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摘要 |j<b? [:TOU^
$kvF]|<bu *5.s@L( VU Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 a~DR$^m cAV9.VS<L 建模任务 a[[u>oHyd thl{IU
3RZP 12x 具有高反射(HR)涂层的标准具 Ojr{z 2?nK71c"
TOeJnk JrQ*.lJj 图层矩阵解算器 CKmoC0. 8L9xP'[^
Uw)?u$+
P B/c_pRl; bJmVq%>; 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 w91{''sK 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 "ALR)s,1, 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 #Kn=Q 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
9 k)?- 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 !!%vs
6 \[%[`m 更多的信息: -r_z,h| p&_Kb\}U 总结-组件 S%R:GZEf_ VSc;}LH
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My&h{Qk r8pTtf#Q 两条光谱线的可视化 *ukE"Aj kQRNVdiz
/<\>j+SC 精细vs.涂层反射率 3^xTZ*G GX4# IRq
]<WKi= "|gNNmr 精细度vs.涂层反射率 .zAB)rNc
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3&/5!zOg) 内部谐振增强 `[0.G0i 9mIq9rQ|* 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 W1w)SS 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Ps4spy0Fp
RM|<(kq 注意: 传输值取自艾里图案的中心 XwOj`N{!H N0,.cd]y` VirtualLab Fusion技术 /~'ZtxA H^Ik FEVs
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