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摘要 R6M@pO _abVX#5< 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ~ 4&_$e! OB"QWdh
tKJ)'v? JG4&eK$- 建模任务 f0hi70\(X :ss9- m\~[^H~g 概述 "=
%-
=,?@p{g} •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 "#m*`n •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 3@}_ F<"* _wX'u,HrC
mKn[>M1 tL
IE^ 光线追迹仿真 Q!|71{5U RF6|zCWuI •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 oVsl,V •单击go! 95(VY)_6#A •获得了3D光线追迹结果。 &7<~Q\XZbI XRNL;X%}7
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!Ph1 ^Cak/5^K 光线追迹仿真 $MsM$]~ s%/0WW0y^ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 z&-`<uV~ •单击go! tdt6* •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 kW(8i}bg hA~}6Qn
v=W%|iZ .^v7LF]Q 场追迹仿真 PB9<jj; I~mw\K{.3M •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 %?
iE3j!q •单击go! :Z+(H +lyZ e%f8|3<6 km3-Hp1 xr?r3Y~^e 场追迹仿真(相机探测器) CiMN J =|G PSRQ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 }u|0 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 h
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x t-;7 4mPg; n 场追迹仿真(电磁场探测器) >MhkNy •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 koie ZERd#7@m+ Rn TPU` J}.p6E~j 场追迹仿真(电磁场探测器) Z2LG/R R2;-WxnN] •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 >
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