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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 gH'_ymT= 3  
    UQ~4c,  
                               n$YE !D'  
    T/5"}P`  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 lBmm(<~Z  
    sQtf,e|p  
    建模任务     5q Rc4d'  
    HlPG3LD!  
    "5}%"-#  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ]n5"Z,K  
    a.DX%C /5  
     E=k w)<X2  
    EE]=f=3  
    图层矩阵解算器 H_Os4}  
    KmL$M  
     6-]h5L]  
    Y\p $SN  
    \?&A u  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 *NlpotW,f  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 f05=Mc&)  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Y208b?=9w  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 &K *X)DAs  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Vho0e V=  
    LwOJ |jA(,  
    更多的信息： 'gDe3@ci!  
    %b =p< h'(  
    总结-组件 E:w:4[neh  
    9U^$.Lb  
    DjwQ`MA  
     {6O0.}q]&  
    FJT1i@N  
    两条光谱线的可视化 ru{f]|  
    P'tMu6+)  
     Pz@/|&]  
    精细vs.涂层反射率 K%gP5>y*9>  
    =VSkl;(O  
    /.$L"u  
    c@(1:,R  
    精细度vs.涂层反射率 v"RiPHLT  
    ~;unpym'  
    OJ/SYZ.r  
    内部谐振增强     *Hs*,}MS  
    CCqT tp  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 S;=_;&68?  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 S0LszW)e  
    yN\e{;z`  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 }1U*A#aN7K  
    #3 bv3m  
    VirtualLab Fusion技术 =nU/ [T.  
    ZJ(rG((!  
     r5 yO5W  
     
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