摘要
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 o,i_py
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建模任务 H:G``Vq;0m
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概述 MV5$e
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 =v3o)lU
•接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 T!x/^
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光线追迹仿真 7{r7
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 3Dr\ O_`u
•单击go! #'/rFT4{v
•获得了3D光线追迹结果。 zTue(Kr
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光线追迹仿真 ~=yU%5 s@
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•然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 &&;.7E
•单击go! @.L#u#
•结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ^qL<=UC.
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场追迹仿真 OI Fjc0
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•切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 "C}<umJ'
•单击go! 3X Y"s"
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场追迹仿真(相机探测器) h7eb/xEto
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 3_RdzW}f
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 h8WM4
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场追迹仿真(电磁场探测器) 8A0a/
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 E!X>C^
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场追迹仿真(电磁场探测器) 6# bTlmcg
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 A#`$#CO
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