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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 @tohNO>  
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    nL@KX>  
    c:S] R"  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 E9\vA*a  
    %t=kdc0=_  
    建模任务
    [97:4.  
    M$4k;  
    VLsxdwHgb  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 K`&oC8p  
    [u@Jc,  
    qs\2Z@;  
    J2q,7wI#  
    图层矩阵解算器 c5q9 LQ/  
    DBLk!~IF  
    #?MY&hdU9  
    >F jR9B  
    w&$d* E  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 c$ S{^IQ  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 N- e$^pST  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 rD?L  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 dG QG!l+>  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    I&?Qq k  
    <99M@ cF  
    更多的信息: j.~!dh$mg  
    AWjJ{#W>9  
    总结-组件 jdKOb  
    `.x$7!zLC  
    {^CT} \=>  
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    Y3kA?p0  
    两条光谱线的可视化 &uP~rEJl+  
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    rn DCqv!'P  
    精细vs.涂层反射率 ?oZR.D|SZ  
    V^y^ ;0I}[  
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    5tJ,7Y'  
    精细度vs.涂层反射率 hPq%L c  
    @3fn)YQ'  
    9[!,c`pw  
    内部谐振增强
    64Lx -avf  
    gh`m*@  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 j R=s#Xz  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 a{!QOX%K  
    jVLA CWH  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 8eA+d5k\.  
    tg^sCxz9]  
    VirtualLab Fusion技术 _X ~87  
    T0)4v-EO  
    %h1N3\y9i(  
     
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