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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 B-'Xk{  
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    ,Cde5A{K  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 beN0 ?G  
    F0]NtKaH  
    建模任务     exZa:9 sp  
    E*j)gj9  
    sDw&U?gUv  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 oB#KR1 >%7  
    #tGW|F  
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    ?neXs-'-p  
    图层矩阵解算器 l]^uVOX  
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    .$L'Jt2X  
    DMsxHAE1  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 :a nUr<  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 8v5cQ5Lc  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 .G4(Ryh  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 cZPv6c_w  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     *oKc4S+  
    ?tV$o,11  
    更多的信息： 2LEf"FH0~  
    gW$X8ECX  
    总结-组件 tNG0ft%a  
    }&bO;o&>  
    josc  
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    <`+U B<K  
    两条光谱线的可视化 7GB>m}7  
    U# G0  
     Zu,rf9LMj  
    精细vs.涂层反射率 oGu-:X=`9  
    v#8{pr  
    M._9/ *C U  
    _ 2R;@[f2  
    精细度vs.涂层反射率 ~$Xz~#~  
    Akb#1Ww4  
    xf_NHKZ)  
    内部谐振增强     iLIH |P%  
    5k)/SAU0  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 h2QoBGL5  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Lf4c[[@%gd  
    &O/;YGEAB  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Cd?a C  
    -iLp3m<ai  
    VirtualLab Fusion技术 %scSp&X  
    {U= Mfo?AH  
     2"cUBFc1I  
     
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