-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-09-29
- 在线时间1866小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 Qa%SvA@R A&'%ou SAJ=)h~ T1&H! 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ~-%A@Lt ( -@> 建模任务 M[{:o/]< 3\G=J XEEbmIO*<9 v],DBw9 由于组件倾斜引起的干涉条纹 xW4+)F5P( e8 aV
qq[ '7R'fhiO/3 kDh(~nfj 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 h)vTu%J: ~B@o?8D]
|