切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 465阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6293
    光币
    25610
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ^-a8V'  
    ]wWPXx[>/  
                          
    V86Xg:?7  
    C>[fB|^  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 8B#GbS K  
    !QT'L,_  
    建模任务
    `r_m+]  
    ??i4z[0M  
    v (2GX  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 s9>(Jzcf9  
    _` [h,=  
    4j!]:ra  
    X2xuwA  
    图层矩阵解算器 ) 9oH,gZ  
    03iv3/{H  
    E3*\ ^Q_  
    d|*"IFe  
    Z-B%'/.  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ee/&/Gt  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 80$fG8  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 c.A|Ir  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 {h KjD"?  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    <soz#}e  
    QERU5|.wc  
    更多的信息: i"j(b|?e  
    N7s'6(`=X  
    总结-组件 R+~cl;#G6  
    ~Gqno  
    !P$'#5mr  
    !8@*F  
    uyF|O/FC  
    两条光谱线的可视化 "z*:'8;E  
    4W#E`9 6u  
    HSIvWhg?p  
    精细vs.涂层反射率 )*5G">))p  
    u<n`x6gL  
    RuG-{NF{F  
    G8IY#  
    精细度vs.涂层反射率 (LtkA|:  
    e62Dx#IY  
    /V?H4z[G  
    内部谐振增强
    =]>NDWqpHN  
    vwr74A.g0  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 "|m|E/Z-9  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 `PL[lP-<  
    a0*2) uL}  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心  pAu72O?  
    EHlytG}@  
    VirtualLab Fusion技术 4{qB X?  
    @wq#>bm  
    ? /JBt /b  
     
    分享到