[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

摘要 :<E\&6# oC  
>U')ICD~  

图片:1-2001131145515B.png

!EO 2  
AV["%$:  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Ty"=3AvRLV  
:N
w7!fd  
建模任务 Ix|^c268o<  
97SG;,6  

图片:1-20011311463NK.png

`v$Bib)  

b'yW+  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 v`u>;S_  
?anKSGfj  

图片:1-200113114J9335.png

?VT ]bxb  
e!*%U=[Q  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ffE>%M*  
s2\6\8Ipn  

图片:1-200113114Q3324.png