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    [技术]全场光学相干扫描干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-07-22
    摘要 ^ X<ytOd5  
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    扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 hPUYq7B  
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    •使用导入的数据自定义表面轮廓 %C*h/AW)'  
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    •正确设置通道以进行非序列追迹 YCB=RT]&`  
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