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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ;sd] IZ$#  
     34~[dY  
                               6dYUMqQ  
    n/IDq$/P  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 r'u[>uY  
    m ,TYF  
    建模任务     dH0wVI<z  
    FBrJVaF  
    S]biN]+7s  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 '8fL)Zk  
    9wv 7 HD|  
     kk3G~o +  
    XwdehyPhT2  
    图层矩阵解算器 ~ph>?xuw  
    eh$T 3_#q  
     Xr pnc 7  
    ; ,:w % .  
    ;EfREfk  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 P3V }cGZ  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 r$-]NYPi  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 {NV=k%MTmi  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 (1Ii86EP  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     +4k7ti1Qb  
    cGe-|>:  
    更多的信息： -44''w?z  
    44cy_  
    总结-组件 X !l#1  
    #[Vk#BIiv8  
    kM/;R)3t4/  
     [7SR2^uf<j  
    PQ[x A*  
    两条光谱线的可视化 JV9Ft,xk  
    A+F@JpV  
     8VZLwhj  
    精细vs.涂层反射率 lDhuL;9e  
    *|k/lI  
    p*(]8pDC  
    f}F   
    精细度vs.涂层反射率 x$aFJ CL  
    *1 l"|=_&s  
    "+J[7p}`@  
    内部谐振增强     bO?Us  
     (.B+U'6  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 G=%SMl>[  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ~eHu +pv  
    IEW[VU)  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 .[4Dv t|>6  
    0|_d{/VK4  
    VirtualLab Fusion技术 t.WWahNyY  
    `.a~G y  
     ]QAMCu(>  
     
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