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摘要 b910Z?B^L j<KC$[Kt 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 {
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$G_<YVXcG &wuV}S7 建模任务 )q^vitkjup VM,ZEt3Vy GWVdNYpmr 概述 UBVb#FNF ul?BKV+3E •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 qck/b •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 K7.<,E"M. PsgzDhRv
KR}0(,Y wuk7mIJ 光线追迹仿真 }j?S?= ;m= *X\c
$=* •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 5);#\&B •单击go! \zi3.;9|; •获得了3D光线追迹结果。 ;SW-dfo2i *lK4yI*%o
O0~d6Ba c-.>C) 光线追迹仿真 (M+<^3c s=TjM?) •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 a~*V •单击go! R`Lm"5w •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 JY2
F-0t) $3TTHS o
)sf~l6 0 MIMs# 场追迹仿真 JF*g!sV% F[EblJ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Oez}C,0 •单击go! hU
7fZl%yl Xa@wN/"F 7LwS =yP DANSexW 场追迹仿真(相机探测器) RfBb{?PP) YfwJBzD •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 rcZ SC3 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 M0SH-0T;Z X u):.0I
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@;fE%N 场追迹仿真(电磁场探测器) pRvs;klf •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 HY4E LUNs|\& R2aK5~ q|X4[E|{Q 场追迹仿真(电磁场探测器) qb4;l\SfT $Je"z]cy- •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &H&P)Px*_ 1=Zw=ufqV
i=UTc1
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