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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 08-07
    摘要 8-_\Q2vG  
    {;2Gl$\r  
                               #Ave r]eK  
    P2t9RCH  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 B]lM69Hz  
    K1oSoD8c  
    建模任务     >s;>"]  
    6|@\\\l  
    `iQ9 9  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 .dQEr~f#}  
    "T~ce@  
     Oe_*(q&  
    XPfheV G  
    图层矩阵解算器 \-Ipa59U  
    tXg>R _\C  
     d# >iFD+  
    C_rA'Hy  
    g54b}vzm  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 F4|U\,g  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ^)%TQ.  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 RK\$>KFE  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 JIh:IR(ta  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     }M|,Z'@*  
    k%TjRf{p  
    更多的信息： lG/h[  
    4RDdfY\%u  
    总结-组件 (O`2$~mIM  
    cd3;uB4\,  
    .DN)ck:e;  
     YCI- p p  
    T~G~M/  
    两条光谱线的可视化 ;+NU;f/WM  
    6_a~ 4_#  
     --BS/L-  
    精细vs.涂层反射率 {[Z}<#n)  
    2(s-8E:  
    upefjwm  
    NB#-W4NA  
    精细度vs.涂层反射率 dOx0'q"Z  
    E%np-is{1  
    G\ m`{jv  
    内部谐振增强     6Sr}I,DG  
    f~-Ipq;F  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 7 yp}  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 k=``Avp?  
    En:/{~9{ F  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Y-y<gW  
    ;'7gg]  
    VirtualLab Fusion技术 0sGAC  
    e)): U  
     |x$2- RUP  
     
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