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摘要 ~s]iy9i p%*%n3bw
jO1r)hw N> @EnuJe Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 5
({t4dm 5`gQ~ 建模任务 .xH5fMj," OG~6L4"
f-E("o 具有高反射(HR)涂层的标准具 &'}RrW-s Od%"B\
PSZL2iGj9V lMg+R<$~I 图层矩阵解算器 Zy(W^~NT lJis~JLd`
4bw4cqY; EodQ*{l /5:bvg+ 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
1][S#H/? 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 [`rba' 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。
.5y+fL 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 zBk'{[y9L 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 h?8]C#6^ aM:nOt" S1 更多的信息: zN:K%AiGxe /|eA9 ] 总结-组件 0QOBL'{7) =aoMii
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p~,]*y:XT K3x.RQQ- 两条光谱线的可视化 ~?FpU ^]a #7/]o
li 6%) 精细vs.涂层反射率 nEkR1^30 zOa_X~!@
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<-D0u?8 精细度vs.涂层反射率 %^>ju;i^O J_v$YwE
A3S<..g2 内部谐振增强 52,m:EhL )8UWhl= 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 /(BMG/Tb 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 tGl;@V@Qj
-cSP_1 注意: 传输值取自艾里图案的中心 _Gjk;|Sx<I p-/|mL VirtualLab Fusion技术 CCWg{*og *?Kr*]dnLl
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