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摘要 6,UW5389 1;N5@0%p 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 MWron_xg zY&/^^y
Oa/# 2C~ GYK&QYi, 建模任务 SK G!DKQ SdQ"S-H ,f?+QV\T. 概述 LyA}Nd]pyq i*ErxWzu •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 =& =#G3f •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 wwD?i.3 X4Y!Z/b
TuX9:Q {m7>9{` 光线追迹仿真 we;QrS(Hi !,zRg5Wp4 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 -TU^* •单击go! ?kKr/f4N •获得了3D光线追迹结果。 z*B-`i. K \_JG$(9
(nLT8{>0 uKE?VNC] 光线追迹仿真 =UMqa;\K # 8fq6z|JZ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 WXX)_L$2 •单击go! sbV
{RSl •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 }SZU'lYHoM |;k@Zlvc
7ajkp+E6 ;j^C35 场追迹仿真 %1^E;n Hm*?<o9mxC •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 1<TB{}b
Z •单击go! I`
+%ab UG:S! w' m6
@,J?X !H/5Ud9 场追迹仿真(相机探测器) +(l(|lQy$ AIX?840V •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 GB\1' •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 wseb]=U a15kFun
1K&l}/zUl T\b-<Xle 场追迹仿真(电磁场探测器) .qGfLvx% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 h}knn3"S (+lCh7. LOX} 3;Ztm$8 场追迹仿真(电磁场探测器) C^8n;i9 vS'l@`Eg] •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 j8#xNA ZtPnHs.x
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