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摘要 WQ}wQ:] 0-[naGz 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 cS'{h Fuzb4Df
haY]gmC /y$ Fw9R; 建模任务 ``P9fd s[sv4hq h=0a9vIXF 概述 x1?mE)n] w|6/ i/X •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 hPUAm6b; •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ,:e~aG,B swxX3GR
:dh; @kp SDC'S]{ew 光线追迹仿真 ol*,&C:{ mEbI\!}H0 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Eamt_/LKf •单击go! Z[OX{_2]K •获得了3D光线追迹结果。 .}/8] W2#<]]-
F_(~b rHTZM,zM=H 光线追迹仿真 6e rYjq cZQ8[I •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 5E-;4o;RI( •单击go! X!qK[b@Z •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Sz@z
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!9WGZfK+0Y **L&I5Hhm 场追迹仿真 |y[I!JdR F5qA!jZ1] •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 P*A+k"DU1 •单击go! -dixiJ= fwv^dEe \^*:1=|7u] &J&'J~N 场追迹仿真(相机探测器) *:@KpYWx" o 2Nu@^+ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 :31_WJ^ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 "t&=~eOe3 G;}WZy
!:!(=(4$P W|m(Jh[w] 场追迹仿真(电磁场探测器) Ku l<Q< •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 D{6y^@/ Q-'j131[
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