-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-04-02
- 在线时间1761小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 5i|DJ6 v"3($?au0 DLBHZ?+! _C nl|' 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 kD.KZV 9Impp5`/B 建模任务 U\~9YX8 H)VzPe# { wcW8"J'AH <A+n[h 由于组件倾斜引起的干涉条纹 7ea<2va, BK;Gh0mp (]gd$BgD %ok??_}$}q 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 !${7 )=|=1 OJ!=xTU%h
|