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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 Db= iJ68  
    /cr.}D2O  
                               pscCXk(|A`  
    Sg0 _l(  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 1DGVAIcD  
    K,^{|5'3q  
    建模任务     e4ajT  
    ?PSm) ~ Oa  
    ]`y4n=L.  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 <Dt,FWWkv'  
    6pQ#Zg()vp  
     o_EXbS]C  
    |]]Xee]  
    图层矩阵解算器 . dVo[m;  
    w-|i8%X  
     t4UKG&[a  
    M>0=A  
    ^C@uP9g  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 r+>E`GGQ  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 U^~K-!0  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 W9Bl'e  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ho@f}4jhQ3  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ^`\c;!)F<  
    vBQ5-00YY=  
    更多的信息： M0x5s@  
    7^Jszd:c08  
    总结-组件 ?Gj$$IAe  
    gV!Eotq  
    co<){5zOT  
     aM3%Mx?w  
    E[6JHBE*r  
    两条光谱线的可视化 )-[ 2vhXz  
    yK0Q,   
     Wb!%_1dER  
    精细vs.涂层反射率 ?a~=CC@  
    3. Qf^p  
    _jK\+Zf  
    HPCgv?E3  
    精细度vs.涂层反射率 <k5FlvE2  
    brNe13d3~"  
    @"kA&=0;|J  
    内部谐振增强     \%E Zg  
    iX.=8 ~3  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 nV McHN   
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ph30/*8  
    \h :Rw|  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 %g0"Kj5  
    /,/T{V[  
    VirtualLab Fusion技术 -t?S:9 [w  
    &EmxSYL>  
     . %tc7`k8  
     
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