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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 `Cy-*$$  
    7Z;bUMYtx  
                               ek6PMZF:'  
    sp*_;h3'  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 N q %@(K  
    3gZ|^h6 +  
    建模任务      boAu  
    f%ude@E3  
    8+m;zvDSU  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 _hlLM,p  
    o#Q0J17i?  
     L2:v#c()#)  
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    图层矩阵解算器 :X7"fX  
    !ckmNE0  
     Ig*68M<  
    3>%oGbo  
    *{|{T_H:  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 NU>={9!  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 g2;!AI5f  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 e\%emp->  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 :^".cs?g  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     P+00wbx0  
    pj?wQ'  
    更多的信息： ./nq*4=  
    # T_m|LN 7  
    总结-组件 sCG[gshq  
    Kp[ F@A#  
    -Bymt[  
     92g#QZs&W  
    P)bS ;w\(Y  
    两条光谱线的可视化 3dm lP2  
    )i@j``P  
     3_k.`s_Z  
    精细vs.涂层反射率 CjRI!}S  
    -7^?40A  
    B;f\H,/59  
    f S-(Kmh  
    精细度vs.涂层反射率 ()L[l@m  
    R$qp3I  
    ?`R;ZT)U-  
    内部谐振增强     % \OG#36  
    /.!ytHw8  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 #P[d?pY  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 M(>"e*Pi  
    WN8XiV  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 oCD#Gmr  
    $RA8U:Q!1e  
    VirtualLab Fusion技术 !ER,o_T<  
    6 6S I  
     &|rh~;:jUX  
     
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