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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 kS=OX5  
    @uT\.W:Q2  
                               &IOChQ`8P  
    t55 '  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Q> @0'y=s  
    #,!.e  
    建模任务     mNcTO0p&  
    f4`=yj*  
    f5d"H6%L  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 {!'AR`|  
    oh#6>|  
     t[iE >  
    !:rQ@PSy9  
    图层矩阵解算器 3Yg/-=U(  
    I&R4.;LW  
     yy/wSk  
    Tfs7SC8ta  
    SaQ_%-&#p  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 dbE $T  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 /-G;#Wm  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 b_\aSEaTT  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 4wBMBCJ;P  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     e~nmIy  
    }MXZ  
    更多的信息： g3Kc? wTC  
    /g@.1z1w  
    总结-组件 R}>Gk  
    K^s!0[6  
    @ZD1HA,h"  
     h_x"/z&  
    ^Zydy  
    两条光谱线的可视化 :4&qASn  
    @x"vGYKd  
     l)=Rj`M  
    精细vs.涂层反射率 Z"% =  
    vL\wA_z"<H  
    YX!%R]c%  
    VA4_>6  
    精细度vs.涂层反射率 H:y.7  
    Ok2k; +l  
    Bb8lklQ  
    内部谐振增强     F}2U8O  
    4N*Fq!k~  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 D8BK/E-  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 kM]?  
    |giK]Z  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 SDDs}mV  
    {u3^#kF  
    VirtualLab Fusion技术 Y -o*d@  
    Aj SIM.  
     @&mv4zz&W  
     
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