-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-06
- 在线时间1927小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 AtCT d0I s|Gs 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Ex
p?x o1(;"5MM
&]n }fq Y%"$v0D 建模任务 St%x\[D (?1$ iLSUz j` 概述 K.}jOm (rBsh6@) •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ~3:hed7: •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 u$%C`v> u$a K19K/
iptA#<Yj X.4WVI 光线追迹仿真 .2JZ7 jD S\ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 9/0H,qZc •单击go! x/<]/D •获得了3D光线追迹结果。 ]C,j80+pK 9abUh3
ZSQiQ2\) yg}O9!M J 光线追迹仿真 |9S8sfw " C0[JdZ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 fW2NYQP$: •单击go! h8UhrD<: •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 #h=V@Dh U!|)M
PxrT@.T$ )4uWB2ZRoi 场追迹仿真 lF(v<drkB qA7,txQ: •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 aYa`ex •单击go! #(614-r/ GqCBD-@4v. Zt9G[[] K@1gK<,a 场追迹仿真(相机探测器) ENhLonMeV =_k •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 -M=BD-_.h •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 akbB=:M,x Fc`IRPW<
RM_%u=jC >WLX5i& 场追迹仿真(电磁场探测器) Xf&YcHo •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 N/0aO^"V .c]>*/(+ Wd;t(5Xl 1<m`38' 场追迹仿真(电磁场探测器) s&nat4{B tdRvg7v,N% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Q|o$^D, ^O7sQ7V"f=
OlyW/hd
|