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摘要 vi! r8k AY/-j$5+?
~0[G/A$] 8A8xY446) Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 -4y)qGb*? Sp`fh7d.( 建模任务 <7FP"YU }OP%p/eY
0'%+X| 具有高反射(HR)涂层的标准具 g"Q}h ,LW(mdIe(
Xs%R]KOwt qD$GKN. 图层矩阵解算器 *<.WL"Qhl )kL`&+#>
."F'5eTT~ k{}[>))Q y\|-O<8O 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 z%}CBTm 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 iB}LnC: 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 :rTKqX&"j 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 3D$\y~HU 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 MgH1d&R @\6nXf 更多的信息: ,Y g5X s;-78ejj7 总结-组件 a_ 9 |xI ^T}}4I_Y
O{")i;v@
9N*S-Po= k}I5x1>& 两条光谱线的可视化 wcdW72 L.IoGUxD
$/<"Si&( 精细vs.涂层反射率 ;9p#xW6 f 74%YY
_#J_$CE# As6)_8w 精细度vs.涂层反射率 !!-}ttFA QLF,/"
;"d ,~nLn 内部谐振增强 VW{aUgajO {.aK{
V 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 nl)_`8= 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Giy3eva2
;B|^2i1Wi 注意: 传输值取自艾里图案的中心 >}dTO/ Q*09E VirtualLab Fusion技术 pIZLGsu[ TdNuD V
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