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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-04-11
    摘要 6dIPgie3w  
    I@cw=_EQL  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 PXMd=,}  
    =0g!Q   
    g-sNYd%?a  
    t`Z'TqP R  
    建模任务 H0afu)$,  
    ="voJgvw  
    ,eyh%k*hz  
    概述 F06o-xH=  
    v76Gwu$ d  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 _re# b?  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 +F8{4^w1  
    |(>`qL{|  
    BPO5=]W 7  
    Tx;a2:6\[  
    光线追迹仿真 b)d;eS  
    fN&\8SPE  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 &u>dKf)5  
    •单击go! PILpWhjL$9  
    •获得了3D光线追迹结果。 :V'99Esv`  
    "2cOSPpQL  
    Ul}RT xJ  
    1rm\u%  
    光线追迹仿真 Q@W/~~N  
    2RkW/) A9  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 &i5@4,p y9  
    •单击go! f{P1.?a  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ZxF`i>/h  
    !Km[Qw k-  
    io4<HN  
    k1wIb']m]z  
    场追迹仿真 l_h:S`z.  
    7}kJp%-  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 hq=;ZI  
    •单击go! :21d  
    Vu$m1,/  
    .?:*0  
    cb}zCl j o  
    场追迹仿真(相机探测器) 5CY%h  
    ok:uTeJI  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 4IeCb?  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 E8PDIjp  
    xo[o^go  
    xKUL}>8  
    mLhM_=  
    场追迹仿真(电磁场探测器) K[z)ts-  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 PgkU~68`  
    Nfa&r  
    M"3"6U/e  
    jK w 96  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 8 lggGt  
    (/]'e}  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 o"VKAP  
    *#=Ijr~  
     
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