[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

摘要 "]<w x_!+}  
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 FvAbh]/4  
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建模任务 Yfe'#MKfL  
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概述 Enu!u~1]F  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 %6N)G!P  
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 aU4R+.M7@  
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光线追迹仿真 6-tiRk~  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ;eP_;N5+J  
•单击go！ jmSt?M0.xV  
•获得了3D光线追迹结果。 !ZX&r{pJp  
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光线追迹仿真 zUJ
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 +)?,{eE|  
•单击go！ 'frWu6]< 4  
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 k&yQ98H$K"  
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场追迹仿真 ]9#CVv[rq  
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 U7jhV,gO4  
•单击go！  ccRlql(  
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场追迹仿真（相机探测器） ZTr:xX{R6  

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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 DE'Xq6#PK  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 h|K\z{ A  
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场追迹仿真（电磁场探测器） I; ^xAd3G  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 u$apH{  
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场追迹仿真（电磁场探测器） fDL3:%D
  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 jMTRcj];(  
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