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摘要 *pC-`k 8kc'|F\
kt3#_d^El v8k^=A: 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ^oB1 &G x0;}b-f 建模任务 :lQjy@J FuiW\=^
%y7wF'_Y f$W}d0(F; 由于组件倾斜引起的干涉条纹 5)v^
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WblV`"~e %dU'$) 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 KC-aLq/
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