-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-04-23
- 在线时间1766小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 =&}@GsXdo )9]a
(Xd8'-G$m 2c `m= 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 _f1o!4ocx 2}hJe+#v 建模任务 M3(N!xT hyI7X7Hy
sg2;"E@ \T7Mt|f:5 由于组件倾斜引起的干涉条纹 hbw(o
=+zDE0Qs
4&iQo' 5'AP:3Gf" 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 iQ'*QbP'Z Ez3fL&*
cS ~OxAS :Sq]|)
|