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摘要 ORlz1&hW GEfX,9LF & 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 g"]%5Ow1 YFOK%7K
N!m-gymmF eSoOJ[&$ 建模任务 j#y_# >[,Rt"[V 2fTkHBhn& 概述 z~+_sTu UZMo(rG.]{ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 EaFd1 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 6'395x_.\ -vwkvNn8
+jO1?:Lr ?/)Mt(p 光线追迹仿真 O[y.3>l[s )mxY]W+ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 W&}YMb •单击go! i68'|4o •获得了3D光线追迹结果。 IV_uf qfvd(w
%m!o#y(hD` )<9g+^ 光线追迹仿真 >>Hsx2M 9c8zH{T_{ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 =#n05*^ •单击go! uNl<=1 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 8^&)A b f!e8xDfA
&1893#V )QaI{ z 场追迹仿真 UF=5k~7<b I(P|`" •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 's@v'u3 •单击go! HD ?z R}Uvi9? NwD*EuPF : Hx2UDHF 场追迹仿真(相机探测器) j#Ly!%dp !Qjpj KRy •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 "v/^nH •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 +`u]LOAyP= X<K[`
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m LPQ5`_ wd~e3%JM 场追迹仿真(电磁场探测器) 2W|4 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ii2X7Q 9 }|Bs=q ?0hk~8c 7 ;|jq39 场追迹仿真(电磁场探测器) LpaY Md; *'`ByS •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 z
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