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摘要 {zb'Z Yz p1KhI;^ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 -8n1y[ fUjo',<s
#kC~qux^ arL>{mj 建模任务 =?OU^u`C 8Rj5~+5 bB_LL 概述 Z 8rD9
k$6 i6if\B •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 "h+Z[h6T •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 eI1zRoIl- ukR0E4p
+dCDk* /m 81Kf X {| 光线追迹仿真 6(8F4[D 0<m7:D
Gd •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ]\M{Abqd{ •单击go! _EMI%P&s •获得了3D光线追迹结果。 '##?PQ*u q }@L "a`
Z@Rm^g]o 5T;LWS 光线追迹仿真 {xTq5`&gT 0>|q[SC •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 c-$rB_t+ •单击go! =0cTct6\ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 *?m)VvR>| #kW=|8X
JG!B3^qB %ztZ#h~g 场追迹仿真 e/D{^*~S B[uyr)$ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 y<Koc>8 •单击go! #*.!J zOg xGsOnY; ^OV; P[ iE'_x$i 场追迹仿真(相机探测器) %p}vX9U') MJ:c";KCq0 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 hY4# 4A`I •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 3WwS+6R iV{_?f1jo
!BoGSI !4p{b f 场追迹仿真(电磁场探测器) ;?Pz0,{h •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9
/H~hEVK l+Wux$6U Gld~GyB\k JO|j?%6YY 场追迹仿真(电磁场探测器) {vD$od i e i=
4u' •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 FF8jW1 :BxO6@>Xc
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