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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 &m'kI  
    w*!wQ,o  
                               $g\&5sstE  
    \8v91g91f  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 p]&j;H.  
    jna;0)  
    建模任务     !m y8AWO'  
    *@S@x{{s  
    uzU{z;  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 4na8  
    L^0v\  
     p{tK_ZBy]c  
    B$a-og(  
    图层矩阵解算器 ,/2LY4` 5  
    w# y2_  
     @wN G  
    z@U} ~TvP  
    D$r Uid  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 5<+K?uhm  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 &t}?2>:  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 VLvS$0(}Z  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 (?i[jO||B  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Akk 3 Qx  
    "8<K'zeS8  
    更多的信息： ZFn(x*L  
    !{UTD+|=N  
    总结-组件 ~)X[(T{  
    ;)hw%Z]Jj$  
    Dd $qQ  
     3MBN:dbQ  
    = [@)R!3H  
    两条光谱线的可视化 WlwY <)  
    x_<qzlQt  
     4 J^Q]-Z  
    精细vs.涂层反射率 !!,0'c  
    L'A)6^d@S  
    !DXNo(:r  
    > s EjR!  
    精细度vs.涂层反射率 -j2 (R?a  
    u'5`[U -!  
    c z'5iK  
    内部谐振增强     a \5FAkI  
    Ao.\  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 vZAv_8S)  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 &X>7n~@0  
    (/{aJV  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心  Lc2QXeo8  
    1 Y/$,Oa5  
    VirtualLab Fusion技术 ]7YNIS  
    |Ul,6K@f"5  
     zc+@lJy  
     
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