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摘要 PY0j9$i? ,=mS,r7
'Qo*y%{@5 {u9}bx'< Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 }#E[vRf GDy9qUV 建模任务 \B
7tX Y)a^(!<H<
{91nL'-' 具有高反射(HR)涂层的标准具 1>&]R= 0{[,E.
lu6(C F*K_+
?m 图层矩阵解算器 Jdp3nzM^^@ Z*2Vpnqh\
&(mR>
mT aoa)BNs !#"zTj 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 T${Q.zHY[! 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 @oad,=R& 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 H]jhAf<h 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 E=w1=,/y 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 <V6VMYXY4 kn"(A.R 更多的信息: g|Fn7]G FjI`uP 总结-组件 (NnH:J` CC^'@~)?
A$xF$l
m7>JJX3=< yEj^=pw 两条光谱线的可视化 AjgF6[B L`EBfz\n
Gm.]sE?. 精细vs.涂层反射率 fe#\TNeQJ[ x7x\Y(@
AlW66YAuQ
U2~kJ 精细度vs.涂层反射率 5RpjN: 3 =6|&Jt
VgC2+APg 内部谐振增强 ,$+V klR|6u]% 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 f!
.<$ih 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 r!a3\ep
yD6[\'% 注意: 传输值取自艾里图案的中心 r s?R:+ y[_Q- VirtualLab Fusion技术 '1)$' \qK&q
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