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摘要 rBa <s ;H/*%2 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 yZ)GP!cM4c ,Y=r]
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?~uTbNR }legh:/*?O 建模任务 o)Kx:l +f % @3AA< ~ ?m'; 概述 %/b?T]{ [5,aBf)X •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ]24aK_Uu •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 GLQ1rT su/l'p'
I0P)DR %s P C3L 光线追迹仿真 87c7p=/0` YpoO: •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 6 /gh_'& •单击go! SY>i@s+ML •获得了3D光线追迹结果。 .pNWpWL. 5s_7P"&H
m619bzFlB ^;@q^b)ZP 光线追迹仿真 t%ye: ~Wjm"|c •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 @'j=oTT •单击go! PN[
`p1F •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 I>o+INb: \{@s@VBx[
(xpj?zlmM 6js94ko[ 场追迹仿真 ]3wg-p+ mv|eEz)r •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Wz}RJC7p •单击go! $D
+6=m[ N ncur] l-xKfp` 7YsBwo 场追迹仿真(相机探测器) *gfx'$ <DP_`[+C •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 kmPK |R •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 >B/ jTn5= }UJS*mR
}NW^?37 \.y|=Ql_u 场追迹仿真(电磁场探测器) 2%U)y;$m2 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 )QEvV:\ *#-X0}'s uN20sD} WL$Ee= 场追迹仿真(电磁场探测器) < gB>j\: 2.CjjI •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 S453oG" SO%x=W
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