切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 466阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6243
    光币
    25360
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-10
    摘要 S . 1~#  
    6rPe\'n=B  
    /G</ [N5  
    UWmWouA  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 .dl1sv U  
    fr:RiOPn  
    建模任务 9 ?h)U|J?G  
    ?p6+?\H  
    +#n[55d  
    w^P4_Yr  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 PcJ,Y\"[  
    C8aYg  
    >\KBXS}  
    fMhMB |W.  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 J]Uki*s  
    [x,_0-_  
    7GE.>h5  
    [@.%6aD  
     
    分享到