摘要
S f6%A 4I9Yr 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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KWM.e1( UCj:]!P 建模任务
m6'9Id-:L CM7NdK?I
OO</d: 概述
{-Gh 62hDg _ gGA/ •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
hAt4+O&P •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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i'.D=o yo8mfH_, 光线追迹仿真
9GsG* $-I >I-rsw2 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
<Mu T7x- •单击go!
KyQTrl.qdl •获得了3D光线追迹结果。
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215 {{B'65Wu 光线追迹仿真
:iGK9I VLVDi>0i •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
2.N)N%@ •单击go!
zg'.f UZ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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w~:F? a5aHv/W#P 场追迹仿真
+SE \c 7yXJ\(6R_ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
>&ZlCE •单击go!
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~]].i~EV( s: iBl/N} 场追迹仿真(相机探测器)
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hRaI;v cNN0-<#c •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
d`C$vj •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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U|{ 4=[ Jw#7b[a 场追迹仿真(电磁场探测器)
bBV03_* •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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