切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 484阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-10-30
    摘要  5i|DJ6  
    v"3($?au0  
    DLBHZ?+!  
    _Cnl|'  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 kD.KZV  
    9Impp5`/B  
    建模任务 U\~9YX8  
    H)VzPe#{  
    wcW8"J'AH  
    <A+n[h  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 7ea<2va,  
    BK;Gh0mp  
    (]gd$BgD  
    %ok??_}$}q  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 !${7)=|=1  
    OJ!=xTU%h  
     
    分享到