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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 +pv..\  
    1JS5 LS  
                               O|v8.3[cT  
    eHHU2^I,  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 G]-\$>5R  
    .^- I<4.  
    建模任务     X#W6;?Z\  
    -hK^*vJ  
    %Zeb#//Jz  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 BL0xSNE**  
    gYpFF=7j<@  
     g |]Hm*  
    ?U:c\TA,m  
    图层矩阵解算器 gxDyCL$h3  
    +>tSO!}[  
     vN6)Szim  
    wLq#,X>%B  
    YyY?<<z%  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 /Zz [vf  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 }y|_v^  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ![[:Z  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 u\K`TWb%  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     +D h?MQt?  
    BgsU:eKe  
    更多的信息： sEa|2$  
    ;MO,HdP;  
    总结-组件 e9F+R@8  
    -9 |)O:  
    [L2N[vy;  
     !'bZ|j%  
    AB.ZmR9|  
    两条光谱线的可视化  o^d  
    LD;! s  
     X-yS9E  
    精细vs.涂层反射率 @Bsvk9}  
    RHI?_gf&  
    5n=~l[O  
    SQdK`]4  
    精细度vs.涂层反射率 /p{$HkVw  
    qwuA[QkPi  
    ZjgfkZAS  
    内部谐振增强     |x ir93|  
    AHplvksb  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 a/~1CrYr  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 g|{Ru  
    aslb^  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 P9gAt4i  
    hIo ^/_K  
    VirtualLab Fusion技术 "2 qivJ  
    /,9n1|FrG  
     fTI~wF8!  
     
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