-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-09-29
- 在线时间1866小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 S .1~# 6rPe\'n=B
/G</ [ N5 UWmWouA 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 .dl1sv
U fr:RiOPn 建模任务 9 ?h)U|J?G ?p6+?\H
+#n[55d w^P4_Yr[T 由于组件倾斜引起的干涉条纹 PcJ,Y\"[ C8aYg
> \KBXS} fMhMB |W. 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 J]Uki*s [x,_0-_
7GE.>h5 [@.%6aD
|