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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ykJ>*z  
    UZ";a453r  
                               +ai< q>+  
    I 6O  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 T4F/w|Q  
    _dU\JD  
    建模任务     ?4uL-z](V  
    d5-qZ{W  
    [B3RfCV{  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 /@5YW"1  
    DNi+"[~&P  
     lxi<F  
    8k79&|  
    图层矩阵解算器 Va8&Z  
    !9x}  
     TZ`SZDc7_  
    =c7;r]Ol  
    >dT*rH3w  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 }WV:erg`  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 V.Mry`9-  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 $xQL]FmS  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 05[SC}MCA  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Hv, LS ;W  
    v0y(58Rz.  
    更多的信息： r*Xuj=  
    #;<Y[hR{P  
    总结-组件 z)"=:o7  
    svSVG:48  
    E_`=7 i  
     E.f%H(b  
    uw7zWJ n  
    两条光谱线的可视化 M(fTKs  
    w>YDNOk  
     |g~ZfnP_%  
    精细vs.涂层反射率 yHGADH0B  
    (#'>(t(4  
    q*KAk{kR(v  
    rs.)CMk53  
    精细度vs.涂层反射率 Lr<cMK<  
    `2snz1>!j  
    *] (iS  
    内部谐振增强     M?qy(zb  
    D]}G.v1  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 .u:GjL'$  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 kP"9&R`E  
    HP =+<]?{G  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 =Uh$&m  
    RpF&\x>  
    VirtualLab Fusion技术 KSvE~h[#+  
    o@Oqm>]SS  
     OCUr{Nh  
     
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