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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 j&X&&=   
    Z3&}C h  
                               Il [~  
    {dZ]+2Z~+  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 'i%r  
    P!]uJ8bi  
    建模任务     Po58@g  
    MsXw 8D  
    ( unmf,y  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ~Ykn|$_"I  
    P<IDb%W  
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    图层矩阵解算器 eyK xnBz  
    2VRGTx  
     !~|-CF0z=  
    w W\[#Ku  
    qHZDo[  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 #csP.z3^y  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 O &<p 8  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 1dLc/, |  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 nh4G;qdU  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     d@ K-ZMq  
    ]JkEf?;.  
    更多的信息： I(^0/]'  
    opa}z-7>^  
    总结-组件 K.xABKPVc  
    hnFpC1TO  
    41<~_+-@  
     "jAd.x?X7e  
    ~1+6gG  
    两条光谱线的可视化 U5kKT.M  
    nsI+04[F  
     vS\2zwb}  
    精细vs.涂层反射率 Nbr$G=U  
    $~1vXe  
    VaD+:b4  
    hY.i`sp*/  
    精细度vs.涂层反射率 dJgLS^1E  
    <kFLwF?PM'  
    ^Oi L&p;r  
    内部谐振增强     >g<Y H'U{  
    |BFzTz,o  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 YTa g|If  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 .yy-jf/  
    XY| y1L 3[  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 MoFM'a9  
    &1Ndi<Y^  
    VirtualLab Fusion技术 ULAr!  
    Gt.'_hf Js  
     @F 5Af/  
     
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