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摘要 ?Z @FxW BoB2q(
d 7A08l{ 4C(v BKl Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 =2#a@D6Bl QD LXfl/ 建模任务 M/5e4b @18"o"c7j
?)#dP8n 具有高反射(HR)涂层的标准具 P>=~\v nN# [L1pDICoy
9?r|Y@xh ] w,NK]<dU@ 图层矩阵解算器 wTFM:N e-4XNL[F
yhe$A<Rl= xm>RLx}9 XG"&\FL{T 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 pez^]I 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 =:aH2T* 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 9`\hG%F 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 >_U)=q 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 h0NM5 ?7@Y=7BS4 更多的信息: XM3N>OR. B^Q\l!r 总结-组件 P}o:WI4.cB CjM+%l0MW
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@FL?,_,Y{ 22|eiW/a 两条光谱线的可视化 v?rjQ'OP 9|dgmEd
~oI7TP 精细vs.涂层反射率 @`aR*B ^~0Mw;n&
z8M^TV >2`)S{pBD 精细度vs.涂层反射率 S#qd#Zk|Y xA]CtB*o7
Qvs}{h/ 内部谐振增强 cD^n}'ej >`p`^: 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 !o 2"th 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 y]9
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F"j0;}+N 注意: 传输值取自艾里图案的中心 s
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