[技术]Shack Hartmann传感器的模拟 [复制链接]

摘要 /S:w
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对于电磁场的全面表征，不仅是能量密度的信息，而且是相位的信息都具有关键价值。虽然在模拟中我们可以直接从数字数据中计算出这些信息，但在真实的实验室中，则需要更复杂的方法。测量这种信息的常见工具是Shack Hartmann传感器，它使用微透镜阵列（MLA），通过焦平面上相应光点的位移来重建一个入射场的波前。为了研究这类设备，我们演示了Shack Hartmann传感器的模拟，以不同的波前作为输入。 #4P8
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任务描述 {0is wq'J  
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a) 平面波 zKIGWH=qqm  
- 波长640nm F(Lb8\to\M  
- 与原点的距离无限大 WGH%92  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) K :1g"  
b) 倾斜的平面波 8[8|*8xqs  
- 波长640nm .)LZ`Ge3F  
- 2.5°倾斜 YV5Yx-+3w$  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) v6wRME;JA  
c) 弱球面波 J.1O/Pw!.a  
- 波长640nm
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- 与原点的距离为100毫米 89hF)80  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) EkN_8(w  
d) 强球面波 CQ@LmTW[  
- 波长640nm 2>F
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- 与原点的距离为40毫米 }5Yj  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) u@<Pu@?xm  
微透镜阵列 `TUZZz  
- 材料：N-BK7 ZU=,f'bU  
- 凸面-凸面 5\okU"{d7  
- 曲率半径：5毫米 b6 $,Xh  
- 200 μm × 200 μm 透镜尺寸（长方形） +"jl(5Q  
- 5×5个微透镜 ?nQ_w0j  
探测器 EJ1Bq>u7  
- 输入场的波前 a "R7JjH  
- 理想平面波聚焦面的电磁场的能量密度 eymi2-a<  
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系统构件 - 组件 ToV6l
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微透镜阵列组件允许轻松定义任意形状的微透镜阵列。材料和尺寸通过 Solid选项卡定义，而微透镜的表面形状则使用堆栈概念进行配置，并可通过单独的Surface Add-Ons选项卡访问。 lK0s=4c{  
该组件可以通过整个结构或单个微透镜进行模拟。 +a|"{  
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系统构件 – 探测器 KacR?Al  
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Camera Detector能够计算出系统中任何一点的电磁场的能量密度。Electromagnetic Field Detector计算出纯的、复值的场数据。如果用户希望看到这些信息，它还可以计算和提取所述场的波前。 k^z0Lo|)'  
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总结 - 组件... 2d-{Q8Pi  
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仿真结果 WZq,()h  
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光线和场模拟的第一印象 -LTKpN`[@  
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MLA前的波前 xOythvO  
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