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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-14
    摘要 {zb'Z Yz  
    p1KhI;^  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 -8n1y[  
    fUjo',<s  
    #kC~qux^  
    arL>{mj  
    建模任务 =?OU^ u`C  
    8 Rj5~+5  
    bB_LL  
    概述 Z 8rD9 k$6  
    i6if\B  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 "h+Z[h6T  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 eI1zRoIl-  
    ukR0E4p  
    +dCDk* /m  
    8 1Kf X {|  
    光线追迹仿真 6(8 F4[D  
    0<m7:D Gd  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ]\M{Abqd{  
    •单击go! _EMI%P& s  
    •获得了3D光线追迹结果。 ' ##?PQ*u  
    q}@L"a`  
    Z@Rm^g]o  
    5T;LWS  
    光线追迹仿真 {xTq5`&gT  
    0>|q[SC  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 c-$rB_t+  
    •单击go! =0cTct6\  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 *?m)VvR>|  
    #kW=|8X  
    JG!B3^qB  
    %ztZ#h~g  
    场追迹仿真 e/D{^*~S  
    B[uyr)$  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。  y<Koc>8  
    •单击go! #*.!J zOg  
    xG sOnY;  
    ^OV; P[  
    iE'_x$i  
    场追迹仿真(相机探测器) %p}vX9U')  
    MJ:c";KCq0  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 hY4#4A`I  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 3WwS+6R  
    iV{_?f1jo  
    !BoGSI  
    !4p{ b f  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ;?Pz0,{h  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9 /H~hEVK  
    l+Wux$6U  
    Gld~GyB\k  
    JO|j?%6YY  
    场追迹仿真(电磁场探测器) {vD$odi  
    ei= 4u'  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 FF8jW1  
    :BxO6@>Xc  
    ;u2[Ww~k  
     
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