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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ?Z@FxW  
    BoB2q(  
                          
    d7A08l{  
    4C(vBKl  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 =2#a@D6Bl  
    QD LXfl/  
    建模任务
     M/5e4b  
    @18"o"c7j  
    ?)#dP8n  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 P>=~\v nN#  
    [L1pDICoy  
    9?r|Y@xh]  
    w,NK]<dU@  
    图层矩阵解算器 wTFM:N  
    e-4XNL[F  
    yhe$A<Rl=  
    xm>RLx}9  
    XG"&\FL{T  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 p ez^]I  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 =:a H2T*  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 9`\hG%F  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 > _U)=q  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    h0NM5   
    ?7@Y=7BS4  
    更多的信息: XM3N>OR.  
    B^Q\l!r  
    总结-组件 P}o:WI4.cB  
    CjM+%l0MW  
    PIo/|1  
    @FL?,_,Y{  
    22|eiW/a  
    两条光谱线的可视化 v?rjQ'OP  
    9|dgmEd  
    ~oI7TP  
    精细vs.涂层反射率 @`aR*B  
    ^~0Mw;n&  
    z 8M^TV  
    >2`)S{pBD  
    精细度vs.涂层反射率 S#qd#Zk|Y  
    xA]CtB*o7  
    Qvs}{h/  
    内部谐振增强
    cD^n}'ej  
    >`p`^:  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 !o 2" th  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 y]9 3z!#Z  
    F"j0;}+N  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 s S8Z5k;  
    e0"R7a  
    VirtualLab Fusion技术 bC?uy o"  
    7f#[+i  
    _*6nTSL  
     
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