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摘要 0~XZ <yrl_vl{
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? -i?-Xj#% Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 3+jqf@ fO :u53zX[v 建模任务 ) crhF9 !4 h|1 /Q
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5Y97?n+6 具有高反射(HR)涂层的标准具 D@>^_cTO24 dAcy;-[[P
{)0"?$C_H DrB PC@^ 图层矩阵解算器 WY%'ps_]<
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(a i&v M1T)e9k=x Hh8)d/D 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 r6`v-TY(/ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 uN1O(s 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 v9OK
< 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 .qCD(XZ+ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 %9A6c(L 50.cMms 更多的信息: .5zqpm sc^TElic 总结-组件 i7f/r. QuJ)WaJkC
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>\ :kP>U b}9Ry" 两条光谱线的可视化 -Ug @4D$Xl
O&?i8XsB 精细vs.涂层反射率 qqSf17sW !;^sIoRPV
N (W;(7 8rXu^ 精细度vs.涂层反射率 @<tkwu Nj_h+=UE!
z17x%jXy 内部谐振增强 >?q()>l dhW)< 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 .R` {.~_{! 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 /,z4tf
^6 F-H( 注意: 传输值取自艾里图案的中心 `2y2Bk <3iL5} VirtualLab Fusion技术 MkG3TODfHB PG8|w[V1 "
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