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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 0r.*7aXu  
    iK s/8n  
                               M~zdcVTbH  
    W{?7Pn?1`  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 zl=RK  
    {xMY2I++  
    建模任务     d {T3  
    Ti=~ycwi  
    CT6a  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 th2a'y=0  
    9=&LMjTQ  
     8m2-fuJz  
    v;80RjPy>  
    图层矩阵解算器 "P~0 7  
    0' @^PzX  
     MrXhVZ"d*  
    x$cs_q]J  
    C;y3?+6P$  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 r ~si:?6:  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 bYYyXM  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 )K4 |-<i  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ?R&,1~h  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     "nf.kj:>  
    %S]H  
    更多的信息： \8'fy\  
    )ZEUD] X  
    总结-组件 |nk&ir6  
    Bq#?g@V  
    .Qn54tS0q  
     :lcZ )6&S  
    9_n!.zA<  
    两条光谱线的可视化 fq~ <^B  
    .:B] a7b  
     L6fc_Mo.EE  
    精细vs.涂层反射率 >sv|  
    35%'HFt_  
    np}F [v  
    L 5J=+k,  
    精细度vs.涂层反射率 Bmm#5X@*  
    (`>RwooE  
    BQ2EDy=}6  
    内部谐振增强     CLg;  
    `7zz&f9dDX  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 }eXzs_  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 \Azl6`Em  
    rZ/,^[T  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Z$ {I 4a  
    <.s=)}'`P  
    VirtualLab Fusion技术 RMMx6L|-:  
    [cv7s=U%  
     7hqa|  
     
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