5:bvg+  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 1][S#H/?  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 [`rba'  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。  .5y+fL  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 zBk'{[y9L  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    h?8]C#6^  
    aM:nOt" S1  
    更多的信息: zN:K%AiGxe  
    /|eA9 ]  
    总结-组件 0QOBL'{7)  
    =aoMii   
    #EsNeBu  
    p~,]*y:XT  
    K3x.RQQ-  
    两条光谱线的可视化 ~?FpU  
    ^]a#7/]o  
    li 6%)  
    精细vs.涂层反射率 nEkR1^30  
    zOa_X~!@  
    _G.>+!"2/  
    <-D0u?8  
    精细度vs.涂层反射率 %^>ju;i^O  
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    A3S<.. g2  
    内部谐振增强
    52,m:EhL  
     )8UWhl=  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 /(BMG/Tb  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 tGl;@V@Qj  
    -cSP _1  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 _Gjk;|Sx<I  
    p-/|mL  
    VirtualLab Fusion技术 CCWg{*og  
    *?Kr*]dnLl  
    T<w5vqFDu  
     
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