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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-14
    摘要 (a.1M8v+Sg  
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 jl}$HEI5m}  
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    建模任务 ]^ K;goQv  
    y+U83a[L*  
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    概述 PKf:O  
    40#9]=;}  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 |QMA@Mx  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 l Y'N4x7n  
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    XErUS80  
    ;YyXT"6/p  
    光线追迹仿真 #BY`h~&T  
    m\vmY  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ?6P.b6m}0  
    •单击go! ONX8}Ob~  
    •获得了3D光线追迹结果。 *Zbuq8>  
    WVX`<  
    U)D[]BVg  
    *:hy Y!x  
    光线追迹仿真 "A3dvr  
    H&4~Uo.5  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 B4g8 ~f  
    •单击go! [}2Z/   
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 TDNf)Mm  
    #E$X ,[ZFo  
    ]@ M5_%p  
    6f)2F< 7  
    场追迹仿真 @T:fa J5\'  
    aeP[+I9  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 9&Ne+MY^%  
    •单击go! SO{p;g  
    Bv9kSu9'~  
    '#\1uXM1U?  
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    场追迹仿真(相机探测器) E D"!n-Hq  
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    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 'Ot,H_pE  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 6'C2SihYp  
    h|;qG)f^  
    K#mOSY;}  
    8g~EL{'  
    场追迹仿真(电磁场探测器) E JK0  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Pbu{'y3J  
    Sq2P-y!w  
    FjFMR 63  
    )R2XU  
    场追迹仿真(电磁场探测器) X~9j$3lUBR  
    Pm{*.AW1  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 y 9l*m~  
    4QHS{tj  
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