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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 eFBeJZuE|  
    bfA=3S"0  
                               /D5`   
    3k|oK'l  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 hj  
    o[v\|Q`d  
    建模任务     $KUo s+%  
    z?[r  
    rm4.aO~-F  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 hdnTXs@z  
    {D? 50Q  
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    1^ _U;O:I  
    图层矩阵解算器 LUH"  
    H~GQ;PhRx  
     MS>t_C(  
    .~Fp)O:!  
    umF Z?a  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 _9tK[ /h  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 N>Eqj>G  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ix W@7m  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 wj[\B*$?  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     fbWFLS m;  
    ( Fynok  
    更多的信息： B.g[c97  
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    总结-组件 `Ja?fI'H-  
    "Vw m  
    P~s$EJL*  
     nl(WJKq'  
    /" ${$b{  
    两条光谱线的可视化 ?."&MZ  
    D\@m6=L  
     Q:|l`*.R  
    精细vs.涂层反射率 tp6M=MC%  
    @HRC \OG  
    '" X_B0k  
    ndjx|s)E  
    精细度vs.涂层反射率 0{[m%eSK'  
    O(tX8P Q5N  
    0O\SU"bP  
    内部谐振增强     fV v.@HL{  
    rsF\JQk  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 6ZKsz5:=  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 k% sO 0  
    ;<$H)`*  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ! iptT(2  
    rC.eyq,105  
    VirtualLab Fusion技术 a-"k/P#  
    4Sm]>%F':  
     7]x3!AlV  
     
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