[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

摘要 !J7`frv"(  
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 ;b{#$#`=  
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建模任务 >-MnB  
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概述 RCR= W6  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 6^b)Q(Edut  
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Uc tlE>X`  
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光线追迹仿真 8oX1 F(R  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 b9j}QK  
•单击go！ ]Fy'M  
•获得了3D光线追迹结果。 (kxS0 ]=  
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光线追迹仿真 0>|q[SC  
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 y[ dBmTY  
•单击go！ ^Hn}\5  
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 +M=h+3hw](  
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场追迹仿真 |Rfj 0+  
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 >eGg 1  
•单击go！ |xB`cSu(  
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场追迹仿真（相机探测器） e4YfJd  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 31G:[;g  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 $wM..ee  
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场追迹仿真（电磁场探测器） L0![SE>  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q-z1ElrN7u  
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场追迹仿真（电磁场探测器） ,kJ'_mq  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 I=L["]  
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