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摘要 LG@c)H74 U37?P7i's 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 8|-mzb& ";Ig%]
Qpv}N*v^ @01D1A 建模任务 []N$;~R7 `@.s!L(V V8U`%/`N 概述 ;R|#ae@ ~
GT\RAj[ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 !9<RWNKV)Y •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Gv+Tg/ vyx\N{
QB|fFj58u NUNn[c 光线追迹仿真 J)yy}[Fx r5qx! > •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 {LJ6't 8y: •单击go! SnF[mN' •获得了3D光线追迹结果。 674oL, s$\8)V52
UV8r&O e}4^N1'd/ 光线追迹仿真
0S5C7df ut5!2t$c •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 K,,@', •单击go! ^Er`{|o6u •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 A%w]~ chC9 lnC Wu@{
F)iGD~ rn5g+%jX* 场追迹仿真 ~$ qJw?r
N[bf.5T •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 HXV73rDA •单击go! "oXAIfU#T H|:)K^o NlEWm8u j}.J$RtW1f 场追迹仿真(相机探测器) <W%Z_d&Xv -GWzMBS S •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 @N_H]6z4 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 sPTUGx' ?_j6})2zY
z*~PYAt g2>u]3&W 场追迹仿真(电磁场探测器) $H@)hY8wA •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 H_=[~mJ 0t[mhmSU, M-K@n$k 3N*C] 场追迹仿真(电磁场探测器) [,$mpJCI fQ_8{=<-&X •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 GhQ`{iJM *`pBQZn05O
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