-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-03-05
- 在线时间1939小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 "<Yxt"Z4 \}\#
fg
NZO86y/ qDqy9u:g Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ("YWJJ'H fQ1Dp 建模任务 W*?qOq
{ <9\Lv]ng
i(ZzE 具有高反射(HR)涂层的标准具 B)/c]"@89 omznSL
\6bvk _ +_25E.>ml 图层矩阵解算器 0~P]Fw^w mwMu1#
H?FiZy*[Y ?2R!n"m-d t1~k+ 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 |
O 9 b 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 \y6Y}Cv 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 aHb&+/HZ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 b~B'FD 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 cm!|A?-< BS?i!Bm 7 更多的信息: 0:-z+`RHE NJmx(!Xsh 总结-组件 Udf\;G@ !Pt4\
~*J
<lln
hTWZIW@ 9I`0`o"A 两条光谱线的可视化 mY[*Cj3WJ bSn={O"M
hsJ^Au=})w 精细vs.涂层反射率 Ujqnl>l =T#hd7O`V
]HB1JJiS~ .Wr7*J[V. 精细度vs.涂层反射率 6)W8H X~+ >rSCf=
,% 'r:@' 内部谐振增强 %%I:L~c k<Xb<U 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Z15=vsV 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 vbX.0f "n
4F6I7lu 注意: 传输值取自艾里图案的中心 dcTZL$ /|#2ehE VirtualLab Fusion技术 E2z=U y |i(~
m- a':
|