切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 501阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5786
    光币
    23082
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-10-30
    摘要 K"#np!Y)  
    #3\F<AJ<VB  
    e>z3 \4  
    /i"L@t)\t  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 8u!!a^F  
    &0*j nb  
    建模任务 bAGQ  
    ,eF}`  
    4}gqtw:  
    .@gv }`>  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 -[".km  
    %Z}A+Rv+*m  
    A +e ={-*  
    E[)`+:G]  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 q} U^H  
    BXnSkT7  
     
    分享到