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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 zDY!0QZLF\  
    ,EW-21  
                               #/t^?$8\\  
    uiDK&@RS  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 $-Q,@Bztq  
    "exph$  
    建模任务     EY;C5P4  
    {E!ie{~  
    A-r-^S0\  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 kL,bM.;  
    oqOv"yLJ:  
     Iq.*2aff+  
    aH'Sz'|E  
    图层矩阵解算器 <*0^X%Vf\  
    0 } uEM_a  
     Epsc2TuH7  
    ac6Lv}w_  
    B<(v\=xZ  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Az[Yvu'<  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 vK)^;T ;  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 .]g>.  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 U)a}XRS  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     F`-|@k  
    '`=z52  
    更多的信息： |,L_d2lb  
    wQJY,|.  
    总结-组件 R"#DR^.;  
    d:}aFP[  
    xM}lX(V!w  
     @x?7J@:  
    j_c0oclSz  
    两条光谱线的可视化 i6M_Gk}  
    EaGh`*"w(7  
     szN`"Yi){  
    精细vs.涂层反射率 dQLR%i#P8  
    B'>(kZYMs  
    !mH2IjcL  
    8nw_Jatk1  
    精细度vs.涂层反射率 o%X@Bz  
    XNkw9*IT  
    z8FeL5.(  
    内部谐振增强     KW|X\1H  
    vQ"EI1=7Z  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 H5uWI  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 k/hE68<6i  
    K*jV=lG  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 O?|opD  
    >7. $=y8b  
    VirtualLab Fusion技术 J(F]?H  
    9MA/nybI  
     cN_e0;*Ua  
     
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