[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

摘要 r@j$$Pk`  
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 *C>B-j$  
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建模任务 Cq-d,  
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概述 X^pxu6nm-  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 / /ty]j  
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Lbo8>L(  
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光线追迹仿真 _'g'M=E  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 _3G;-iNX;  
•单击go！ ( Lp~:p  
•获得了3D光线追迹结果。 E="FE.%A  
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光线追迹仿真 N{lj"C]L  
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 b?h
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•单击go！ ?zypF 5a  
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 NS^(5g  
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场追迹仿真 J2c.J/o  
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 "X\|!Mxh  
•单击go！ =U:9A=uEvS  
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场追迹仿真（相机探测器） Cfizh@<  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 D)yCuw{M:  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 P>*g'OK^!G  
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场追迹仿真（电磁场探测器） {I/|7b>@r  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 HwE1cOT  
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场追迹仿真（电磁场探测器） {l/]+8G^  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 $On  
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