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摘要 K<ft2anY5 OJ5#4qJ[
Q&=w_Wc _Wq 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 p=GBUII # UK O[r; 建模任务 92x(u%~E a>]uU*Xm
s ;oQS5Y fS [,vPl 由于组件倾斜引起的干涉条纹 $oU*9}}Rn nv%rJy*w[
EwC{R` ,3p~w5C/+[ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 (#Gw1 IsM}'.
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