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摘要 Kejp7okb
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of659~EIW [0qe ?aI Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 @>cz$##` gF#HNv 建模任务 %68'+qz C.].HQ
T\?$7$/V 具有高反射(HR)涂层的标准具 z{`K_s%5 w;W# 'pE
N?`V;`[ 1-0tG+ 图层矩阵解算器 !K*(# [ ``4e&
y)vK=," 0Un?[O `%; Hj _X} 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 B>.x@(}V~ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 0v+-yEkw 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 N,W ?} 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 UE8j8U'L 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 R!f<6l8#W YLJ^R$pi 更多的信息: `>)[UG!:| mC2K &'[ 总结-组件 }D># AFs6# qYoB;gp
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Yw] 7@ !7Eodq-0 两条光谱线的可视化 0FSN IPx 6_,JW{#"
v5>A1\ 精细vs.涂层反射率 <Pzy'9 TZ *>MySiF
])}a^]0q mG"xo^1_H 精细度vs.涂层反射率 cbN;Kv?ak} X NgcBSD
+F-EgF+J 内部谐振增强 !O,Sq/=. K!]a+M]> 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 _f'v>"K 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ? D
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G4uG" 注意: 传输值取自艾里图案的中心 NV7k@7_{B oNZ_7tU VirtualLab Fusion技术 c/Xg ARCO ;$WHTO(
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