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摘要 od@!WjcM[8 <}mA>c'k 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 3]\'Q} sj+ )
3]NKAPY :3se/4y} 建模任务 6QHUBm2 Dir# [j lh\`9F: 概述 "SKv'*\b 17:7w •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ee<'j~{A •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 O|v8.3[cT t|&hXh{
,S}wOjb@ # b3 14 光线追迹仿真 svCm}` \*fXPJ4 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 }PMlG •单击go! fTy{`}> •获得了3D光线追迹结果。
8`<3rj 3;//o<
UOe@R|79q m9 'bDyyK 光线追迹仿真 3! KyO)8 HT_nxe`E •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 I'J-)D` •单击go! |>JRJ"CFE •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 C]zG@O! vQ5rhRG)E
`'rvDaP -ADb5-px 场追迹仿真 !4"$O@U4 ?;rRR48T9E •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Mf9x=K9 •单击go! <?rdhx t4zKI~cO
Fp+fZU pW<l9W 场追迹仿真(相机探测器) 9KL)5_6 M 9*a"^ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 {ZUgyGE{ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 2N&S__ gp\o|igT
C9%A?'` PmUq~YZ7 场追迹仿真(电磁场探测器) ;3=RM\ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Z(ToemF)hi ocj^mxh=O Gbb*p+( 1:Raa 5 场追迹仿真(电磁场探测器) kc[<5^b5 .UUT@
w? •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 opReAU'I 69Q#UJ
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