-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-11
- 在线时间1927小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 byPqPSY yM*_"z!L
5=Il2 |Q$Dj!!1P Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 oj[<{/,C9 Q-KBQc 建模任务 G%>M@nYUE %[on.Q'1]2
NmTo/5s 具有高反射(HR)涂层的标准具 ?8YbTn1f) L,sFwOWY
;N!opg))d< \hP.Q;"MtO 图层矩阵解算器 ,Bl_6ZaL yC7lR#N8j0
I "HEXsSe (};/,t1#$ +|qw>1J( 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 6t3Zi:=I 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 JhvT+"~ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 }$#PIyz 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 M:oZk&cs 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 %v[KLMo'( ] -%B4lT 更多的信息: 6Oy6r
36}&{A 总结-组件 c9Q _Qr0' Y?:"nhN
T>w;M?`9K
c"P:p%\m&u 0P;\ :-&p 两条光谱线的可视化 yeA]j[ # ut.tf \c
KxDfPd+j[ 精细vs.涂层反射率 #lF 2qw !*o{xq
!J[! i"e >XW-W 精细度vs.涂层反射率 &.JJhX K+`deH_d
_z>%h>L|g 内部谐振增强 ^(KDtc Nb)Mh 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 9]:F!d/ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 }O2P>Z?V
dg&GMo 注意: 传输值取自艾里图案的中心 Wz;@Rl|F Kf`/ Gc! VirtualLab Fusion技术 ( +(bw4V/ ynJ)6n7a
&;U
F,
|