切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 674阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6659
    光币
    27444
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 &wJ"9pQ~6E  
    Kxg09\5i  
                          
    g$ h!:wW  
    qz 'a.]{=  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。  j%lW+ [%  
    j=7]"%  
    建模任务
    /<@oUv  
    (g 8K?Q  
    [mhY_Hmz]  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 XG0,@Ly  
    ! !9V0[  
    x ` $4  
    E 0YXgQa  
    图层矩阵解算器 >y1/*)O9~  
    '+$2<Ys  
    DpA)Z ??  
    ^OUkFH;dG?  
    #JVcl $0Y  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 TO QvZ?_  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 I)6)~[:'  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 JI.ad_IR  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 wJ{M&n1H  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    "B.l j)  
    _r&#Snp  
    更多的信息: [Ga 9^e$Zv  
    do G&qXw  
    总结-组件 mFT[[Z#  
    c| E  
    oYu5]ry  
    I` /'\cU9  
    L|v1=qNH4  
    两条光谱线的可视化 Fd2zvi  
    xD1w#FMlQs  
    u ; I5n  
    精细vs.涂层反射率 &D/_@\ 0  
    TK'(\[E  
    $"sf%{~  
    <#:"vnm$j  
    精细度vs.涂层反射率 k)4   
    qUCiB}  
    <MY_{o8d  
    内部谐振增强
    pmfyvkLS  
    .a$][Jny  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 t0/fF'GZD  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 .x}ImI  
    BVG 3 T  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 !IP[C?(nB  
    9v^MZ ^Y{  
    VirtualLab Fusion技术 NX$$4<A1  
    ;gf^;%FK  
    #qHo+M$"  
     
    分享到