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摘要 R?Ys%~5 E9N.b.Q) 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 5f}GV0=n !'5t(Zw5
PSB@yV < [&MhAzF 建模任务 PrQs_tNi CqAv^n7 } h*lU&8)m\ 概述 QnMN8Q9 $`'%1;y@ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 p E56CM •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 sry`EkS hsJS(qEh.'
8|2I/#F}] (X|`|Y 光线追迹仿真 XEpwk,8*g \L]T|]}( •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 x6iT"\MO •单击go! R=m9[TgBm •获得了3D光线追迹结果。 Su>UXuNdE# d{FD.eI0
@\)a&p]a 6>e YG<y{ 光线追迹仿真 IzWS6!zKU m2r%m
y •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 >sZ207* •单击go! Xxmvg.Nl •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 W^T6^q5;H @'lO~i
IA(+}V ,]cb3nP 场追迹仿真 ptCAtEO72 ?S0gazZm •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 \EC7*a0 •单击go! a";xG,U 'i7!"Y6> M].D27 EwuBL6kN 场追迹仿真(相机探测器) V+MhS3VD QVJvuiUh •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Ng;Fhv+ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 1v"r8=Wt 4K<T_B/
L\/YS;Y P%^\<#Ya7 场追迹仿真(电磁场探测器) w@Gk# •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 (U@uJ 63Dm{
2i}F bR&<vrMmrA "~=\AB=+Z 场追迹仿真(电磁场探测器) ]>'yt #] *Jm U",X •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 EC0M0qQ v>]^wH>/"
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