[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

摘要 C).+h7{nd  
mg< v9#  

图片:1-2001131145515B.png

},=ORIB B:  
z57q|  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 = Rn  
ol1J1Zg  
建模任务 >guX,hx^  
EK
Ac>g  

图片:1-20011311463NK.png

QFB2,k6jN  
>}bkX 6c5  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 B qo#cnlG  

aA -j  

图片:1-200113114J9335.png

"yK)9F[9Mo  
6P T)  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 %(S!/(LWW  
zjTCq; G  

图片:1-200113114Q3324.png