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摘要 \OVtvJV] -C
q; 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 \6SjJ]o> s/IsrcfM
PmE)FthdP( :LNE?@ 建模任务 hOAZvrfQ4
< v] 70c]|5 概述 L/tn;0 Gm Wr •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 v{a%TA9- •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 B{j><uxl mfQ#n!{ZH
c("|xe (4R(5t 光线追迹仿真 fx_#3=bXi 3 2\.-v •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 >J:=)1` •单击go! 2P"9m •获得了3D光线追迹结果。 g;63$_< @=VxWU
o?Hfxp0} ;3cbXc@] 光线追迹仿真 DYr#?} 40 !lgL=Ys( •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 \tI%[g1M •单击go! K4!-%d$ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 U8Y%rFh1 luf5-XT
46 A sD R#d~a;j 场追迹仿真
l!|c_ `uMEK>b •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 X=$Jp. •单击go! .c"nDCFVR }]vUr}Els 6^"QABc 2nB99L{6 场追迹仿真(相机探测器) {q0+PzgP !uEEuD# •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 SN{+ P k •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 `$6o*g>: 5.~Je6K U
V*4Z.3/E5 cJ96{+ 场追迹仿真(电磁场探测器) v03cQw\"WE •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Ap
dXsL x4'@U< q9/v\~m ff#7}9_mh 场追迹仿真(电磁场探测器) ]<f)Rf">:` ANhtz1Fl •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .{1$;K @ ]ZY2\'
2zBk#c+
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