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摘要 qrsPY d CLg; y]xG@;4M k-@CcrepF 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 &B1d+.+ ,a9<\bd) 建模任务 o$FqMRep
,Drd s"H 9[N+x2q a;|C51GH 由于组件倾斜引起的干涉条纹 12M&qqV E)DdiB'Rh ?g+0S@{i $ f^@`[MJj1C 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 O,>1GKw"\ I2hX;pk, (Hb
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