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摘要 7t= e"|^ G{
~pA4 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 YzJ\< tkp (yIl]ZN*
RO"c+|Py (oO*|\9u 建模任务 ]v j=M-:+ H'|b$rP0@ :fz&)e9 概述 G,I[zhX\ ]o`qI#{R~R •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 zBD ?O! •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 &m2FEQLj 1CK}XLdr
EEFM1asJf .|`JS?L[ 光线追迹仿真 D{g6M>,\ ,{P*ZK3u •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 m?bd6'&FR •单击go! I:l<t* •获得了3D光线追迹结果。 WtOpxAq *X- 6]C
l]D?S]{a ?Iy$'am]L 光线追迹仿真 PhL }V|W> 'X&sH/>r •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 lj0"2@z3"E •单击go! (PAkKY} •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 q8%T)$! !wy
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~Z-M?8: 7pH`"$ 场追迹仿真 )jkX&7x 1Q1NircJ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 u:#+R_0#97 •单击go! 6vp\~J W FVx7 , 6 P:S7 :L gFd 场追迹仿真(相机探测器) .y'iF>QQ\ X+zFRL% •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 5|S|S))_Q •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 iq'hel }= OI (Wy
BUT{ }2+K mYLqT$t.+ 场追迹仿真(电磁场探测器) W>3[+wB •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 d,kh6'g2@ e~]3/ 0 BoQLjS{kN GPBp.$q+B 场追迹仿真(电磁场探测器) *Kj*| >) OUCLtn\ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 _GEt:=DAP# K=,nX7Z5
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