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摘要 XV:icY xJF}6yPm@ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Z)RV6@( ^Mi&2AvS
aDVBi: _ y<*/\]t9L[ 建模任务 _U`1BmTC2 lb[\Lzdvmu !F~*Q2PZ9 概述 `T~~yM)q Nt
P=m
@ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 88 M$mjx •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 fv?vfI+m zua=E2
~t.M!vk <hM`]/J55 光线追迹仿真 $(ei<cAV 2JS&zF •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 )|CF)T- •单击go! R[_UbN 28 •获得了3D光线追迹结果。 Qlgii_?#@ n0<I
KL6FmL)HH 6[l{@*r" 光线追迹仿真 ={gf x; 8^ezqd` •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ?^z.WQ|f@ •单击go! 0N(o)WRv •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 [
#1<W`95 f*&4d
d1=fA%pJ A6#5 z 场追迹仿真 /R%
Xkb >V1v.JH •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 +ZK12D} •单击go! y o
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, pa)2TL/@ }4A $j{\ 场追迹仿真(相机探测器) hxQx$ uF89B-t •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 0k\BE\PQk •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 [c_o.`S_\ zv}3Sl@
c. ;}e:)s krI@N}OU 场追迹仿真(电磁场探测器) DcL;7 IT •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 i{+W62k* PH]/*LEj s}5,<|DL ZN `D!e6 场追迹仿真(电磁场探测器) gJUawK X zF-g*e •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 -0o1iU7 rE[:j2HF
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