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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-14
    摘要 7t=e"|^  
    G{ ~pA4  
    高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 YzJ\< tkp  
    (yIl]ZN*  
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    (oO*|\9u  
    建模任务 ]vj=M-:+  
    H'|b$rP0@  
    :fz&)e9  
    概述 G,I[zhX\  
    ]o`qI#{R~R  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 zBD ?O!  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 &m2FEQLj  
    1CK}XLdr  
    EEFM1asJf  
    .|`J S?L[  
    光线追迹仿真 D{g6M>,\  
    ,{P*ZK3u  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 m?bd6'&FR  
    •单击go! I:l<t*  
    •获得了3D光线追迹结果。 WtOpxAq  
     *X- 6]C  
    l]D?S]{a  
    ?Iy$'am]L  
    光线追迹仿真 PhL}V|W>  
    'X&sH/>r  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 lj0"2@z3"E  
    •单击go! (PAkKY}  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 q8%T)$!  
    !wy Qk  
    ~Z-M?8:  
    7pH`"$  
    场追迹仿真 )jk X&7x  
    1Q1NircJ  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 u:#+R_0#97  
    •单击go! 6vp\~J  
    W FVx7  
    , 6 P:S7  
    :L gFd  
    场追迹仿真(相机探测器) .y'iF>QQ\  
    X+zFRL%  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 5|S|S))_Q  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 iq'hel  
    }= OI (Wy  
    BUT{}2+K  
    mYLqT$t.+  
    场追迹仿真(电磁场探测器) W>3[+wB  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 d,kh6'g2@  
    e~]3/0  
    BoQLjS{kN  
    GPBp.$q+B  
    场追迹仿真(电磁场探测器) *Kj*|>)  
    OUCL tn\  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 _GEt:=DAP#  
    K=,nX7Z5  
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