切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 313阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 hTEx]# (  
    r.T<j .\  
                          
    (&P9+Tl  
    n f.wCtf].  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Rt{B(L.?<  
    q-rB2  
    建模任务
    ~\cO"(y5:O  
    g(Io/hyj  
    W0C@9&pn6  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Ik[s  
    Ht-t1q  
    :mS# h@l  
    4_UU<GEp  
    图层矩阵解算器 Pf$pt  
    W?We6.%  
    cwuO[^S}  
    5hbJOo0BZ  
    " beQZG  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 !bD@aVf?5  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 d @*GUmJ  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 [ G e=kFB  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Bcjx>#3?L  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    UDc$"a}ds{  
    /%I7Vc  
    更多的信息: Lj"A4i_  
    Qf| U0  
    总结-组件 H%1$,]F  
    v$)q($}p  
    7nVRn9Hn  
    37q@rDm2  
    c\q   
    两条光谱线的可视化 "iM~Hy  
    %+F"QI1~0  
    WnH UE  
    精细vs.涂层反射率 QnI.zq V  
    jr /lk  
    9~0^PzTA  
    `Rd m-[&  
    精细度vs.涂层反射率 jS!`2li?{  
    G|m1.=DJm  
    YxGcFjJ  
    内部谐振增强
    /oL;YIoQX  
    MzYavg`  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 7 JDN{!jT  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 S|zW^|YU  
    ]O TH"*j  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 BT_tOEL#  
    jDRe)bo4  
    VirtualLab Fusion技术 BYM3jXWi0v  
    cM&2SRBZ  
    %y<ejM  
     
    分享到