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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 08-07
    摘要 [ma#8p)  
    T&MS_E&;  
                          
    @C [|'[xQ  
    k|c0tvp  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Q;,3W+(  
    nMdN$E  
    建模任务
    CJtjn  
    |afK"N  
    ;OCI.S8  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 n zrCOMld  
    $`dNl#G,  
    0?;Hmq3  
    {s'_zS z  
    图层矩阵解算器 tBI+uu aa2  
    ${6'  
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    +rpd0s49  
    [qMO7enu#  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 B5r_+?=2e  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ?CZD^>6  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 ]S aH/$  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ygY+2  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    q]%bd[zkz  
    j!o3g;j  
    更多的信息: ]`H.qV  
    jz7ltoP  
    总结-组件 ;Hp'x_xQ  
    &j@J<*k  
    sP8&p*TJF  
    ~@?-|xLqQ  
    TaO;r=2  
    两条光谱线的可视化 vFC=qLz:  
    17]31  
    YaT+BRh?  
    精细vs.涂层反射率 <$2zr4  
    @,`=~_J  
    #TwE??ms  
    \.|A,G=  
    精细度vs.涂层反射率 gO myFHv.  
    (KImqB$i.  
    }JMkM9]  
    内部谐振增强
    7kpW 1tjY  
    m_I$"ge  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 >$52B9ie  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 u0hbM9U>  
    ?JTyNg4<  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Y]Vc}-a(h  
    E!l1a5qB  
    VirtualLab Fusion技术 KrG6z#)Uz  
    IX?%H!i  
    NRF%Qd8I/2  
     
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