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摘要 HskN(Ho L~~Yh{< 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 "dTXT iSHl_/I<
@Iu-F4YT _TF>c:m3 建模任务 _#B/#^a ak[)+_k_ EVsZ:Ra^k 概述 Ea?.HRxl EM}z-@A> •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 RUKSGj_NJ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 *_wBV
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566Qikw2 v'tk:Hm1 光线追迹仿真 M5uN1* IIkJ"Qg. •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 X Rn=;gK%J •单击go! ev $eM •获得了3D光线追迹结果。 Q
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8vK&d> PQ>JoRs 光线追迹仿真 -yeT $P&| T!bu}KO •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 jL SZ#H •单击go! _rd{cvdR •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 iY-dM(_:] ,H*3_c&Q
s? Kn,6Y P>|2~YxjU 场追迹仿真 9&cZIP \BL9}5y •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 <=Qk^Y2k •单击go! jxvVp*-=<j 5oS\uX| 'Nh^SbD+_| 32yNEP{ 场追迹仿真(相机探测器) "|if<hx+ KXJHb{? •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 kN)ev?pQ[ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 h.*|4; a0R]hENC
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U{EW +> 场追迹仿真(电磁场探测器) D6w0Y:A{. •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 `;;!>rm 9!LAAE` '' 6 J5k% 场追迹仿真(电磁场探测器) f@0`, &>o)7H]; •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Qxwe,: H|Ems}b
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