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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-04-11
    摘要 b] 5dBZ(  
    XJ7B?Z g  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 o,i_py  
    Ku[q #_7  
    [G_ ;78  
    fzJiW@-T  
    建模任务 H:G``Vq;0m  
    1I2n dt  
    LQF;T7VKS)  
    概述 MV5$e  
    so` \e^d  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 =v3o)lU  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 T!x/^  
    z>!./z]p  
    [Q T ;~5  
    ( #dR\Di  
    光线追迹仿真 7{r7  
    >l0Qd1   
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 3Dr\ O_`u  
    •单击go! #'/rFT4{v  
    •获得了3D光线追迹结果。 zTue(Kr  
    Y~Uf2(7b5  
    |E6Thvl$  
    mU[\//  
    光线追迹仿真 ~=yU%5 s@  
    / :$WOQ  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 &&;.7E  
    •单击go! @.L#u#   
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ^qL<=UC.  
    <8(q.  
    X}GX6qAdt  
    4l0>['K&{  
    场追迹仿真 OIFjc0  
    xjp0w7L)J  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 "C}<umJ'  
    •单击go! 3XY"s"  
    1!zd#TX  
    U>n[R/~]  
    z&9ljQ iF  
    场追迹仿真(相机探测器) h7eb/xEto  
    `"~GqFwy~  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 3_RdzW}f  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 h8WM4 PK  
    uBG!R#T  
    [#!Y7Ede  
    b|V <Kp  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 8A0a/ 7Lj  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 E!X>C^  
    ?* +>T@MH  
    |zRrGQY m  
    Q)E3)),  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 6# bTlmcg  
    n:a~=^IV  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 A#`$#CO  
    Swf%WuDj  
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