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摘要 8.`5"9Vh ]tK<[8Y 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 w~9Y=|YI7 G8W^XD Z79Y$d>G<E A sf]sU.. 建模任务 ap|V}jC ;x{J45^
jvE&%|Ngw 概述 .a]av 8`b_,(\ N •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ;ahI}} •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 $>l65)(E\ HFj@NRE6 &ujq6~# 60p*4>^v 光线追迹仿真 Q@l.p-:^U LCpS}L; •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 XlxB% •单击go! @F5QgO J&r •获得了3D光线追迹结果。 c$%I^f}' 2mvp|<" H]f8W]"c[ v.H@Ey2 光线追迹仿真 'F8:|g xb(y15R\I •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 V@ph.)z •单击go! oJ}$ /_ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 /{X2:g { QW@`4W0F q&k?$rn ? m.Ry 场追迹仿真 ,#=;V"~9 -f[95Z3} •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ^5gB?V, •单击go! Nj4^G ~_ p8u-3 :,dO7dJi ]u O|YLWp 场追迹仿真(相机探测器) F1zsGlObu} _Nq7_iT0 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 <Okl.Iz> •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Wp$'#HhB *[['X%f RV+0C&0ff [mI;>q 场追迹仿真(电磁场探测器) {f)"F;]V •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Y]t)k9|vv 'd
6z^Z6 y{\K:
Gl>_C@n0h 场追迹仿真(电磁场探测器) m:XMF)tW |b:91l •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Wd_KZ}lX zz+[]G+"2m $T80vEi+u
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