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摘要 F[.IF5_ Vt9o8naz
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zc\@( <!|=_W6 Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 td#m>S *1>T c,mb 建模任务 =aehhs> PM {L}tEQ
K:pG<oV|} 具有高反射(HR)涂层的标准具 6skd>v UU )oS~ish
~$Z_#,|i? y G>sBc 图层矩阵解算器 X<1ymb3 0nlh0u8#
=)]RD%Oq kYd=DY \}Pr!tk! 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 a$6pA@7} 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 kaCn@$ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 +.hJ[|F1& 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 D[Ld=e8t 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 `R$bx 64 wp-3U}P2( 更多的信息: $ g#d1u0q $5>x)jr:w+ 总结-组件 \z2d=E :/NP8$~@j
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c;R.rV< ZJ_P= 两条光谱线的可视化 T9'5V@ HMR!XF&JjC
@jD19= 精细vs.涂层反射率 q{)Q ?E lt}U,p,S
6K9-n}z WF<*rl 精细度vs.涂层反射率 Q9t.*+ a3(f\MMxE
OL#RkD 内部谐振增强 W@FGU ' }NH$ KA 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 DAd$u1 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 VH.}}RS%
8L(KdDY 注意: 传输值取自艾里图案的中心 /s`xPxvt W{;LI
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