切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 629阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6613
    光币
    27214
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 F[.IF5_  
    Vt9o8naz  
                          
    6e}T zc\@(  
    <!|=_W6  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 td#m>S  
    *1>Tc,mb  
    建模任务
    =aehhs>  
    PM {L}tEQ  
    K:pG<oV|}  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 6skd>v UU  
    )oS~ish  
    ~$Z_#,|i?  
    yG>sBc  
    图层矩阵解算器 X<1ymb3  
    0nlh0u8#  
    =)]RD%Oq  
    kYd=DY  
    \}Pr!tk!  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 a$6pA@7}  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 kaCn@$  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 +.hJ[|F1&  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 D[Ld=e8t  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    `R$bx 64  
    wp-3U}P2(  
    更多的信息: $g#d1u0q  
    $5>x)jr:w+  
    总结-组件 \z2d=E  
    :/NP8$~@j  
    eA/}$.R  
    c;R .rV<  
    ZJ_P=  
    两条光谱线的可视化 T9'5V@  
    HMR!XF&JjC  
    @jD19=  
    精细vs.涂层反射率 q{)Q ?E  
    lt}U,p,S  
    6K9-n}z  
    WF <*rl  
    精细度vs.涂层反射率 Q9t.*+  
    a3(f\MM xE  
    OL#RkD  
    内部谐振增强
    W@FGU  
    '}NH$ KA  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 DAd$u1  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 VH.}}RS%  
    8L(KdDY  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 /s`xPxvt  
    W{;LI WsZ  
    VirtualLab Fusion技术 5wMEp" YHE  
    m^,3jssdA  
    9M-/{D^+<  
     
    分享到