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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 px }7If  
    \_Kt6=  
                          
    + lB+|yJ+  
    7{^4 x#NO  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 NC.P 2^%  
    mOgOHb2  
    建模任务
    A]iv)C;]  
    r d6F"W  
    U 'CfP9=  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 f>)Tq'  
    8f,'p}@!d  
    'ztL3(|X6  
    :DMHezaU  
    图层矩阵解算器 |aS~"lImh  
    RCh$j&Tn  
    /LI~o~m1)  
    s"=F^#  
    NB3Syl8g  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 'lN*Ys iDi  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 1t[;`iZ  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 sUbz)BS#.  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Z6R: rq  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    {yHB2=nI  
    P~\a)Szy  
    更多的信息: Rnj Jg?I=  
    [-E{}FL|  
    总结-组件 c+8>EU AW  
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    i.&Kpw9;m  
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    G9i&#)nWr  
    两条光谱线的可视化 hC|5e|S  
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    GX7 eRqz>  
    精细vs.涂层反射率 c?.r"5#  
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    P /c Q1  
    \)^,PA3  
    精细度vs.涂层反射率 =!?[]>Dh  
    d2C[wQF  
    i'W_;Y}  
    内部谐振增强
    FQk_#BkK  
    8! H8[J  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 k5 aa>6K  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 pcI&  
    8h&oSOkQk,  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 3$?9uMl#  
    lh,ylh  
    VirtualLab Fusion技术 ka5#<J7<p  
    5)d,G9  
    %\}dbYS '  
     
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