-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-13
- 在线时间1887小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 }\hVy(\c
oxC[F*mD
 bNm#tmSt 8G9s<N}5&u Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 .I$qCb|FP
dFRsm0 T
建模任务 iyA'#bE- NYt&@Z}]
 4Fa ~Aog
具有高反射(HR)涂层的标准具 +"x,x
neB\q[k
 ;" KJ7p
W~6EEyD%
图层矩阵解算器 "76 ]u)
`
w=>I
 2- &k^Gl!:
;}7Rjl#
I*%-cA%l
分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 : Uz| 3gq
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 w ZG\>9~
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 bT\1 >
本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 2I%MAb&1@
这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 pSoiH<33 7OC#8, 更多的信息： dOa +(fMe ht7l- AK 总结-组件 "/ )#O~
uYn_? G
 dpJ_r> NI
 2K<
8 wE[]6\_x1 两条光谱线的可视化 u_hD}V^x4 O#b6mKPt;t
 wL;l Q& 精细vs.涂层反射率 Vkv B<3
.|hf\1_J
 7/!8e.M\
]*v dS r-J
精细度vs.涂层反射率 34z"Pm
J3,fk)
 \Np xv
内部谐振增强 V\{ clJ\U e7@ ojOQ% 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 H+1-] 'g` 请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ?:
N @!jeJ
 V}bjK8$$
注意: 传输值取自艾里图案的中心 w0 ht
wr5AG<%(
VirtualLab Fusion技术 E7NV ^4h
gMY1ts}Z
 Z9:-rcr
|
