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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 5VV}wR  
    Oin9lg-jR  
                               7Jlkn=9e:  
    n- 2X?<_Z  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 W q<t+E[  
    fF)Q;~_VA  
    建模任务     6&x\!+]F8  
    tkctwjD  
    1@v <  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 $Er=i }`  
    =#u4^%i)  
     !ekByD  
    [8 Pt$5]^  
    图层矩阵解算器 *Y(59J2  
    Ow4_0l&  
     zhw*Bed<  
    2{h2]F  
    6o^>q&e}%  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 yq-~5ui  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 2?~nA2+vm  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 8@rYT5e3c  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 R0=f`;  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     i%9vZ  
    WRD z*Zf  
    更多的信息： eaFkDl  
    kD#n/R Bgf  
    总结-组件  Lw\u{E@  
    rL-R-;Ca  
    G0 EXgq8  
     "\@J0 |ppb  
    y8$3kXh  
    两条光谱线的可视化 {P6Bfh7CZ  
    dT0W8oL  
     futYMoV  
    精细vs.涂层反射率 QDn_`c  
    ^# $IoW  
    pX_  
    4;L|Ua  
    精细度vs.涂层反射率 4C`RxQJM  
    >2s6Y  
    MUl`0H"tR  
    内部谐振增强     ''9]`B,:a0  
    0HWSdf|w  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 k)3N0]q6  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 O H>.N"IG  
    yc*cT%?g  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 tCrEcjT-  
    wK2$hsque  
    VirtualLab Fusion技术 x~5,v5R^]  
    c6F?#@?   
     %O9Wm_%  
     
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