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摘要 B;xZ%M] _7Xd|\Zc 1YJ_1VJ ZhhI@_sz 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Z{Vxr*9oO 8O~0RYk 建模任务 SQh+5 N7e`6d! bH'S.RWp= ,9=gVW{ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ;M}itM 7V~
"x&Eu fA"<MslKLK 7n\ ThfH{ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ~'NX~<m 1S+;ZMk }czsa_ 5JS ZLC
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