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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 u-$(TyDEl|  
    kR3g,P{L  
                               V^As@P8,'(  
    F /IXqj  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 nM>oG'm[n  
    :na9PW`TC  
    建模任务     B#N(PvtE  
    0V@u]  
    7H %>\^A^  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 W MU9tq[  
    odD^xg"L  
     z}&?^YU*)`  
    $0~H~ -  
    图层矩阵解算器 ~D PjTR  
    ba^B$$?Bo  
     tXV9+AJ  
    ?~Fk_#jz,@  
    s{4|eYR  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 imv[xBA(d  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 , `ST Va-  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 n*D-01v YP  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 /'ccFm2  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Y!N *J  
    ;Kob]b  
    更多的信息： s`B]+  
    d[9c6C:<q  
    总结-组件 $6kVhE!;  
    ^mz&L|h  
    WwG78b-OA  
     _~ZNX+4  
    /g BB  
    两条光谱线的可视化 4 |9M8ocR  
    .'k]]2%ILp  
     X`JWYb4  
    精细vs.涂层反射率 |2z?8lx  
    a|Io)Qhr  
    WvQK$}Ax4N  
    _w0t+=&  
    精细度vs.涂层反射率 +P:xB0Tm D  
    <5X?6*Qvr  
    Ab ,n^  
    内部谐振增强     2oyTS*2u_&  
    FR&4i" +  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 0*^ J;QGE  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ZG:#r\a  
    nk|j(D  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 M0zJGIT~b  
    v]SHude{  
    VirtualLab Fusion技术 FKRO0%M4}Z  
    &7"a.&*9xX  
     {|nm0vg`A  
     
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