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摘要 jpS$5Ct IbL'Z
H_t0$x(\ )"hd" Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 {X{S[(| %#~wFW|]x 建模任务 XqUQ{^;aI ~Dz:n]Vk/
L-rV+?i`6f 具有高反射(HR)涂层的标准具 Im!b-1 :4Nv6X61
2#3`[+g<n V_D wHq2 图层矩阵解算器 =EM<LjO FE{c{G<
Tp{jR< (Fuu V{x| k\;D;e{ 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ~TXu20c 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 T+zhj++ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 aXQAm$/
> 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 pc@mQI 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 4&%H;Q [g<gu~ 更多的信息: F.i}&UQ% yufw}Lo- 总结-组件 7-n HPDp' dTCLE t.
=uNc\a (
SqRM*Cf= #W|Obc]K 两条光谱线的可视化 &08dW9H :AFU5mR4&
qxAh8RR;/ 精细vs.涂层反射率 n7~4*B { pQJ.QI
&{glwVKV R@NFpiw 精细度vs.涂层反射率 NS`hXf Qjnh;uBO
NF4(+E9g 内部谐振增强 cZF|oZ6< _Li.}g@Bd 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 sb3z8:r 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 "nfi:A1
0F![<5X 注意: 传输值取自艾里图案的中心 I3r")}P r#1W$~?> VirtualLab Fusion技术 %3TioM[B ')yYpWO
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