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摘要 WvWZzlw 5
OF*PBZ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 hVu~[ 'Me ( ALsc@K
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6G>bZ+ 建模任务 S{qn^\0 f9J]-#I if k1M?6TW& 概述 [`=:uUf3 O]\eMM& •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Axx{G~n! [ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Zz56=ZX*_ jp+#N
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QlWkK.<Z3_ p0j-$*F 光线追迹仿真 5fud:k j0IuuJ+ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 {m5R=22^ •单击go! b;t b&o •获得了3D光线追迹结果。 ?1lx8+ )\,hc$<=m
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4F)i &6@e9ff0 光线追迹仿真 4L[-[{2 7\JA8mm •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 X>VxE/ •单击go! `jH 0FJQ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 wq`\p['Q, wvg>SfV,e
bL18G(5 J|[`8 *8 场追迹仿真 xm}`6B^f T|lyjX$Q]9 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 @)m+b; •单击go! /A/k13 J &\s>PvnquX {t&+abY 2[$` ]{U 场追迹仿真(相机探测器) MA5BTq<& ;/<J. •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 vxx7aPjC •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 >,%7bq=T! z3p#`
U0%m*i `(?x@Y>.Ht 场追迹仿真(电磁场探测器) t"Djh^=y •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .6#Y-iJqc "M5&&\uT s7TV@Y) LuIs4&[EW 场追迹仿真(电磁场探测器) `jB2' sy.U]QG •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ij~023$DTt #y%?A;
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