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摘要 (a.1M8v+Sg !>n|c$=;qk 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 jl}$HEI5m} P~RhUKfd
XP-C AW~"yI< 建模任务 ]^K;goQv y+U83a[L* 8>N wCjN 概述 PKf:O 40#9]=;} •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 |QMA@Mx •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 lY'N4x7n 8IGt4UF&?
XE rUS80 ;YyXT"6/p 光线追迹仿真 #BY`h~&T m\vmY •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ?6P.b6m}0 •单击go! ONX8}Ob~ •获得了3D光线追迹结果。 *Zbuq8> WVX`<
U)D[]BVg *:hyY!x 光线追迹仿真 "A3dvr H&4~Uo.5 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 B4g8
~f •单击go! [}2Z/
•结果得到点图(二维光线追迹结果)。 TDNf)Mm #E$X,[ZFo
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7 场追迹仿真 @T:faJ5\' aeP[+ I9 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 9&Ne+MY^% •单击go! SO{p ;g Bv9kSu9'~ '#\1uXM1U? 1S:|3W 场追迹仿真(相机探测器) E
D"!n-Hq _yH`t[ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 'Ot,H_pE •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 6'C2SihYp h|;qG)f^
K#mOSY;} 8g~EL{' 场追迹仿真(电磁场探测器) E JK0 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Pbu{'y3J Sq2P-y!w FjFMR
63 ) R2XU 场追迹仿真(电磁场探测器) X~9j$3lUBR Pm{*.AW1 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 y9l*m~ 4QHS{tj
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