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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-07-24
    摘要 Y^ ,G} &p  
    ( z.\,M  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 n^rzl6dy  
    xx,|n  
    1$uO%  
    P L*kjrLu7  
    建模任务 1Gk'f?dw  
    .p\<niu7  
    AO0aOX8_+D  
    概述 ;3N>m| ?D=  
    wTVd){q`.  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 .4,l0Nn`W  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 gOn^}%4.I  
    ~`VD}{[,B  
    )}T0SGY  
    CGCSfoS9f  
    光线追迹仿真 W$u/tRF  
    QCvst*  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 P\.1w>X  
    •单击go! EN~ha:9  
    •获得了3D光线追迹结果。 _,E! <  
    bOdyrynh  
    RhumNP<M  
    RQd5Q.  
    光线追迹仿真 <@H=XEn  
    \ dZD2e4  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 2]-xmS>|b  
    •单击go! _iW-i  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 GZNfx8zsY+  
    ^+Stvj:N  
    HiDL:14  
    iCZ1ARi  
    场追迹仿真 1$rrfg  
    F7qQrE5bl  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 %z AN@  
    •单击go! /mFa*~dj2  
    /N\[ C"8  
    |>AHc_:$$  
    #kL4Rm;  
    场追迹仿真(相机探测器) u7ER  
     9/R<,  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 7%Ii:5Bp  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 YNWAef4  
    9_\1cSk'  
    ttC+`0+H  
    =;@?bTmqD  
    场追迹仿真(电磁场探测器) RF.8zea{O`  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 7Ys\=W1  
    b>"=kN/  
    \H$j["3  
    CGN:=D<  
    场追迹仿真(电磁场探测器) fW.)!EPO  
    $Xr9<)?,  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 LzJNQd'  
    >6zXr.  
    }@S''AA\  
     
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