-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-09
- 在线时间1927小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 k
dU!
kj
m0( E kK
 `6Hf&u< o&-L0]i| Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 -G b -^G
xm H-!D a
建模任务 Vxh.<b6&' T;?+kC3
 fLB1)kTS
具有高反射(HR)涂层的标准具 ) 5yj/0oT
t ;-L{`mW
 kx{!b3 "
vA -PR&
图层矩阵解算器 (pYYkR"
R^8B3-aA`
 nl@E[yA9[
kuS/S\Z5K
p4mY0Y]mP
分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 f a5]a
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 oR %agvc^^
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 =nhzMU9c\y
本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 )HVcG 0H1
这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 h%1Y6$ &!1}`4$[T 更多的信息： |.w; r
V}9;eJRvw 总结-组件 SrZ5 0Se
xzk }[3P{
 1K[(ou'rl
 'ZnIRE,N uva\0q 两条光谱线的可视化 \ 4gXY$` @ xzikD,FV
 - ]Y wl 精细vs.涂层反射率 6P+Dn S[]
kwar}:`
 h4 vm{ho
3{3/: 7
精细度vs.涂层反射率 fIyPFqf7w)
#x~_`>mDN
 knSuzq%*
内部谐振增强 ~B_ D@gV| Q!$IQJ]|Y 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 aZgNPw 请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _A-V@%3
 &O tAAE
注意: 传输值取自艾里图案的中心 ']?=[`#NL
JEHK:1^
VirtualLab Fusion技术 v*r9j8
,F: =(21
 cyMs(21
|
