-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-12-04
- 在线时间1893小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 *b> ~L
( `T:b1
 BsxQW`>^y $ } ~:x_[ Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 s{gdTG6v`
Up8#Nz
T
建模任务 +YP,LDJ!v }v`5
MgA6 /k
具有高反射(HR)涂层的标准具 O<fbO 7.-
d aaurT
 O4 [[9
y6$5meh.T
图层矩阵解算器 [N{Rd[{QTL
}E*#VA0/nY
 Z x3m$.8
pm^[ve
J PmW0wM
分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 HuG|BjP
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 )wm XicURC
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 x#U?~6.6
本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ]GRPx h
这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 k{uc%6s kZfO`BVL 更多的信息： $6R<)]6 +[:}<^p?cG 总结-组件 / ,wG$b+
xCGvLvFn
 e:&5Cvx
 p^NYJV Wo\NX05-? 两条光谱线的可视化 iYR8sg[' # bq]af.o*
 ^,@Rd\q 精细vs.涂层反射率 7h, SX]4Q
a>6!?:Rj
 BoXQBcG]w
!'MZeiL P
精细度vs.涂层反射率 a,!c6'QE
[26"?};"%
 y~jTI[kS
内部谐振增强 c)+IX;q-C PO1sVP.S 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 t \S}eoc 请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Y ~xcJH
 u<:R Sg
注意: 传输值取自艾里图案的中心 u9_ Fjm}&
NbSkauF~b
VirtualLab Fusion技术 t /1KKEZM
?tSFM: 9PU
 4 cl}ouG
|
