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摘要 R@;kYS UF?qL1w
emTqbO }e1f kjWk Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 L9@nx7D yAaMYF@ 建模任务 _/hWzj=q ) !3sB{H
'v?Z~"w= 具有高反射(HR)涂层的标准具 3d[fP#NY7 :
xW.(^(d
.|!Kv+yD GP1b/n3F1 图层矩阵解算器 h(ZZ7(ue yH irm|o
L )kwMk I t",WFE. |
X! d*4 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 :W^
k3/t 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 qEE
V& 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 dxsPX=\: 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Dz8)u:vRS 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 ~~z}yCl Db@$' 更多的信息: ApR>b% .O@T#0&=_ 总结-组件 4 1q|R[js! lx(kbSxF
C`Zz\DNG@
(/JiOg^cw )17CG*K1 两条光谱线的可视化 c3lU yCpU173V
s9X?tWuL 精细vs.涂层反射率 FbhF45H |U)M.\h
t[VA|1gG =)!sWY: 精细度vs.涂层反射率 4J{6Wt"; *d b,N'rK
G*^4+^Vz? 内部谐振增强 >8PGyc*9 V^apDV\AV 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 k^K>*mcJ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 XcLjUz ?
5o2w)<d! 注意: 传输值取自艾里图案的中心 b@`h]]~: [7_1GSS1 VirtualLab Fusion技术 JS$ojL^ v[57LB
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