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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 1)Z4 (_  
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                               %1h%#/#[  
    "!,)Pv  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 a!guZUg6  
    \ ]v>#VXr_  
    建模任务     [+;>u|  
    djmd @{Djt  
    E/OfkL*\  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 W<Ri(g-  
    r?7tI0  
     _O#R,Y2#  
    uidoz f2}  
    图层矩阵解算器 wjy<{I  
    vb.}SG>  
     gUGMoXSTI|  
    ,)?!p_*@:  
     \uG^w(*)  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 SR>(GQ,m0;  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 *{x8@|K8  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 e5 N$+P"  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 sU7fVke1   
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     q8 SHFKE  
    5D+rR<pD}"  
    更多的信息： BK]5g[   
    #n_t5 O[  
    总结-组件 aE(DNeG-H  
    {&TP&_|H  
    t9~Y ?  
     ?+_Y!*J2b  
    I+eKuWB  
    两条光谱线的可视化 !,<rW<&;  
    &0x;60b  
     4OOI$J$Jh  
    精细vs.涂层反射率 zD@RW<M  
    `g vd 8^  
    0d/ f4  
    AGhr(\j  
    精细度vs.涂层反射率 JuDadIrd{  
    eNDc220b  
    K?@x'q1  
    内部谐振增强     w!r.MWE  
    ~P fk   
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ^XT;n  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 yk0^m/=C(  
    K!a7Hg  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 `3^%ft~l  
    /"@k_[O  
    VirtualLab Fusion技术 a|-B#S  
    .R^q$U~v3  
     efK WR  
     
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