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摘要 p<#aXs jy Lo#G. s| 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 v9Sk\9}S t[|t0y8
o3GkTn O O9/)_:Wdh 建模任务 #;W4$q v'b%m8 G
&NK 概述 \w>Rmf'| Ui" {0% •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 79@CO6 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 S50}]5K
9+PAyI#w
V,0$mBYa kGo2R]Dd[ 光线追迹仿真 wytMoG\ /4 OmnE; •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 C;K+ITlJ •单击go! sxph#E% •获得了3D光线追迹结果。 KK2YT/K$SG -]Su+/3(,
VPuR4p. REE.8_ 光线追迹仿真 <tZZ]Y] p9u*l •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ?[m1? •单击go! , QWus"5H •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 6kLy!QS *fIn<Cc
4g8o~JI:v b @0=&4 场追迹仿真 &]RE 5! *jWh4F, •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 e98QT9 •单击go! UH}lKc=t =xRD
%Z CJ%'VijhD 0F%8d@Y2 场追迹仿真(相机探测器) ~ZSX84~@u 1/w8'Kf'u •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 M9BEG6E9 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 OG?7(
UJ w9VwZow
^Cp2#d* 0#eb] c 场追迹仿真(电磁场探测器) jS[=Zx` •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 d;0]xG?%= .Y]0gi8z tzGQo5\ KB|mtsi 场追迹仿真(电磁场探测器) c1s& -V}xvSVg •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 dhLR#m30T uGb+ *tD
nb=mY&q}~
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