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摘要 'ySljo*It LY-lTr@A^
高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 >[ ug
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N%9h~G z,{e]MB)M 建模任务 #(%t*"IY; ~{L.f94N yjEI/9_ 概述 fokwW}>B[f K8?zgRG3~N •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 gbm0H-A:* •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
RT%x&j J&M1t#UN
fO].e"} T8n-u b< 光线追迹仿真 1~%o}+#- GR,J0LT •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ' _B_&is •单击go! 31~hlp; •获得了3D光线追迹结果。 tbq|," 6Wj@r!u
9Z&?R++? YgCc|W3{ 光线追迹仿真 Hu[]h] *^'wFbaBO •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 v btAq^1 •单击go! HOE2*4r •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 jOs
H2^ U,e'ZRU6
Bwjg#1 E tG/aH% 4S 场追迹仿真 D%-{q>F!gf TfJL+a0 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 J"-_{)0lD •单击go! ITONpg[f yI8 SQ$w0y K<FKu $= }mKwFVZ 场追迹仿真(相机探测器) HOfF"QAR$ &.zj5*J •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 @rF/]UJ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Y)|~:& tZ @%c81rv?
!2z!8kI u+i (";\ 场追迹仿真(电磁场探测器) !#?8BwnaZ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 YgEM:'1f hyfR9~ vv &BhIf3 E/ijvuO 场追迹仿真(电磁场探测器) y_*n9
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