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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-14
    摘要 b910Z?B^L  
    j<KC$[Kt  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 { &'TA  
    :mrGB3x{  
    $G_<YVXcG  
    &wuV}S 7  
    建模任务 )q^vitkjup  
    VM,ZEt3Vy  
    GWVdNYpmr  
    概述 UBVb#FNF  
    ul?BKV+3E  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 qck/b  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 K7.<,E"M.  
    PsgzDhRv  
    KR}0(,Y  
    wuk7mIJ  
    光线追迹仿真 }j?S?=;m=  
    *X\c $ =*  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 5);#\&B  
    •单击go! \zi3.;9|;  
    •获得了3D光线追迹结果。 ;SW-dfo2i  
    *lK4yI*%o  
    O0~d6Ba   
    c-.>C)  
    光线追迹仿真 (M+<^3c  
    s=TjM?)  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 a~* V  
    •单击go! R`Lm"5w  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 JY2 F-0t)  
    $3TTHS o  
    )sf~l6  
    0 MIMs#  
    场追迹仿真 JF*g!sV%  
    F[ EblJ  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Oez}C,0  
    •单击go! hU 7fZl%yl  
    Xa@wN/"F  
    7LwS =yP  
    DANSexW  
    场追迹仿真(相机探测器) RfBb{?PP)  
    YfwJBz D  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 rcZ SC3  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 M0SH-0T;Z  
    X u):.0I  
    4Aew )   
    @;fE%N  
    场追迹仿真(电磁场探测器) pRvs;klf  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 HY4E  
    LUNs|\&  
    R2aK5~   
    q|X4[E|{Q  
    场追迹仿真(电磁场探测器) qb4;l\SfT  
    $Je"z]cy-  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &H&P)Px*_  
    1=Zw=ufqV  
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