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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 0~XZ  
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    HTCn=MZm ?  
    -i?-Xj#%  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 3+jqf@fO  
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    建模任务
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    h|1 /Q (  
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    具有高反射(HR)涂层的标准具 D@>^_cTO24  
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    DrB PC@^  
    图层矩阵解算器 WY%'ps _]<  
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    M1T)e9k=x  
    Hh8)d/D  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 r6`v-TY(/  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 uN1O(s  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 v9OK <  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 .qCD(XZ+  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    %9A6c(L  
    50.cMms  
    更多的信息: .5zqpm  
    sc^TElic  
    总结-组件 i 7 f/r.  
    QuJ)WaJkC  
    F\Gi;6a  
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    b}9Ry"  
    两条光谱线的可视化 -Ug  
    @4D$Xl  
    O&?i8XsB  
    精细vs.涂层反射率 qqSf17sW  
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    N(W ;(7  
    8rXu^  
    精细度vs.涂层反射率 @<tkwu  
    Nj_h+=UE!  
    z17x%jXy  
    内部谐振增强
    >?q()>l  
    dhW)<  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 .R` {.~_{!  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 /,z4tf  
    ^6 F-H(  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 `2y2Bk  
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    VirtualLab Fusion技术 MkG3TODfHB  
    PG8|w[V1"  
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