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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 Mc^7FWkw  
    JPKZU<:+V  
                               P#oV ^  
    bUL9*{>G  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Q(7l<z  
    3o^M%  
    建模任务     |/Z)?  
    #E)]7!_XG  
    ,KaWP  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 w+P^c|  
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     uMZf9XUE  
    - mXr6R?  
    图层矩阵解算器 (Ad! hyE(  
    AW68'G*m  
     C>ZeG Vq  
    @U5>w\  
    4tWI)}+ak  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Fowh3go  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 rNp#5[e  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 \(L^ /]}G)  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 7^5BnF@  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     (P8oXb+%  
    *h9vMks o  
    更多的信息： i(rY'o2 BN  
    xc?<:h"  
    总结-组件 w7u >|x!  
    < Ifnf 6~  
    =Y[Ae7e  
     s ~G{-)*  
    N4-J !r@#~  
    两条光谱线的可视化 Cn '=_1p  
    ~V)E:(  
     q5PYc.E([  
    精细vs.涂层反射率 k*^W lCZ3  
    #C mBgxg+M  
    "dTXT  
    YZ@-0_Z  
    精细度vs.涂层反射率 U)8]pUI+/P  
    :DJ@HY  
    +6atbbe}   
    内部谐振增强     Hc9pWr "N  
    wt;aO_l  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 gG>>ynn  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 g(k|"g`*  
    /G;yxdb  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 cK&oC$[r-  
    0 HmRl  
    VirtualLab Fusion技术 ,jmG!qJb  
    lH.2H  
     HxaUVg0  
     
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