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摘要 +O
P8U]~ bmN'{09@ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 e"HA.t[A
;w";s$
m~"<k d EGWm0 F_ 建模任务 !-1UJqO 5X>b(` o/273I 概述 t|q@~B
: 71`)@y,Z, •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 4'JuK{/ A7 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 P)x&9OHV -Z)j"J
4PG]L`J{ GZ.Xx 光线追迹仿真 A?[06R5E# "H I&dC •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ^hPREbD+f •单击go! n$B SO •获得了3D光线追迹结果。 aOZSX3;wg %5<uQc9
nojJGeW% -0[?6.(s" 光线追迹仿真 G3O`r8oZcJ R7%'
vZk •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 `)e5pK •单击go! Ce 3{KGBw •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 feg f5p>oXo4b
:^~I@)"ov n/$1&x1 场追迹仿真 qRk&b F/ =.197)e •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 nn'a`N •单击go! NN(ZH73 dO/iL7K& ^Pqj*k+F z0=(l?)# 场追迹仿真(相机探测器) N]gJ(g 5[<"_ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 y(gL.08< •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 N<&"_jzm tf?syk+jB7
f;os\8JdM {C+blzh6 场追迹仿真(电磁场探测器) HLMcOuj •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Cq mtO?vne (C{l4 kw,eTB<;R
S0-f_,( 场追迹仿真(电磁场探测器) OR84/^> ) -yJKmV •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 @\{L%y%a0 Da.eVU;
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