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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 "<Yxt"Z4  
    \}\# fg  
                          
    NZO86y/  
    qDqy9u:g  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ("YWJJ'H  
    fQ1Dp  
    建模任务
    W*?qOq {  
    <9\Lv]ng  
    i(ZzE  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 B)/c]"@89  
    omznSL  
    \6bvk _  
    +_25E.>ml  
    图层矩阵解算器 0~P]Fw^w  
    mwMu1#  
    H?FiZy*[Y  
    ?2R!n" m-d  
    t 1~k+  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 | O9b  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 \y6Y}Cv  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 aHb&+/HZ  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 b~B'FD  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    cm!|A?-<  
    BS?i!Bm7  
    更多的信息: 0:-z+`RHE  
    NJmx(!Xsh  
    总结-组件 Udf\;G@  
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    ~*J <lln  
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    9I`0`o"A  
    两条光谱线的可视化 mY[*Cj3WJ  
    bSn={O"M  
    hsJ^Au=})w  
    精细vs.涂层反射率 Ujqnl>l  
    =T#hd7O`V  
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    .Wr7*J[V.  
    精细度vs.涂层反射率 6)W8HX~+  
    >rSCf=  
    ,% 'r:@'  
    内部谐振增强
    %%I:L~c  
    k<Xb< U  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Z15 =vsV  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 vbX.0f "n  
    4F6I7lu  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 dcTZL$  
    /|#2ehE  
    VirtualLab Fusion技术 E2z=U  
    y|i(~  
    m-a':  
     
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