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摘要 k^vmRe<lk plz=G}Y 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Z)Xq!]~/g 9Rt(G_'
}!J/ 9WKgU % 'L= 建模任务 .bY1N5=sz _#\5]D~""
ZeDDH 概述 U%SNROj ~jrU#<'G9 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 _tg3%X] •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 "p_[A 5Dh&ez`oR'
qkyX*_} 7zOvoQ} 光线追迹仿真
fjeE. ROI$;B( •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 u{y5'cJ{ •单击go! BfO}4 •获得了3D光线追迹结果。 &<;nl^ W0C$*oe!_i
&`9bGO h11bK'TIv 光线追迹仿真 =K&q;;h j(2tbWg9- •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 /(}l[jf •单击go! jind!@}! •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 e1Z;\U$&. _d"Y6
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q?b)zeJ %>QSeX 场追迹仿真 r|sy_Sk/{ J5r
L7 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 boHm1hPKS •单击go! _M[[o5{ m]b.P,~v m~\m"zJ4 WW
Kr & ) 场追迹仿真(相机探测器) P|QnZ){ RI].LB_ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ]{ l
O •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 X$Qi[=L <GU(/S!}
=dJEcC_J 'Y/V9;`)s 场追迹仿真(电磁场探测器) c[eGpZ] •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 vmQ
DcCw Vf* B1Zb |x~ei_x7.p {s^n|b} 场追迹仿真(电磁场探测器) G;.u>92r| XcW3IO •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ' [M2Q"X @ F"ShT0
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