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摘要 #vIF]Y N!,@}s 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 aK,G6y kQYX[e7n
:#+VH_%N GU_R6Wt+ 建模任务 N5g!,3 HQ]g{JVld\ l2$6ojpo 概述 rtOXK4)]I kMUjSa~\ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ?-6oh~W< •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 HogT#BMs kMK-E<g
/S]<MS <zrGPwk 光线追迹仿真 3C5<MxtK
@dw0oRF •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 6VIi
nuOW •单击go! 40mgB4I •获得了3D光线追迹结果。 @'dtlY5; 6tj+
yw2sK7 _},u[+ 光线追迹仿真 % gmf SxH b76 ; •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 OTSbhI'v •单击go! H:2#/1Oz> •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 y 1z4qSeM ]Z6==+mCP
<w<&,xM kbiMqiPG 场追迹仿真 jgbE@IA@!' ~:v" TuuK •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 3y<;fdS7 •单击go! "/g/Lc i#=s_v8 ?o?~Df& 9F@ Q 场追迹仿真(相机探测器) yMB*/vs L^!E4[ ^4 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 -ich N/U]s •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 C/U^8,6\n >+LFu?y
9Eu.Y
4At{(fwW 场追迹仿真(电磁场探测器) OLg=kF[[ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 #+>8gq^5 +a0q?$\ /p}^Tpu rI23e[ 场追迹仿真(电磁场探测器) PS7ta?V
QC W^v3pH-y# •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 L/t'|<m E>NRC\^@
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