线下课程培训FRED杂散光分析与控制设计

时间地点： i[{] LiP  
主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司；苏州黉论教育咨询有限公司 "5:f{GfO#v  
授课时间：2023年11月27（一）-29日（三）共3天 AM 9:00-PM 16:00 k{jw%a<Sc  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 c)MR+'d\WO  
课程讲师：讯技光电高级工程师 1:zu$|%7  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) i8_x1=A  
课程简介： jHH  
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统，具体突出红外热辐射和冷反射计算，在以往的方法中我们通过计算点列图来实现，但存在诸多的缺陷，如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点，我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 b',bi.FH  
课程大纲： vQmackY  
1. 杂散光介绍与术语 *g4Cy8$  
1.1 杂散光路径 ZT8Ji?_n  
1.2 关键面和照明面 1lyO
p   
1.3杂光内部和外部杂散光 { $/Fk6qr  
2. 基本辐射度量学-辐射 G.nftp(*}  
2.1 BSDF及其散射模型 nFnF_  
2.2 TIS总散射概念 1L8ULxi_?]  
2.3 PST(点源透射比) J xm9@,  
3. 杂散光分析中的光线追迹 m}[~A@qD  
jne9=Als5  
3.1 FRED软件光线追迹介绍 ]H#Rm#q  
3.2构建杂散光模型 |vN@2h(|"  
定义光学和机械几何 ](>7h_2B  
定义光学属性 `.(S#!gw  
3.3 光线追迹 C6U
Mc} 9h  
使用光线追迹来量化收敛速度 '0')6zW5s  
重点采样 }u_EXP8M  
反向光线追迹
w2N3+Tkg  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 ESxC{ "  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 B9IXa;  
使用GPU来进行追迹 8;g.3Qv  
RAM内存使用设置 7Sz'vyiz  
4.散射模型 zc/%1  
4.1来自表面粗糙的散射 r@[VY g~  
低频、中频、高频 GGc_9?h  
RMS粗糙度与BSDF的关系 M
IlCUk
 
由PSD推导BSDF E)Qh]:<2v  
拟合BSDF测量数据 b^,Mw8KsO  
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 =HV-8C]  
4.3 来自颗粒污染的散射 _lPl)8k  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） 2r}uE
\GN  
颗粒密度函数模型 .aismc`=  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收
?FV7|)f  
4.4 来自黑处理表面的散射 N _~KZQ11^  
4.5 孔径衍射 mE^tzyh  
杂散光程序中的孔径衍射 J4[x,(iq(  
衍射元件的衍射特性 Md>f  
案例：衍射杂散光分析 VyoE5o  
5. 大气湍流散射 foz5D9sQ  
6. 热辐射 ECS<l*i57&  
红外热辐射的杂散光分析 4/2RfDp  
冷反射仿真 F7Dc!JNa  
7. 鬼像反射 a\&(Ua  
鬼像反射 %kZ~xbY  
表面镀膜 rX!+@>4_L  
表面镀AR增透膜的仿真 =WmBpUh  
8. 光学设计中的杂散光控制 X(!AI|6Bt  
8.1使用视场光阑 lv00sa2z  
8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 QypiF*fSU  
8.3使用眩光光阑（Lyot stop） 3j+=3n,  
8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 <RoX|zJ
w  
8.5 使用滤光 O,=Q1*c,&  
9. 挡板和冷窗的设计 WAwfL?  
9.1主挡板和冷屏的设计 /m Q2;*|  
9.2 挡光环的设计 yL;o{ G  
槽型挡光环 YMj7  
挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 s3Krob`C5  
案例：望眼镜系统的挡板的优化 ;WvYzd9  
10. BSDF散射测量 T$n>7X-r