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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 PT 0Qzg  
    IBn'iE[>  
                               ~N)( ^ 4  
    OqAh4qa,$  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 5P5A,K  
    H5F\-&cq  
    建模任务     K|P9uHD  
    jV(xYA3  
    xg*\j)_}  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 `8$:F4%P  
    1Xk{(G<\  
     9&|12x$  
    E7d~#  
    图层矩阵解算器 AQJ|^'%  
    ^=4I|+P,6.  
     Huc3|~9  
    Cy`<^_i  
    WcV\kemf  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 =H.<"7  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 TsFV ;Sl3  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 /r::68_KQP  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 0XBBA0t q  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     wI1M0@}PV  
    bv:0EdVr  
    更多的信息： ,u8ZS|9  
    !9ceCnwbNN  
    总结-组件 : pE-{3I  
    "Gi+zkVm  
    JN;TGtB^p  
     U#UVenp@  
    .&* ({UM  
    两条光谱线的可视化 8S[ <[CH  
    82^ z -t{  
     ZYl-p]\*y  
    精细vs.涂层反射率 Sh~ 8jEk  
    S+Y y  
    WNF=NNO-R  
    )Bm^aMVl3  
    精细度vs.涂层反射率 vMW-gk  
    z$8e6*  
    }R(0[0NQe-  
    内部谐振增强     sTYuwna~   
    ^G7n#  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 |2+F I<v4  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 dH2j*G Ij  
    Z7KB?1{G  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 V;[ __w  
    gs`27Gih  
    VirtualLab Fusion技术 7Dx .;  
    (Ay4B*|!  
     >gS5[`xRE  
     
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