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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-14
    摘要 y!gM)9vq  
    Qs9U&*L  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 pV6HQ:y1  
    IxZ.2 67  
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    建模任务 &a_kJ)J  
    qb4;l\SfT  
    B)]{]z0+`  
    概述 A+*oT(`  
    \83A|+k  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 8 tygs  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 50ew/fZj|  
    r.b6E%D  
    "O[76}I+.q  
    <cv1$ x ~P  
    光线追迹仿真 J md ?  
    .crM!{<Y  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 4E-A@FR  
    •单击go! =>0M3 Qh{  
    •获得了3D光线追迹结果。 I'9s=~VfY,  
    4)HWPX  
    ;3|Lw<D5;  
    CQHp4_  
    光线追迹仿真 O^Vy"8Ji}y  
    rz }l<t~H  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 4 l}M i  
    •单击go! N>fYH.c3Y  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 yVI;s|jG  
    X$ B]P 7G7  
    C cr+SR2  
    p/1}>F|i  
    场追迹仿真  g1wI/  
    iQ!  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 1O2h9I$bk  
    •单击go! 6IY}SI0N  
    Ui |a}`c  
    ; G59}d p~  
    s`iNbW="  
    场追迹仿真(相机探测器) Sq|1f?_gU  
    {vT55i<mk  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 DV[ Jbl:)  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 gQh Ccv  
    2v9s@k/k)6  
    v^],loi<V  
    H'0*CiHes  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ]X: rby$  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 oiv2rOFu  
    4 ?@uF[  
    S`c]Fc  
    ?gR\A8:8  
    场追迹仿真(电磁场探测器) n E,gQHw  
    @CaD8%j{  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 C*s0r;  
    +:"6`um|  
    V1`5D7Z  
     
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