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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ,GO H8h  
    <c'0-=  
                               JR6r3W  
    H!SFSgAu  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 7)Cn 4{B6  
    suOWmqLs  
    建模任务     xhcFZTj/(  
    2F7(Y)  
    |WP}y- Au  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 qAI %6d  
    KXrZ:4bg  
     z|Y  Ms?  
    P;8nC:zL  
    图层矩阵解算器  'ug:ic  
    c'|](vOd]  
     WwDd62g  
    [D%(Y ~2  
    E P3Vz8^  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 HQkK8'\LP  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 7q%xF#mK=  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 S:(YZ%#  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 vKO/hZBh  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     X+2uM+  
    OsT|MX  
    更多的信息： ldFR%v> 9  
    }INj~d<:  
    总结-组件 S( ^HIJK  
    h0.2^vM)R  
    rdH3!  
     ]9 $iUA%Ef  
    2A=q{7s  
    两条光谱线的可视化 3N[Rrxe2  
    *fCmZ$U:{  
     c_4K  
    精细vs.涂层反射率 zq(4@S-TU  
    r03%+:  
    8IkmFXj  
    !8e;3W  
    精细度vs.涂层反射率 OwCbv j0 #  
    [KL-T16  
    E1j3c :2  
    内部谐振增强     Cs4ks`Z18  
    uf^HDr r<L  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 $35C1"  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 r;^%D(  
    s(T0lul  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 b4qMTRnv  
    H+{@V B  
    VirtualLab Fusion技术 %Q]3`kxp  
    eDsB.^|l  
     >PzZt8e  
     
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