[技术]Shack Hartmann传感器的模拟 [复制链接]

摘要 #NNj#  

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对于电磁场的全面表征，不仅是能量密度的信息，而且是相位的信息都具有关键价值。虽然在模拟中我们可以直接从数字数据中计算出这些信息，但在真实的实验室中，则需要更复杂的方法。测量这种信息的常见工具是Shack Hartmann传感器，它使用微透镜阵列（MLA），通过焦平面上相应光点的位移来重建一个入射场的波前。为了研究这类设备，我们演示了Shack Hartmann传感器的模拟，以不同的波前作为输入。 Rp A76ug  
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任务描述 nFW^^v<  
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a) 平面波 jM1_+Lm1  
- 波长640nm YS?P A#  
- 与原点的距离无限大 H#k"[eZ  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) *x`z5_yfO  
b) 倾斜的平面波 Zqd&EOm  
- 波长640nm J[YA1  
- 2.5°倾斜 Y+iC/pd  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) <?52Svi}}  
c) 弱球面波 t2p/NIn  
- 波长640nm ?Li^XONz  
- 与原点的距离为100毫米 ixBM>mRK  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) OnH>g"  
d) 强球面波 C-qsyJgZy  
- 波长640nm _XXK1H x  
- 与原点的距离为40毫米 9Q]v#&1  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) 8jqt=}b  
微透镜阵列 ,M7sOp6}  
- 材料：N-BK7 #1hT#YN  
- 凸面-凸面 10}oaL S  
- 曲率半径：5毫米 KwPJ0 ]('_  
- 200 μm × 200 μm 透镜尺寸（长方形） rZu_"bcJ  
- 5×5个微透镜 -c<<A.X  
探测器 MP[v 9m@  
- 输入场的波前 FtM7+>Do
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- 理想平面波聚焦面的电磁场的能量密度
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系统构件 - 组件 Lj*FKP\{  
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\q3H#1A  
微透镜阵列组件允许轻松定义任意形状的微透镜阵列。材料和尺寸通过 Solid选项卡定义，而微透镜的表面形状则使用堆栈概念进行配置，并可通过单独的Surface Add-Ons选项卡访问。 J}j
K_  
该组件可以通过整个结构或单个微透镜进行模拟。 H!F'I)1  
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系统构件 – 探测器 lx$Y-Tb^F  
zIF &ZYP  
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Camera Detector能够计算出系统中任何一点的电磁场的能量密度。Electromagnetic Field Detector计算出纯的、复值的场数据。如果用户希望看到这些信息，它还可以计算和提取所述场的波前。 a47Btd'm  
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总结 - 组件... MFW?m,It)  
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MF 5w.@62X  
仿真结果 FVY,CeA.  
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光线和场模拟的第一印象 {6 #3`  
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MLA前的波前 M|n)LyL  
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