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摘要 )oEHE7 y In[!g 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 hJkP_(+J\ H$M#+EfL
[?dsS$Y3 29W~<E8K- 建模任务 QYm]&;EI
/(iq^ hKG)*
Q 概述 Ukf4Q\@w b7thu5 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 \`FpBE_e) •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 !$q *~F"S `R9}.?7
)SX2%&N f
WUFCbSU 光线追迹仿真 ;9WS#>o Thlqe? •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ;x]CaG)f •单击go! GmjTxNU@ •获得了3D光线追迹结果。 ?h7,q*rxk nfL-E:n=
E46+B2_~zk RM5$O+" 光线追迹仿真 J)*7JX 4#dS.UfI •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 O]|T ! •单击go! /Dmuvb|A •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 l r16*2. _LYI#D
/t4#-vz nm8XHk] 场追迹仿真 xcVF0%wVC V2v}F= •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 pGwBhZnb> •单击go! w&b?ze{ %^zGM^PD `vMrlKq
4s <|8 场追迹仿真(相机探测器) D|8Pe{` NFAjh?# •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ZQ MK1 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 y)Y0SY1\j l-~
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a7Xa3 vlpO Ub"6OT1tl 场追迹仿真(电磁场探测器) x/)o'#d$|l •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 _e9S"`` !_a@autj dPVl\<L1 Xy[*)< 场追迹仿真(电磁场探测器) [f8mh88r 3-%F)@n •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 +|iJQF <$:Hf@tpMo
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