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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 2Ft8dfdm`  
    sP6 ):h  
                               J@ktj(  
    462!;/ y  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 @)OnIQN~  
    Q\o$**+{  
    建模任务     5Cc6 , ]  
    g,n-s+  
    om".j  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 BcZEa^^~os  
    Avs7(-L+s  
     -SQJH}zCT+  
    ?jNF6z*M6  
    图层矩阵解算器 f.b8ZBNj>  
    FylWbQU9  
     I;kf #nvao  
    pAJ=f}",]E  
    M>?aa6@0  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 k_*XJ<S!Y  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ~:/%/-^  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ilDJwZg#  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ->&BcPLn  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     }.fL$,7a  
    x1 ;rb8  
    更多的信息： kf+JM/  
    @@xO+$6  
    总结-组件 lq>*x=<  
    tXf}jU}  
    X+`ddX  
     8l U;y)Z  
    y!7B,  
    两条光谱线的可视化 (oLpnjJ(,  
    NniX/fk  
     !: m`9o8  
    精细vs.涂层反射率 `j"4:  
    _, \y2&KT  
    Q<RT12|`  
    %$/=4f.j  
    精细度vs.涂层反射率 6PiEa(  
    'fS?xDs-v  
    .HyjL5r-  
    内部谐振增强     3xBN10R#  
    kk 8R  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 2yl6~(JC+  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ^D9 /  
    qA UaF;{  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 a4yOe*Ak,F  
    f|X[gL,B  
    VirtualLab Fusion技术 D",A$(lG  
    i Bi7|  
     _TZW|Dh-2F  
     
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