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摘要 s^obJl3 8R&z3k;!t 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 l(.7t' E8+8{
#f; fO0-N>W'P TjT](?'o 建模任务 #T
Z!#,q ST#PMb'izn ,I("x2 概述 ws#hhW3qK 7eTA`@v5A •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 gq=0L: •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 9]"\"ka3> )0'Y et} }'%$7vL`Ft {|G&W^` 光线追迹仿真 :m)c[q8 X5|?/aR} •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 K,Lr+ •单击go! R%Kl&c •获得了3D光线追迹结果。 5/*)+ [''=>< GcPB'`!M ~_(!}V 光线追迹仿真 :Xb*m85y rHH#@Zx •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 3L%Y"4(mm •单击go! V=:,]fTr •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 =B 1`R%t 1OuSH+ 44z=m MR< \xy:6gd: 场追迹仿真 FuIWiO( Z`e$~n(Bh •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 E>o&GYc •单击go! t201ud2$ ,"4X&>_f [RroHXdk+ =f/avGX 场追迹仿真(相机探测器) 1Al=v jJiCF,m •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 <h)deB+} •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 D7 8)4>X (\5<GCW- F o--PtY`p 2n<qAl$t 场追迹仿真(电磁场探测器) FZ;YvdX6 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &e5^v K*hf(w9="% N9~'P-V P#M<CG9 场追迹仿真(电磁场探测器) ,i1 fv
" c~Q`{2%+ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 >EPaZp6 Cf8R2(-4 $\=6."R5<
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