-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-01-20
- 在线时间1915小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 { .?/) )sT> i
l(#)WWr+ =3v]gOcO Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 _hk.2FV:3m a.zpp'cEb 建模任务 7!N2-6GV "T- `$'9
::/j$bL 具有高反射(HR)涂层的标准具 k Zq!& :*2ud (
/ID?DtJ %p0xM 图层矩阵解算器 ]S5JUAGkE* *~x/=.}
Vkc#7W( L:'J
Bhg
l
c '=mA 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 2Roc|)-47 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 9\DQ>V TQ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 TU
1I} , 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 'uxX5k/D@t 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 I'0@viF"Nx =%BZ9,l 更多的信息: $
<#KA3o\ qhz]Wm P 总结-组件 G"XVn~]
({=gw9f
ez6EjUk
qm8&*UuKJ .?Gd'Lp 两条光谱线的可视化 n .RhxgC< .8G@%p{,
aqc?pqM
精细vs.涂层反射率 4BKI-;v$ WpRc)g:
AlIpsJ[UU E!P yL>){ 精细度vs.涂层反射率 O~^" !!? Mw
X]dwX%:Z!j 内部谐振增强 9& 83n(m jYhB
+| 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 5)MS~ii 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 i0$kit
8Bjib&im 注意: 传输值取自艾里图案的中心 B,=H@[Fj Ch3jxgQY VirtualLab Fusion技术 k|H: Yn G_m]
-B$2\ZE
|