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摘要 PmDar<m 2K2jko9'a
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7(l }$s._)a Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 iHyA;'!Os Y FW0 建模任务 Pu!%sG jD +]{PEnJ
q5~fU$ , 具有高反射(HR)涂层的标准具 YZp]vlm~ ivi&;
>@^j9{\ O[&G6+ 图层矩阵解算器 [0n&?<< 6z+*H7Qz
lb #`f,r> 5LxzET"P :*lB86Ly 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 9{{CNy
p 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 U^$l$"~" 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 4_?*@L1 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 <' b% 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 $RV'DQO ZlYb8+rW 更多的信息: `)eqTeW O7T wM Yh 总结-组件 qL68/7:A @Tf5YZ*
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affig G( y@Tor+ 两条光谱线的可视化 8I=migaxP 1rhQ{6
U}<;4Px]7v 精细vs.涂层反射率 \~ h7 _ ;_NM5
Mo+HLN d[I}+%{[ 精细度vs.涂层反射率 {\f`s^;8{ l=<
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kculHIa\. 内部谐振增强 Wtwh.\Jba cLe659 & 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 #N"K4@]{ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 hSDuByoi
QK%6Ncv 注意: 传输值取自艾里图案的中心 l %{$CmG\ skP2IMa75 VirtualLab Fusion技术 ByPzA\;e 3?GEXO&,E
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