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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 WM*[+8h  
    A &~G  
                               yDWzsA/X  
    Z9cch- u~  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 }?$d~]t)  
    F4M<5Yi  
    建模任务     `fu(  
    SWY?0Pu  
    qi;@A-cq  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 q%bNT  
    4M*UVdJ;  
     `LVItP(GUM  
    %L=ro qz  
    图层矩阵解算器 H\W60|z9  
    CA7tI >y_  
     U2$e?1y  
    $T8Ni!#/C  
    I5wf|wB-  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 A 7'dD$9  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 cT`x,2  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ]t\fw'  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 e57}.pF^  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     *Tl"~)'t~  
    \vT0\1:|i  
    更多的信息： /~{8/u3  
    b&"=W9(V  
    总结-组件 n9<QSX&~<  
    1RY}mq  
    1 ?]Gl+}  
     Q6Vy}  
    R{NmWj['Mg  
    两条光谱线的可视化 4};iL)  
    {oy(08 `6  
     F6dm_Oq&  
    精细vs.涂层反射率 w1KLQd:yq  
    :iD( [V  
    :aV(i.LW  
    W( E!:  
    精细度vs.涂层反射率 mhH[jO)  
    #*BcO-N  
    W @Y$!V<  
    内部谐振增强     ;26a8g(  
    -\b~R7VQ  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ?5K.#>{  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 dB ?+-aE  
    x|<rt96 6A  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ld -c?  
    B=%cXW,  
    VirtualLab Fusion技术 ^:5 ;H=.  
    pa N )t  
     A-aukJg9  
     
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