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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 07-24
    摘要 8.`5"9Vh  
    ]tK<[8Y  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 w~9Y=|YI7  
    G8W^XD  
    Z79Y$d>G<E  
    A sf]sU..  
    建模任务 ap|V}j C  
    ;x{J45^  
    jvE&%|Ngw  
    概述 .a]av   
    8`b_,(\N  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ;ahI}}  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 $>l65)(E\  
    HFj@NRE6  
    &ujq6~#  
    60 p*4>^v  
    光线追迹仿真 Q@l.p-:^U  
    LCpS}L;  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 XlxB%  
    •单击go! @F5QgO J&r  
    •获得了3D光线追迹结果。 c$%I^f}'  
    2 mvp|< "  
    H]f8W]"c[  
    v.H@Ey2  
    光线追迹仿真 'F8:|g  
    xb(y15R\I  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 V@ph.)z  
    •单击go! oJ}$ /_  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 /{X2:g{  
    QW@`4W0F  
    q&k?$rn  
    ?m.Ry  
    场追迹仿真 ,#=;V"~9  
    -f[95Z3}  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ^5gB?V,  
    •单击go! Nj4^G ~_  
    p8u -3  
    :,dO7dJi  
    ]u O|YLWp  
    场追迹仿真(相机探测器) F1zsGlObu}  
    _Nq7_iT0  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 <Okl.Iz>  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Wp$'#HhB  
    *[['X%f  
    RV+0C&0ff  
    [mI;>q  
    场追迹仿真(电磁场探测器) {f)"F;]V  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Y]t)k9|vv  
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    Gl>_C@n0h  
    场追迹仿真(电磁场探测器) m:XMF)tW  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Wd_KZ}lX  
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