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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-04-11
    摘要 S f6%A  
    4I9Yr  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ?_r{G7|D  
    7yjun|Lt}X  
    KWM.e1(  
    UC j:]!P  
    建模任务 m6'9Id-:L  
    CM7NdK?I  
     OO</d:  
    概述 {-Gh 62hDg  
    _ gGA/   
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 hAt4+O&P  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ' 6)Yf}I  
    my/KsB  
    i'.D=o  
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    光线追迹仿真 9GsG*$-I  
    >I-rsw2  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 <Mu T7x-  
    •单击go! KyQTrl.qdl  
    •获得了3D光线追迹结果。 i6$HwRZm#  
    *3]2vq  
    0$0 215  
    {{B'65Wu  
    光线追迹仿真 :iGK9I  
    VLVDi>0i  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 2.N)N%@  
    •单击go! zg'.fUZ  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 !D?(}nag  
    "?kDR1=7A  
    w~&#:F?  
    a5aHv/W#P  
    场追迹仿真 +SE\c  
    7yXJ\(6R_  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 >&ZlC E  
    •单击go! [qxU \OSC  
    n).*=YLN  
    ~]].i~EV(  
    s:iBl/N}  
    场追迹仿真(相机探测器) u+ hRaI;v  
    cNN0-<#c  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 d`C$vj  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 h?$J;xn  
    `(gQw~|z  
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    Jw#7b[a  
    场追迹仿真(电磁场探测器) bBV03_*  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 J}+N\V~  
    "q1S.3V;  
    Om;aE1sW  
    UbGnU_}  
    场追迹仿真(电磁场探测器) N-t"CBTO  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 [La}h2gz  
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